公开(公告)号：WO2006096210A2

公开(公告)日：2006-09-14

申请号：PCT/US2005/031351

申请日：2005-09-01

Applicant: BAYER HEALTHCARE LLC ,  ROMAN, Juan, F.

Inventor： ROMAN, Juan, F.

IPC: G01N21/47

CPC classification number: G01N21/4785 ,  G01N21/253 ,  G01N21/474 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/0222 ,  G01N2201/064

Abstract: A miniature readhead for a photometric diagnostic instrument includes a housing of hand-held form factor, configured for receiving reagent sample media therein. The sample media has a plurality of test areas configured to react with, and change color, according to an amount of an analyte in a sample. The holder is sized and shaped for forming an indexed fit with the sample media and includes an array of light sources coupled to the housing, each of the light sources configured to emit light onto a respective one of the test areas. An array of chambers respectively containing an array of light detectors, is configured to enable each of the light detectors to receive diffuse, non-specular reflections of the light from the test areas, while substantially preventing the light detectors from receiving specular reflections of the light.

Abstract translation: 用于光度测量诊断仪器的微型读取头包括手持外形尺寸的外壳，用于在其中接收试剂样品介质。 样品介质具有多个测试区域，其被配置为根据样品中分析物的量反应并改变颜色。 保持器的尺寸和形状用于与样品介质形成索引配合，并且包括耦合到壳体的光源阵列，每个光源被配置为将光发射到相应的一个测试区域上。 分别包含光检测器阵列的腔室阵列被配置为使得每个光检测器能够接收来自测试区域的光的漫反射，非镜面反射，同时基本上防止光检测器接收光的镜面反射 。

公开(公告)号：WO2006083180A1

公开(公告)日：2006-08-10

申请号：PCT/NZ2005/000027

申请日：2005-02-24

Applicant: SENSCIO LIMITED ,  SPARKS, Christopher, Bryn ,  KENNEDY, Geoffrey ,  CARPENTER, Brett, Robert

Inventor： SPARKS, Christopher, Bryn ,  KENNEDY, Geoffrey ,  CARPENTER, Brett, Robert

IPC: A61B5/02

CPC classification number: G01J1/08 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/1455 ,  G01J1/4204 ,  G01N21/55 ,  G01N2201/064

Abstract: A power reduction circuit for photo-optical physiological monitoring equipment adapted to measure a physiological property of a patient by illuminating a portion of the patient with one or more light sources producing a modified light signal which is detected by a photo-sensor, generating a raw output signal which includes an ambient light component, characterized in that the power reduction circuit includes: ii. An adding unit that produces a processed signal by adding the raw output signal to a second signal; ii a first signal buffer to store the processed signal; iii a processing unit; iv an isolating switch to control a feed back circuit; v an inverting amplifier, which amplifies and inverts a stored processed signal generating the second signal; such that the processed signal generated when the isolating switch is open, during the measurement of the desired physiological property, is effectively free of the ambient light component.

Abstract translation: 一种用于光学生理监测设备的功率降低电路，其适于通过用一个或多个光源照射患者的一部分来测量患者的生理特性，产生由光电传感器检测到的修改的光信号，产生原始 输出信号，其包括环境光分量，其特征在于，所述功率降低电路包括：ii。 一个加法单元，通过将原始输出信号加到第二信号中产生处理信号; ii第一信号缓冲器，用于存储经处理的信号; iii处理单元; iv是控制反馈回路的隔离开关; v反相放大器，其放大并反转产生第二信号的存储的处理信号; 使得当在期望的生理特性的测量期间隔离开关断开时产生的处理信号实际上没有环境光分量。

公开(公告)号：WO0072077A8

公开(公告)日：2001-02-08

申请号：PCT/EP0004492

申请日：2000-05-18

Applicant: ZEISS CARL JENA GMBH ,  SCHMIDT STEFAN

Inventor： SCHMIDT STEFAN

IPC: G01N21/64 ,  G01Q30/20 ,  G01Q60/18 ,  G01Q60/20 ,  G02B21/16

CPC classification number: G01N21/6456 ,  G01N21/6458 ,  G01N2201/064 ,  G01Q60/20 ,  G02B21/16

Abstract: The invention relates to an optical device for suppressing the stray light from a sample that is illuminated and detected by an objective. A blocking or reflecting-out means is provided in one part of the beam path in order to create an area of shade for the stray light in the image plane.

Abstract translation: 光学布置来抑制杂散光，其由透镜照射并检测由样品所来源，具有抑制或反射出的光束路径的一部分，其目的在图像平面中产生杂散光的阴影区域。

公开(公告)号：WO00072077A1

公开(公告)日：2000-11-30

申请号：PCT/EP2000/004492

申请日：2000-05-18

IPC: G01N21/64 ,  G01Q30/20 ,  G01Q60/18 ,  G01Q60/20 ,  G02B21/16

CPC classification number: G01N21/6456 ,  G01N21/6458 ,  G01N2201/064 ,  G01Q60/20 ,  G02B21/16

Abstract: The invention relates to an optical device for suppressing the stray light from a sample that is illuminated and detected by an objective. A blocking or reflecting-out means is provided in one part of the beam path in order to create an area of shade for the stray light in the image plane.

Abstract translation: 光学布置来抑制杂散光，其由透镜照射并检测由样品所来源，具有抑制或反射出的光束路径的一部分，其目的在图像平面中产生杂散光的阴影区域。

公开(公告)号：WO1993016372A1

公开(公告)日：1993-08-19

申请号：PCT/US1993001300

申请日：1993-02-12

Applicant: PRECISION DETECTORS, INC.

Inventor： PRECISION DETECTORS, INC. ,  FORD, Norman, C., Jr.

IPC: G01N21/49

CPC classification number: G01N21/49 ,  G01N21/53 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2021/0392 ,  G01N2021/4711 ,  G01N2021/4728 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/0642 ,  G01N30/74 ,  G01N21/05

Abstract: A molecular characterization detector (8) includes a scattering cell (10) containing a sample for molecular characterization, a light source (20) for directing a light beam through the cell (10) so that the light beam is scattered by the sample, optical elements (30, 32, 50, 52) for selecting from the scattered light a measurement beam (40) comprising light that is scattered by the sample from a predetermined portion of the cell (10) in a predetermined range of angles relative to the optical axis (22), and a detector (44) for detecting the measurement beam and providing an output electrical signal representative of the measurement beam. The detector (44) typically selects light scattered from a central portion of the scattering cell at angles in the range of 14° to 16°. A single spherical lens (18) is preferably utilized. As a result, interference from stray scattered light is minimized. A beam dump (24) attenuates the light beam after it passes through the scattering cell (10). Additional detectors (62, 70, 80) detect light scattered at 90° to the light beam. The outputs of the detectors (44, 62, 70, 80) are processed to provide molecular characterization of the sample.

公开(公告)号：TW201736824A

公开(公告)日：2017-10-16

申请号：TW106111363

申请日：2017-04-05

Applicant: 菲爾薇解析公司 ,  VIAVI SOLUTIONS INC.

Inventor： 瑞斯卡 可提斯R ,  HRUSKA, CURTIS R. ,  鄒 鵬 ,  ZOU, PENG ,  凱特其恩 班傑明F ,  CATCHING, BENJAMIN F. ,  韋恩 格特恩 馬克K ,  VON GUNTEN, MARC K. ,  史密斯 維特恩 ,  SMITH, VALTON

IPC: G01N21/25

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/06 ,  G01J3/42 ,  G01N21/01 ,  G01N21/05 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/0118 ,  G01N2021/8514 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/08 ,  G01N2201/0813 ,  G02B27/0994

Abstract: 一種光譜總成可包括一光譜儀。該光譜儀可包括一照明源以產生一光以照明一樣本。該光譜儀可包括一感測器，以基於由該樣本反射之光自照明該樣本之該光獲得一光譜量測。該光譜總成可包括一光管以傳送自該樣本反射之該光。該光管可包括一第一開口以收納該光譜儀。該光管可包括一第二開口以收納該樣本，使得當在該第二開口處收納該樣本時該樣本係由該光管及一基底表面圍封。該光管可與將該照明源及該感測器與該樣本對準相關聯。

Abstract in simplified Chinese: 一种光谱总成可包括一光谱仪。该光谱仪可包括一照明源以产生一光以照明一样本。该光谱仪可包括一传感器，以基于由该样本反射之光自照明该样本之该光获得一光谱量测。该光谱总成可包括一光管以发送自该样本反射之该光。该光管可包括一第一开口以收纳该光谱仪。该光管可包括一第二开口以收纳该样本，使得当在该第二开口处收纳该样本时该样本系由该光管及一基底表面围封。该光管可与将该照明源及该传感器与该样本对准相关联。

公开(公告)号：TW201544212A

公开(公告)日：2015-12-01

申请号：TW104110823

申请日：2015-04-02

Applicant: 萬達瑞股份有限公司 ,  FONDAREX S. A.

Inventor： 保加拿 康拉德 ,  BAUMGARTNER, KONRAD ,  于格南 維爾曼 伊夫 傑拉德 羅蘭 ,  HUGUENIN-VUILLEMIN, YVES GERARD LAURENT

IPC: B22D18/08 ,  B29C39/44 ,  G05D22/02

CPC classification number: G01N21/3554 ,  B22C9/067 ,  B22D17/145 ,  B22D17/2007 ,  B22D17/32 ,  B29C45/34 ,  B29C45/76 ,  B29C2945/7614 ,  B29C2945/76254 ,  G01N21/15 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/359 ,  G01N21/85 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/354 ,  G01N2021/8416 ,  G01N2021/8578 ,  G01N2201/024 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0622 ,  G01N2201/0626 ,  G01N2201/064

Abstract: 本發明係關於一種用於量測壓鑄模(24)中濕氣之裝置(1)及方法，其模穴(25)係經由一排氣管道(31)連接至一排氣裝置(28)。裝置(1)之模組總成可連接至排氣管道(31)，且包括一感測器總成(S)，藉其可量測自模穴(25)排放之氣體中濕氣。感測器總成(S)包括一發射器(7)，其發射電磁輻射，及一偵測器(14)，其偵測電磁輻射。基於在排氣動作期間獲致之量測數值，可判斷噴射入模穴(25)中之一水/脫模劑混合物總量是否需在實際鑄造動作前修改。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系关于一种用于量测压铸模(24)中湿气之设备(1)及方法，其模穴(25)系经由一排气管道(31)连接至一排气设备(28)。设备(1)之模块总成可连接至排气管道(31)，且包括一传感器总成(S)，藉其可量测自模穴(25)排放之气体中湿气。传感器总成(S)包括一发射器(7)，其发射电磁辐射，及一侦测器(14)，其侦测电磁辐射。基于在排气动作期间获致之量测数值，可判断喷射入模穴(25)中之一水/脱模剂混合物总量是否需在实际铸造动作前修改。

公开(公告)号：TW200918805A

公开(公告)日：2009-05-01

申请号：TW097126693

申请日：2008-07-14

Applicant: 皇家飛利浦電子股份有限公司 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.

Inventor： 漢斯 黑爾莫特 貝屈特爾 BECHTEL, HANS-HELMUT ,  彼得J 史考密 SCHMIDT, PETER J.

IPC: F21S ,  F21V ,  F21Y

CPC classification number: G01N21/6452 ,  G01N2021/0339 ,  G01N2021/6491 ,  G01N2201/064

Abstract: 本發明係關於一種決定轉換元件之轉換功率之裝置、一種用於執行此等測量之方法,及一種應用該裝置及該方法生產具有基本上相同色點之pcLED之方法。該裝置包括一光源(5)、一樣本保持器(6)及一偵測器元件(7),其中該光源(5)以一一次光(41)照明該樣本保持器(6),該樣本保持器(6)對於一一次光(41)係至少局部透明、適合用以設置能夠將該一次光(41)部分地轉換成一二次光(42)之多個轉換元件(3),而且包括適合之預防構件(62、62a、62b、62c、62d、62e),用以預防從一已設置轉換元件(3)穿過該樣本保持器(6)至另一已設置轉換元件(3)之該二次光(42)的一光導,而且該偵測器元件(7)係適合用以分開地測量每一轉換元件(3)之一次及二次光(41、42)之强度。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系关于一种决定转换组件之转换功率之设备、一种用于运行此等测量之方法,及一种应用该设备及该方法生产具有基本上相同色点之pcLED之方法。该设备包括一光源(5)、一样本保持器(6)及一侦测器组件(7),其中该光源(5)以一一次光(41)照明该样本保持器(6),该样本保持器(6)对于一一次光(41)系至少局部透明、适合用以设置能够将该一次光(41)部分地转换成一二次光(42)之多个转换组件(3),而且包括适合之预防构件(62、62a、62b、62c、62d、62e),用以预防从一已设置转换组件(3)穿过该样本保持器(6)至另一已设置转换组件(3)之该二次光(42)的一光导,而且该侦测器组件(7)系适合用以分开地测量每一转换组件(3)之一次及二次光(41、42)之强度。

公开(公告)号：TW200508592A

公开(公告)日：2005-03-01

申请号：TW093104867

申请日：2004-02-26

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司 HAMAMATSU PHOTONICS K.K.

Inventor： 山內一德 YAMAUCHI, KAZUNORI

IPC: G01N

CPC classification number: G01N30/90 ,  G01N21/474 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/0813

Abstract: 測定頭41包含有第1、第2構件51、61以及筒狀構件71。第1構件51中係連續地形成有貫通第1構件51之第1～第5孔部52～56。第2構件61中係連續地形成有貫通第2構件61之第6～第8孔部62～64。第2構件62係內插於第5孔部56而被固定。半導體發光元件23係插入第6孔部62。筒狀構件71具有第1筒部分72和第2筒部分73，係內插於第4孔部55。透鏡27係由形成在第2孔部53與第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夾持固定。光束整形構件25係由形成在第4孔部55與第5孔部56的疆界部之段部和第2構件61所夾持固定。

Abstract in simplified Chinese: 测定头41包含有第1、第2构件51、61以及筒状构件71。第1构件51中系连续地形成有贯通第1构件51之第1～第5孔部52～56。第2构件61中系连续地形成有贯通第2构件61之第6～第8孔部62～64。第2构件62系内插于第5孔部56而被固定。半导体发光组件23系插入第6孔部62。筒状构件71具有第1筒部分72和第2筒部分73，系内插于第4孔部55。透镜27系由形成在第2孔部53与第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夹持固定。光束整形构件25系由形成在第4孔部55与第5孔部56的疆界部之段部和第2构件61所夹持固定。

公开(公告)号：TWI322263B

公开(公告)日：2010-03-21

申请号：TW093104867

申请日：2004-02-26

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司

Inventor： 山內一德

IPC: G01N

CPC classification number: G01N30/90 ,  G01N21/474 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/0813

Abstract: 測定頭41包含有第1、第2構件51、61以及筒狀構件71。第1構件51中係連續地形成有貫通第1構件51之第1~第5孔部52~56。第2構件61中係連續地形成有貫通第2構件61之第6~第8孔部62~64。第2構件62係內插於第5孔部56而被固定。半導體發光元件23係插入第6孔部62。筒狀構件71具有第1筒部分72和第2筒部分73,係內插於第4孔部55。透鏡27係由形成在第2孔部53與第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夾持固定。光束整形構件25係由形成在第4孔部55與第5孔部56的疆界部之段部和第2構件61所夾持固定。 A detection head 41 comprises of a first and second member 51, 61 and a tubby member 71. The first member 51 is penetrated by the first to fifth aperture portions 52 - 56 which are continuously formed in the first member 51. The second member 61 are penetrated the sixth to eighth aperture portions 62 - 64, which are continuously formed in the second member 61. The second member 62 is inserted into the fifth aperture 56 and fixed therein. Semiconductor luminance component 23 is inserted into the sixth aperture 62. The tubby member 71 has first tubby portion 72 and second tubby portion 73, and is inserted into the fourth aperture 55. Lens 27 is pinched by the section portion of the boundary portion between the second aperture portion 52 and the third aperture portion 54 and the first tubby portion 72. Light beam reshape member 25 is pinched by the section portion of the boundary portion between the fourth aperture portion 55 and the fifth aperture portion 56 and the second member 61. 【創作特點】 本發明係鑑於上述問題點而發展成功者，其第1目的在提供一種免疫層析試驗片之測定裝置，其可抑制雜散光之發生，且可提高顯色度之測定精度。
並且，本發明之第2目的在提供一種光源裝置，其可抑制雜散光之發生，且可照射鮮明的狹縫光。
為了達成上述目的，本發明之免疫層析試驗片的測定裝置，係具備有：將測定光照射到免疫層析試驗片上用的照射光學系統，及可檢出由於該測定光的照射、而從免疫層析試驗片上反射的反射光之檢出光學系統，其特徵為：照射光學系統具有：半導體發光元件，及將來自於半導體發光元件的光整形成具有沿著與形成於免疫層析試驗片上之顯色線為略平行之方向延伸之光束剖面的光之光束整形構件，及將來自於光束整形構件的光成像於免疫層析試驗片上用的透鏡，及配置於半導體發光元件與光束整形構件之間、而除去雜散光用之筒狀的第1遮光(baffle)部，及配置於光束整形構件與透鏡之間、而除去雜散光用之筒狀的第2遮光部，及配置於透鏡與免疫層析試驗片之間、而除去雜散光用之筒狀的第3遮光部。
在本發明之免疫層析試驗片的測定裝置中，在半導體發光元件與光束整形構件之間配置有第1遮光部，在光束整形構件與透鏡之間配置有第2遮光部，在透鏡與免疫層析試驗片之間配置有第3遮光部，因此由這些筒狀之各遮光部可抑制雜散光之發生。並且，利用透鏡可將來自光束整形構件的光成像於免疫層析試驗片上。因而，可抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入，使照射到免疫層析試驗片上的測定光變成鮮明，因此可使顯色度之測定精度大幅地提高。
並且，照射光學系統較佳為又在第1遮光部與光束整形構件之間配置有比第1遮光部更大直徑的筒狀空間部。在此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，照射光學系統較佳為又在光束整形構件與第2遮光部之間配置有比第2遮光部更大直徑的筒狀空間部。在此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，照射光學系統較佳為又在透鏡與第3遮光部之間配置有比第3遮光部更大直徑的筒狀空間部。此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，照射光學系統係裝設於光學頭上，該光學頭包含有：具有預定內徑而做為第3遮光部之功能的第1孔部、及具有比第1孔部更大的內徑之第2孔部、及具有比第2孔部更大的內徑且插入透鏡之第3孔部、及具有比第3孔部更大的內徑之第4孔部、及具有比第4孔部更大的內徑之第5孔部連續地形成之第1構件，及內插於第5孔部中，插入有半導體發光元件的第6孔部及具有預定內徑而做為第1遮光部之功能的第7孔部所連續地形成之第2構件，及內插於第4孔部中，一端側部分具有預定之內徑而做為第2遮光部之功能的筒狀構件，以形成於第2孔部及第3孔部之疆界部上的段部及筒狀構件而將透鏡固定，以形成於第4孔部及第5孔部之疆界部上的段部及第2構件而將光束整形構件固定較佳。在此情況下，可將照射光學系統(半導體發光元件、光束整形構件、透鏡、第1遮光部、第2遮光部、及第3遮光部)組裝到上述光學頭中而單元化，不僅可使構造簡單化，同時使半導體發光元件、光束整形構件及透鏡的組裝很容易。
並且，在第2構件中，較佳為具有比第7孔徑更大的內徑之第8孔徑在該第7孔徑上連續地形成。在此情況下，可將雜散光封閉在由第8孔徑所區劃的空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，筒狀構件較佳被設定為其另一端側部分的內徑比一端側部分的內徑更大。在此情況下，可將雜散光封閉在由筒狀構件中之另一端側部分所區劃的空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為在第1孔部、第7孔部、及筒狀構件中之一端側部分的內側中，形成有陰螺紋。在此情況下，以形成陰螺紋之極簡單的構成，即可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為更具備有：裝有照射光學系統及檢出光學系統之光學頭，及載置免疫層析試驗片用之載置板，及在橫切顯色線之掃瞄方向上、使載置板及光學頭做相對移動的掃瞄機構。在此情況下，在光學頭上裝有照射光學系統及檢出光學系統之時，構造變成簡單，並且光學頭在掃瞄方向上移動用之掃瞄機構僅須1個系統即可，因此掃瞄機構的構造或其控制系統的構成變成簡單。
並且，半導體發光元件較佳為發光二極體。在此情形下，可使光源的光強度提高。
並且，光束整形構件較佳為做成：形成有：與形成於免疫層析試驗片上之顯色線略平行的方向的方向上延伸之狹縫的板狀構件。在此情形下，可使光束整形構件的構造簡單化。
為了達成上述目的，本發明之光源裝置係將狹縫光照射到測定對象物上之光源裝置，其特徵為：具備有：半導體發光元件，及將來自半導體發光元件的光整形用的光束整形構件，及將來自光束整形構件的光成像於測定對象物上用的透鏡，及配置於半導體發光元件與光束整形構件之間、而除去雜散光用筒狀之第1遮光部，及配置於光束整形構件與透鏡之間、而除去雜散光用筒狀之第2遮光部，及配置於透鏡與測定對象物上之間、而除去雜散光用筒狀之第3遮光部。
本發明之光源裝置之中，在半導體發光元件與光束整形構件之間配置有第1遮光部，在光束整形構件與透鏡之間配置有第2遮光部，在透鏡與測定對象物之間配置有第3遮光部，因此由這些筒狀之各遮光部可抑制雜散光之發生。並且，利用透鏡可將來自光束整形構件的光成像於測定對象物上。因而，可抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入，使照射到測定對象物上的測定光變成鮮明。
較佳為又在第1遮光部與光束整形構件之間配置有比第1遮光部更大直徑的筒狀空間部。在此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為又在光束整形構件與第2遮光部之間配置有比第2遮光部更大直徑的筒狀空間部。此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為又在透鏡與第3遮光部之間配置有比第3遮光部更大直徑的筒狀空間部。此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入。
為了達成上述目的，本發明之免疫層析試驗片的測定裝置之特徵為：具備有：載置免疫層析試驗片的台，及將測定光朝向台照射之照射光學系統，及檢出從台側射入的光的檢出光學系統，照射光學系統及檢出光學系統對台以預定之掃瞄方向而做相對的移動，照射光學系統具備有：半導體發光元件，及將來自半導體發光元件的光整形成具有沿著與上述預定之方向延伸之光束剖面的光之用的光束整形構件，及將來自光束整形構件的光成像用的透鏡，及配置於半導體發光元件與光束整形構件之間、而除去雜散光用筒狀之第1遮光部，及配置於光束整形構件與透鏡之間、而除去雜散光用筒狀之第2遮光部，及配置於透鏡與台之間、而除去雜散光用筒狀之第3遮光部。
在本發明之免疫層析試驗片的測定裝置之中，可抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入，因此可使照射到免疫層析試驗片上的測定光變成鮮明，因此可使顯色度之測定精度大幅地提高。

Abstract in simplified Chinese: 测定头41包含有第1、第2构件51、61以及筒状构件71。第1构件51中系连续地形成有贯通第1构件51之第1~第5孔部52~56。第2构件61中系连续地形成有贯通第2构件61之第6~第8孔部62~64。第2构件62系内插于第5孔部56而被固定。半导体发光组件23系插入第6孔部62。筒状构件71具有第1筒部分72和第2筒部分73,系内插于第4孔部55。透镜27系由形成在第2孔部53与第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夹持固定。光束整形构件25系由形成在第4孔部55与第5孔部56的疆界部之段部和第2构件61所夹持固定。 A detection head 41 comprises of a first and second member 51, 61 and a tubby member 71. The first member 51 is penetrated by the first to fifth aperture portions 52 - 56 which are continuously formed in the first member 51. The second member 61 are penetrated the sixth to eighth aperture portions 62 - 64, which are continuously formed in the second member 61. The second member 62 is inserted into the fifth aperture 56 and fixed therein. Semiconductor luminance component 23 is inserted into the sixth aperture 62. The tubby member 71 has first tubby portion 72 and second tubby portion 73, and is inserted into the fourth aperture 55. Lens 27 is pinched by the section portion of the boundary portion between the second aperture portion 52 and the third aperture portion 54 and the first tubby portion 72. Light beam reshape member 25 is pinched by the section portion of the boundary portion between the fourth aperture portion 55 and the fifth aperture portion 56 and the second member 61. 【创作特点】 本发明系鉴于上述问题点而发展成功者，其第1目的在提供一种免疫层析试验片之测定设备，其可抑制杂散光之发生，且可提高显色度之测定精度。 并且，本发明之第2目的在提供一种光源设备，其可抑制杂散光之发生，且可照射鲜明的狭缝光。 为了达成上述目的，本发明之免疫层析试验片的测定设备，系具备有：将测定光照射到免疫层析试验片上用的照射光学系统，及可检出由于该测定光的照射、而从免疫层析试验片上反射的反射光之检出光学系统，其特征为：照射光学系统具有：半导体发光组件，及将来自于半导体发光组件的光整形成具有沿着与形成于免疫层析试验片上之显色线为略平行之方向延伸之光束剖面的光之光束整形构件，及将来自于光束整形构件的光成像于免疫层析试验片上用的透镜，及配置于半导体发光组件与光束整形构件之间、而除去杂散光用之筒状的第1遮光(baffle)部，及配置于光束整形构件与透镜之间、而除去杂散光用之筒状的第2遮光部，及配置于透镜与免疫层析试验片之间、而除去杂散光用之筒状的第3遮光部。 在本发明之免疫层析试验片的测定设备中，在半导体发光组件与光束整形构件之间配置有第1遮光部，在光束整形构件与透镜之间配置有第2遮光部，在透镜与免疫层析试验片之间配置有第3遮光部，因此由这些筒状之各遮光部可抑制杂散光之发生。并且，利用透镜可将来自光束整形构件的光成像于免疫层析试验片上。因而，可抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入，使照射到免疫层析试验片上的测定光变成鲜明，因此可使显色度之测定精度大幅地提高。 并且，照射光学系统较佳为又在第1遮光部与光束整形构件之间配置有比第1遮光部更大直径的筒状空间部。在此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，照射光学系统较佳为又在光束整形构件与第2遮光部之间配置有比第2遮光部更大直径的筒状空间部。在此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，照射光学系统较佳为又在透镜与第3遮光部之间配置有比第3遮光部更大直径的筒状空间部。此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，照射光学系统系装设于光学头上，该光学头包含有：具有预定内径而做为第3遮光部之功能的第1孔部、及具有比第1孔部更大的内径之第2孔部、及具有比第2孔部更大的内径且插入透镜之第3孔部、及具有比第3孔部更大的内径之第4孔部、及具有比第4孔部更大的内径之第5孔部连续地形成之第1构件，及内插于第5孔部中，插入有半导体发光组件的第6孔部及具有预定内径而做为第1遮光部之功能的第7孔部所连续地形成之第2构件，及内插于第4孔部中，一端侧部分具有预定之内径而做为第2遮光部之功能的筒状构件，以形成于第2孔部及第3孔部之疆界部上的段部及筒状构件而将透镜固定，以形成于第4孔部及第5孔部之疆界部上的段部及第2构件而将光束整形构件固定较佳。在此情况下，可将照射光学系统(半导体发光组件、光束整形构件、透镜、第1遮光部、第2遮光部、及第3遮光部)组装到上述光学头中而单元化，不仅可使构造简单化，同时使半导体发光组件、光束整形构件及透镜的组装很容易。 并且，在第2构件中，较佳为具有比第7孔径更大的内径之第8孔径在该第7孔径上连续地形成。在此情况下，可将杂散光封闭在由第8孔径所区划的空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，筒状构件较佳被设置为其另一端侧部分的内径比一端侧部分的内径更大。在此情况下，可将杂散光封闭在由筒状构件中之另一端侧部分所区划的空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为在第1孔部、第7孔部、及筒状构件中之一端侧部分的内侧中，形成有阴螺纹。在此情况下，以形成阴螺纹之极简单的构成，即可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为更具备有：装有照射光学系统及检出光学系统之光学头，及载置免疫层析试验片用之载置板，及在横切显色线之扫瞄方向上、使载置板及光学头做相对移动的扫瞄机构。在此情况下，在光学头上装有照射光学系统及检出光学系统之时，构造变成简单，并且光学头在扫瞄方向上移动用之扫瞄机构仅须1个系统即可，因此扫瞄机构的构造或其控制系统的构成变成简单。 并且，半导体发光组件较佳为发光二极管。在此情形下，可使光源的光强度提高。 并且，光束整形构件较佳为做成：形成有：与形成于免疫层析试验片上之显色线略平行的方向的方向上延伸之狭缝的板状构件。在此情形下，可使光束整形构件的构造简单化。 为了达成上述目的，本发明之光源设备系将狭缝光照射到测定对象物上之光源设备，其特征为：具备有：半导体发光组件，及将来自半导体发光组件的光整形用的光束整形构件，及将来自光束整形构件的光成像于测定对象物上用的透镜，及配置于半导体发光组件与光束整形构件之间、而除去杂散光用筒状之第1遮光部，及配置于光束整形构件与透镜之间、而除去杂散光用筒状之第2遮光部，及配置于透镜与测定对象物上之间、而除去杂散光用筒状之第3遮光部。 本发明之光源设备之中，在半导体发光组件与光束整形构件之间配置有第1遮光部，在光束整形构件与透镜之间配置有第2遮光部，在透镜与测定对象物之间配置有第3遮光部，因此由这些筒状之各遮光部可抑制杂散光之发生。并且，利用透镜可将来自光束整形构件的光成像于测定对象物上。因而，可抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入，使照射到测定对象物上的测定光变成鲜明。 较佳为又在第1遮光部与光束整形构件之间配置有比第1遮光部更大直径的筒状空间部。在此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为又在光束整形构件与第2遮光部之间配置有比第2遮光部更大直径的筒状空间部。此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为又在透镜与第3遮光部之间配置有比第3遮光部更大直径的筒状空间部。此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入。 为了达成上述目的，本发明之免疫层析试验片的测定设备之特征为：具备有：载置免疫层析试验片的台，及将测定光朝向台照射之照射光学系统，及检出从台侧射入的光的检出光学系统，照射光学系统及检出光学系统对台以预定之扫瞄方向而做相对的移动，照射光学系统具备有：半导体发光组件，及将来自半导体发光组件的光整形成具有沿着与上述预定之方向延伸之光束剖面的光之用的光束整形构件，及将来自光束整形构件的光成像用的透镜，及配置于半导体发光组件与光束整形构件之间、而除去杂散光用筒状之第1遮光部，及配置于光束整形构件与透镜之间、而除去杂散光用筒状之第2遮光部，及配置于透镜与台之间、而除去杂散光用筒状之第3遮光部。 在本发明之免疫层析试验片的测定设备之中，可抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入，因此可使照射到免疫层析试验片上的测定光变成鲜明，因此可使显色度之测定精度大幅地提高。