公开(公告)号：JP2008172746A

公开(公告)日：2008-07-24

申请号：JP2007073304

申请日：2007-03-20

Applicant: Industry-Univ Cooperation Foundation Hanyang Univ ,  Korea Research Inst Of Standards & Science ,  漢陽大學校産學協力團Industry−University Cooperation Foundation Hanyang University ,  韓國標準科學研究院Korea Research Institute of Standards and Science

Inventor： CHOI MAN YONG ,  KIM SU UN ,  PARK JEONG HAK ,  SHIN SUNG WOO ,  RYU EISAN

IPC: H04N5/225 ,  G06T1/00 ,  H04N5/335 ,  H04N5/349 ,  H04N5/369

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high-resolution camera apparatus by mounting a linear image sensor (CCD, CMOS or the like) in a camera, capturing and combining images while moving a position thereof by a pixel size.
SOLUTION: The high-resolution camera apparatus comprises a camera body with a lens mounted at the front end thereof, a guardrail installed in the camera body so as to extend in a width direction, a linear image sensor disposed movable in the width direction along the guardrail, and a micromotor installed in the guardrail for driving the linear image sensor.
COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Abstract translation: 要解决的问题：为了通过将线性图像传感器（CCD，CMOS等）安装在相机中来提供高分辨率相机装置，在将其位置移动像素尺寸的同时拍摄和组合图像。 解决方案：高分辨率照相机装置包括：相机主体，其前端安装有透镜;安装在照相机主体中以沿宽度方向延伸的护栏;可在宽度方向上移动的线性图像传感器 沿着护栏的方向，以及安装在护栏中用于驱动线性图像传感器的微电机。 版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP6130861B2

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：JP2014554655

申请日：2012-12-14

Applicant: コリア リサーチ インスティチュート オブ スタンダーズ アンド サイエンス ,  Korea Research Institute of Standards and Science

Inventor： キム,キウング ,  リー,ヨン‐ホ ,  リー,セオング‐ジョー ,  ユ,クオン‐キュ

IPC: A61B5/05 ,  A61B5/055

CPC classification number: G01R33/385 ,  A61B5/05 ,  A61B5/055 ,  G01R33/26 ,  G01R33/326 ,  G01R33/445 ,  G01R33/48 ,  G01R33/4806

公开(公告)号：JP2013512451A

公开(公告)日：2013-04-11

申请号：JP2012541925

申请日：2010-02-02

Applicant: コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンスKorea Research Institute Of Standards And Science

Inventor： パク、ソンチョン ,  フン リ、トン ,  ナム パク、スン

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01J1/0295 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本発明は積分球光度計およびその測定方法を提供する。 前記積分球光度計は、左半球および右半球を含む積分球と、前記右半球の中心面に設けられる光度計と、前記光度計の前方に前記光度計と離隔して設けられる主遮光膜と、前記積分球の中心領域に設けられ、少なくとも左半球の照射領域に光を照射する測定対象光源と、前記左半球と前記右半球の接触領域の近傍に設けられ、前記照射領域に光を照射する補助方向性光源部と、前記補助方向性光源部の周りに設けられ、前記測定対象光源から発した光が前記補助方向性光源部に直接照射されることと、前記補助方向性光源部から発した光が前記測定対象光源に直接照射されることを防止する補助遮光膜とを含む。
【選択図】図１

公开(公告)号：JP4823363B2

公开(公告)日：2011-11-24

申请号：JP2009543915

申请日：2007-07-27

Applicant: コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンスKorea Research Institute Of Standards And Science

Inventor： クォン，ジェ−ファ ,  ユン，ドン−ジン ,  リ，ヨン−ソプ

IPC: H04R17/02 ,  G01N29/24

CPC classification number: G01H11/08

公开(公告)号：JP2011164578A

公开(公告)日：2011-08-25

申请号：JP2010235414

申请日：2010-10-20

Applicant: Korea Electronics Telecommun ,  Korea Research Inst Of Standards & Science ,  韓國標準科學研究院Korea Research Institute of Standards and Science ,  韓國電子通信研究院Electronics and Telecommunications Research Institute

Inventor： JEON MIN YONG ,  BOKU KEIGEN ,  YEE DAE-SU

IPC: G02F1/37 ,  H01S1/02 ,  H01S3/00 ,  H01S5/50

CPC classification number: H01S5/0623 ,  G02F2/002 ,  H01S1/02 ,  H01S5/141 ,  H01S5/40 ,  H01S5/4012

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a terahertz wave apparatus capable of generating and detecting a continuously-varying terahertz wave. SOLUTION: A terahertz wave apparatus 300 includes: a wavelength-fixed laser 310 emitting first laser light having a fixed first wavelength; a wavelength-swept laser 320 emitting second laser light having a variable second wavelength; a coupler 330 coupling the first laser light with the second laser light; and a generator 340 converting mixed light emitted from the coupler into a terahertz wave where a frequency of the terahertz wave is continuously varied. Furthermore, the terahertz wave apparatus may include a detector detecting the continuously-varying terahertz wave, thus enabling high-speed terahertz wave spectroscopy. COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Abstract translation: 解决的问题：提供能够产生和检测连续变化的太赫兹波的太赫兹波装置。 太赫波装置300包括：发射具有固定的第一波长的第一激光的波长固定激光器310; 波长扫描激光器320发射具有可变第二波长的第二激光; 将第一激光与第二激光耦合的耦合器330; 以及将从耦合器发射的混合光转换为太赫兹波的频率连续变化的太赫兹波的发生器340。 此外，太赫兹波装置可以包括检测连续变化的太赫兹波的检测器，从而实现高速太赫兹波谱。 版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP2009535837A

公开(公告)日：2009-10-01

申请号：JP2009509392

申请日：2006-08-03

Applicant: コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンスKorea Research Institute Of Standards And Science

Inventor： チルソン ア ,  ドンハン ハ ,  ヒュンユ パク ,  ヨンユ ユン ,  ワンスー ユン ,  ユンス リー

IPC: H01L21/288 ,  B82B1/00 ,  B82B3/00 ,  H01L21/28

CPC classification number: G01R33/1269 ,  Y10T428/12389

Abstract: 本発明は、ナノギャップ金属電極の製造方法及びこれを用いたナノギャップ素子に関し、本発明による製造方法は、所定形状に形成された金属パターンの表面に、溶液中の金属イオンから還元反応により還元された金属を成長させることを特徴とする。 本発明によるナノギャップ金属電極の製造方法は、従来の方法では製造し難い、１〜１００ｎｍのギャップを有するナノギャップ電極を容易に製造することができる長所がある。
【代表図】図５ａ

公开(公告)号：JP2009042217A

公开(公告)日：2009-02-26

申请号：JP2008154783

申请日：2008-06-13

Applicant: Korea Research Inst Of Standards & Science ,  コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンスKorea Research Institute Of Standards And Science

Inventor： KANG SANG WOO ,  YUN JU YOUNG ,  SEONG DAE JIN ,  SHIN YONG HYEON

IPC: G01N21/75 ,  G01N21/15 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/3581

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01N21/031 ,  G01N2021/151

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrum analyzer capable of performing the real-time process diagnosis, which performs the real-time process diagnosis such that a beam is made to enter a reaction substance or a reaction secondary product contained in a reaction vessel to measure an emission beam emitted therefrom, and to analyze the reaction substance or the reaction secondary product quantitatively and qualitatively. SOLUTION: The spectrum analyzer capable of performing the real-time process diagnosis comprises: the reaction vessel with an internal vacuum state which includes an incident window for making the beam incident, a containing part for temporarily containing the reaction substance or the reaction secondary product such that the incident beam of the incident window is made incident in order to perform the real-time process diagnosis for the reaction substance or the reaction secondary product, an emission window from which the incident beam coming from the containing part and being deflected/scattered by the reaction substance or the reaction secondary product is emitted, and a reflecting mirror contained in the containing part for reflecting the incident beam of the incident window at least one time or more in the containing part and emitting the beam through the emission window; a detector for detecting the emitted beam; and an analyzer for analyzing a sample quantitatively and qualitatively by using the intensity of the detected beam. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Abstract translation: 要解决的问题：为了提供能够执行实时过程诊断的频谱分析仪，其进行实时过程诊断，使得使光束进入反应物质或包含在反应物中的反应次级产物 反应容器，用于测量从其发射的发射光束，并定量和定性地分析反应物质或反应二次产物。 解决方案：能够执行实时过程诊断的频谱分析仪包括：具有内部真空状态的反应容器，其包括用于使光束入射的入射窗口，用于临时容纳反应物质的反应物或反应物 二次产品使得入射窗的入射光束入射，以便对反应物质或反应次生产物进行实时过程诊断，发射窗从入射光束从容纳部分从该发射窗被偏转 由反应物质或反应二次产物散射的反射镜和包含在容纳部分中的反射镜，用于在入射部分中反射入射窗的入射光束至少一次以上，并通过发射窗口发射光束 ; 用于检测发射光束的检测器; 以及通过使用所检测的光束的强度来定量和定性地分析样本的分析器。 版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP5486692B2

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：JP2012541925

申请日：2010-02-02

Applicant: コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンスKorea Research Institute Of Standards And Science

Inventor： パク、ソンチョン ,  フン リ、トン ,  ナム パク、スン

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01J1/0295 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4247

公开(公告)号：JP5444457B2

公开(公告)日：2014-03-19

申请号：JP2012510724

申请日：2009-05-11

Applicant: コリア リサーチ インスティテュート オブ スタンダーズ アンド サイエンスKorea Research Institute Of Standards And Science

Inventor： セファ キム ,  ジェヨン リ ,  ウンソン リ ,  デウォン ムン

IPC: G01N21/65 ,  G02B21/00

CPC classification number: G02B21/002 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/10 ,  G01J3/44 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/653 ,  G02B21/0088 ,  G02B21/16

公开(公告)号：JP5198608B2

公开(公告)日：2013-05-15

申请号：JP2011058856

申请日：2011-03-17

Applicant: 韓国標準科学研究院Korea Research Institute Of Standards And Science

Inventor： ▲みん▼錫 金 ,  淵▲ギュ▼ 朴 ,  大任 姜 ,  仁黙 崔 ,  省俊 李 ,  翰▲ウック▼ 宋

IPC: G01L5/00 ,  G01L1/18

CPC classification number: G01L1/2293