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    Measuring probe
    21.
    实用新型
    Measuring probe 失效

    公开(公告)号：JP3090950U

    公开(公告)日：2003-01-10

    申请号：JP2002003832

    申请日：2002-06-24

    Applicant: 株式会社精研

    Inventor： 信夫 白鳥

    IPC: G01R1/067

    Abstract: (57)【要約】 【課題】 バネ定数の増大を防止しつつ、電気信号の減衰を低減するとと共に、荷重に対して良好なバランスを有する測定用プローブを提供する。 【解決手段】 測定用プローブ１ａが備えるブロック３
    は、導電性の金属からなり、探針部２と、一軸状の複数の螺旋溝６ａ〜６ｄにより形成した複数の螺旋バネ５ａ
    〜５ｄとを一体に有しているので、被測定物に探針部２
    が接触・加圧する際、探針部２が受ける荷重ｆを各螺旋バネ５ａ〜５ｄに分散させることができ、また被測定物からの電流は、各螺旋バネ５ａ〜５ｄに分流されると共に電流経路の長さが比較的短かい各螺旋バネ５ａ〜５ｄ
    を流れるので、螺旋バネ５ａ〜５ｄ全体における抵抗及びインダクタンスを低減することができる。 これによりバネ定数の増大を防止しつつ、測定用プローブ１ａのインピーダンスを低減して、被測定物からの電気信号の減衰を低減することができる。

    地盤改良方法と地盤改良システム
    22.
    发明专利
    地盤改良方法と地盤改良システム 审中-公开

    公开(公告)号：JP2021172983A

    公开(公告)日：2021-11-01

    申请号：JP2020075002

    申请日：2020-04-20

    Applicant: 大成建設株式会社 ,  株式会社大阪防水建設社 ,  株式会社精研

    Inventor： 原 信行 ,  甲斐 恭太 ,  山内 一樹 ,  谷室 裕久 ,  吉田 聡志

    IPC: E02D3/12 ,  E02D3/115

    Abstract: 【課題】高い施工効率の下で、品質に優れた改良地盤を造成することのできる地盤改良方法と地盤改良システムを提供する。 【解決手段】地盤改良方法は、地盤Gに掘削孔Dを造成するA工程と、掘削孔Dの内部に、複数の注入口21を備えている外管20を配管するB工程と、外管20の内部に、薬液が供給される第一内管30を建て込み、注入口21を介して地盤Gに薬液を注入するC工程と、外管20から第一内管30を引き抜いて第二内管40を外管20の内部に建て込み、第二内管40の内部に冷却液を循環させることにより地盤Gを凍結するD工程とを有する。 【選択図】図8

    配管接続部材及び配管継手構造
    23.
    发明专利
    配管接続部材及び配管継手構造 审中-公开

    公开(公告)号：JP2021148257A

    公开(公告)日：2021-09-27

    申请号：JP2020050648

    申请日：2020-03-23

    Applicant: 株式会社精研

    Inventor： 中島 俊彦 ,  河津 典一 ,  馬道 佳代

    IPC: F16L21/06

    Abstract: 【課題】本発明は、配管どうしの突合せ部分の気密性を確保することのできる配管接続部材及びこれを用いた配管継手構造を提供する。 【解決手段】本発明に係る配管接続部材20は、配管40,50どうしの接続に用いられる配管接続部材であって、前記配管の内周側に挿入可能な円筒状の筒部材21であって、外周に周溝22が凹設された筒部材と、前記周溝に嵌まり、外周面が前記周溝から外周側に飛び出した環状シール部材24と、を具える。 【選択図】図7

    Broaching machine
    26.
    发明专利
    Broaching machine 有权
    自动洗衣机

    公开(公告)号：JP2009248273A

    公开(公告)日：2009-10-29

    申请号：JP2008102014

    申请日：2008-04-10

    Applicant: Seiken:Kk ,  株式会社精研

    Inventor： TAKASUGA KO

    IPC: B23D37/08

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a broaching machine capable of preventing the occurrence of machining trouble from chips produced by cutting a workpiece.
    SOLUTION: The broaching machine is configured such that a cylindrical casing 15 is disposed under a table 11 holding the workpiece 51, lifting screw rods 32, 32 are disposed on both right and left sides of the cylindrical casing 15, and a lifting body 20 holding a lower end portion 2b of a broach 2 inside the cylindrical casing 15 moves vertically along lifting guides 17, 17 disposed on an outer surface of the cylindrical casing 15 in response to rotational movement of the lifting screw rods 32, 32; thereby preventing chips, spattering downward below the table during cutting with the broach 2, from falling out of the cylindrical casing 15 and further preventing the chips from adhering to the lifting screw rods 32 or the lifting guides 17. The broaching machine can accordingly prevent the development of machining problems attributable to the adhesion of chips to the lifting screw rods 32 or the lifting guides 17.
    COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够防止由切削工件产生的切屑产生加工故障的拉削机。 解决方案：拉削机构构成使得圆筒形壳体15设置在保持工件51的工作台11的下方，提升螺杆32,32设置在圆筒形壳体15的左右两侧，提升 在筒状壳体15内部保持拉刀2的下端部2b的主体20响应于提升螺杆32,32的旋转运动而沿着设置在圆筒状壳体15的外表面上的升降引导件17,17垂直移动。 从而防止在用拉刀2切割的同时，在台架下方向下飞溅的碎片从圆筒形壳体15中脱落，并进一步防止切屑粘附到提升螺杆32或升降导向件17上。因此，拉削机可以防止 发展由于芯片附着到提升螺杆32或升降导向件17而引起的加工问题。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

    Inspection unit and inspection device using it
    29.
    发明专利
    Inspection unit and inspection device using it 有权
    检查单位和使用它的检查装置

    公开(公告)号：JP2006105793A

    公开(公告)日：2006-04-20

    申请号：JP2004293060

    申请日：2004-10-05

    Applicant: Seiken Co Ltd ,  株式会社精研

    Inventor： SHIRATORI NOBUO

    IPC: G01R1/067 ,  G01R31/02 ,  H05K3/00

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection unit capable of sure and accurate measurement by means of stable electrical connections by improving the durability of a wiring connection part.
    SOLUTION: When moving an inspection probe 1 toward a work 16, a probe part 2 tip comes into contact with the work 16, and almost simultaneously a pin tip guide board 12 comes into contact with the work 16. Even in a state that makes sure the contact of the probe part 2 with the work 16, while a spiral spring 3 is compressed by moving a pin board 13 furthermore, the pin tip guide board 12 absorbs a relative movement with the pin board 13, while deforming a spiral spring 20, by being held in a contact state with the work 16, Hereby, a wiring support board 15, integrated with the pin tip guide board 12 via a connection member 21 is also held in a state of the probe part 2 abutting on the work 16, regardless of the movement of the pin board 13, causing no relative movement between the probe part 2 and the wiring support board 15.
    COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种检查单元，其能够通过提高布线连接部件的耐久性，通过稳定的电连接来确保和精确地测量。

    解决方案：当将检查探针1移动到工件16时，探针部分2的尖端与工件16接触，并且几乎同时引脚引导板12与工件16接触。即使处于状态 确保探头部分2与工件16的接触，而螺旋弹簧3进一步通过移动销板13而被压缩，销尖引导板12吸收与销板13的相对运动，同时使螺旋 弹簧20通过与工件16保持接触状态，因此，经由连接构件21与销尖引导板12一体化的布线支撑板15也保持在与第一端子抵接的探针部2的状态 工件16，不管销板13的运动如何，在探针部分2和布线支撑板15之间不会发生相对移动。（C）2006年，JPO和NCIPI

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