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公开(公告)号：KR100752758B1
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：KR1020050098851
申请日：2005-10-19
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: H01L27/146
CPC classification number: G01B11/25 , G01B11/0608 , H01L27/148 , H04N13/207 , H04N13/254
Abstract: 본 발명은 광학계로부터 촬상된 영상을 고속으로 획득할 수 있는 영상 측정 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 광학계를 통해 촬상된 영상을 이용하여 측정 대상의 3차원 형상을 측정하는 장치에 있어서, 광학계를 통해 촬상된 영상을 이용하여 측정 대상의 높이 정보를 측정하는 장치에 있어서, 측정물(P)을 촬상하여 출력하는 CCD 카메라와; 상기 측정물의 촬상 영역을 조명하는 광을 발생시키는 조명부와; 상기 조명 부의 점등을 제어하는 조명 제어부와; 상기 측정물(P)에 투영되는 격자가 형성된 격자와; 상기 투영 격자와 측정물과의 거리를 조절하도록 하는 격자 구동부와; 상기 CCD 카메라를 통해 촬상된 영상을 획득하는 영상 포획부와; 상기 CCD 카메라에서 인에이블 신호가 발생하면 조명 제어부와 투영 격자 구동부 및 영상 획득 부에 구동 신호를 동시에 출력하는 구동 신호 발생부와; 상기 영상 포획부로부터 전송되는 데이터로부터 측정 대상의 3차원 형상을 계산하는 영상 신호 처리부를 포함한다.
영상, 고속, 구동 신호, 격자, 간섭 무늬-
公开(公告)号：KR1020070042841A
公开(公告)日：2007-04-24
申请号：KR1020050098853
申请日：2005-10-19
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B9/04
Abstract: 본 발명은 광학계를 통해 촬상되는 영상의 정확도를 향상시킬 수 있는 영상 측정 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 광학계를 통해 촬상된 영상을 이용하여 측정 대상의 높이 정보를 측정하는 장치에 있어서, 측정물(P)을 촬상하여 출력하는 CCD 카메라와; 상기 측정물의 촬상 영역을 조명하는 백색광을 발생시키는 조명부와; 상기 조명부의 점등을 제어하는 조명 제어부와; 상기 측정물(P)에 대한 광학계의 미소 높이를 제어하는 미세 구동부와; 상기 CCD 카메라를 통해 촬상된 영상을 획득하는 영상 포획부와; 상기 CCD 카메라에서 인에이블 신호가 발생하면 조명 제어부와 미세 구동부에 구동 신호를 발생하는 구동 신호 발생부와; 상기 영상 포획부로부터 전송되는 데이터로부터 측정 대상의 높이 정보를 계산하는 영상 신호 처리부를 포함한다.
영상, 구동 신호, 백색광, PZT-
公开(公告)号：KR1020060127537A
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：KR1020050048585
申请日：2005-06-07
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01R31/2896 , G01R1/07 , G01R31/302 , H01L22/30
Abstract: A method and an apparatus for inspecting an in-tray of a semiconductor package are provided to reduce the inspection time by effectively dividing an image of an object to be tested according to the kind of the object. An apparatus for inspecting an in-tray of a semiconductor package includes a main body(10), a loading unit(21), a buffer(25), a defective tray storage(23), and an unloading unit(24). Trays containing an object to be tested therein are loaded on the loading unit. The buffer temporarily stores buffer trays, which contain the tested semiconductor packages therein. The trays, which contain defective semiconductor packages, are stacked on the defective tray storage. Unloading trays, which contain normal semiconductor packages, are stacked on the unloading unit.
Abstract translation: 提供了一种用于检查半导体封装的托盘的方法和装置，以通过根据对象的种类有效地划分被测试对象的图像来减少检查时间。 用于检查半导体封装的托盘的装置包括主体（10），装载单元（21），缓冲器（25），缺陷托盘存储器（23）和卸载单元（24）。 包含要测试对象的托盘装载在装载单元上。 缓冲器临时存储缓冲盘，其中包含测试的半导体封装。 含有有缺陷的半导体封装的托盘堆放在有缺陷的托盘存储器上。 卸载托盘，其中包含正常的半导体封装，堆放在卸载单元上。
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公开(公告)号：KR100617619B1
公开(公告)日：2006-09-04
申请号：KR1020040095877
申请日：2004-11-22
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 발명은 다양한 방향으로부터 반도체 소자의 영상을 획득하여 반도체 소자의 외관 및 크기를 보다 정확하게 알 수 있는 반도체 소자 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 반도체 소자 검사방법은 복수개의 광원으로부터 반도체 소자의 상면에 경사진 각도로 빛을 조사하여 복수개의 구별 가능한 그림자를 생성하고, 이들 그림자 영상들을 합성하여 반도체 소자의 외곽선을 검출하여 반도체 소자의 크기를 검사하는 것을 특징으로 한다.
반도체, 트레이, 크기, 그림자, 모서리, 외곽선Abstract translation: 本发明获得的半导体器件的半导体器件的检查装置和检查方法的图像可以更精确地看到半导体元件的从各种方向的外观和尺寸。
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公开(公告)号：KR101875467B1
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：KR1020160150507
申请日：2016-11-11
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본발명의일 실시예에따른 3차원형상측정장치는측정대상이안착되는측정평면, 측정대상에대해광을조사하는제1광원및 제2광원, 제1광원및 제2광원으로부터조사되어측정대상의표면으로부터반사되는광을통과시키는렌즈및 측정대상의표면으로부터반사되어렌즈를통과한영상을촬상하는이미지획득수단, 이미지획득수단으로부터이미지를획득하고, 이미지프로세싱하여측정대상을검출하는제어부를포함하는 3차원형상측정장치에있어서, 제1광원및 제2광원은순차적으로점등된다.
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Patent Agency Ranking26.发明授权아날로그 평균지연 방법에서 수집한 신호로부터 가상의 형광분포 모델을 통해 최소자승오차를 계산하여 2개 이상의 형광수명 성분을 구하는 형광수명 측정장치 및 그 측정방법 有权从通过该方法收集的信号的模拟平均延迟经由荧光分布荧光寿命的虚拟模型计算最小平方误差，以获得两个或更多个荧光寿命成分测定装置和测定方法
公开(公告)号：KR101859172B1
公开(公告)日：2018-05-16
申请号：KR1020160176735
申请日：2016-12-22
Applicant: 연세대학교 산학협력단 , (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01J1/44 , G01J2001/446 , G01N21/6458 , G01N21/6486
Abstract: 본발명의일 실시예에따른형광수명측정장치는조사광을발생시키는조사광발생부, 조사광으로형광분자를포함하는적어도하나이상의시료를조사하여생성되는형광광자의형광신호를수집하는형광광자검출부,수집된형광신호의함수와시뮬레이션함수에대하여최소자승법을이용하여형광수명을계산하는계측부를포함한다.
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公开(公告)号：KR101645279B1
公开(公告)日：2016-08-04
申请号：KR1020150031935
申请日：2015-03-06
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01B11/0608 , G01B11/25
Abstract: 본발명은 x축방향으로상호나란하게배치되는제1측벽과제2측벽및 상기제1측벽과제2측벽의양측단부를연결하도록 y축방향으로배치되는제3측벽및 제4측벽을포함하는피검체의두께및 높이를측정하기위한측정장치및 이를이용한측정방법이개시된다. 본발명은두 쌍의조명부와결상부를피검체의상부에배치하는간단한구성만으로피검체의두께및 높이를정확하게측정할수 있으며, 피검체가라운드지게형성되거나, 피검체가직각방향으로배치된경우라도피검체의형상에관계없이한번세팅된장비를이용하여피검체의두께및 높이를측정할수 있는두께및 높이측정장치및 이를이용한측정방법에관한것이다.
Abstract translation: 本发明涉及一种用于测量被检查物体的厚度和高度的装置，包括：第一侧壁和第二侧壁，其设置成沿x轴方向彼此对准; 以及设置在y轴方向上的第三侧壁和第四侧壁，以连接第一侧壁和第二侧壁的两侧的端部，以及使用其的测量方法。 根据本发明，只要将两对照明部和摄像部配置在被检体的上部的简单结构即可精确地测定被检查体的厚度和高度。 此外，即使被检查物体在垂直方向上球形地设置，也可以使用预先设定的方式来测量待检查物体的厚度和高度，而与被检查体的形状无关。
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公开(公告)号：KR1020150054517A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：KR1020130137037
申请日：2013-11-12
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01N21/95 , G01N21/892 , G01N2021/9513
Abstract: 본발명에서는디스플레이패널의표면결함유무는물론표면결함의종류까지파악할수 있는디스플레이패널의표면검사방법및 검사장치가개시된다.본발명에따르면, 디스플레이패널의일측상단에상기디스플레이패널의표면과제1각도(θ)만큼경사지게배치된제1광원으로부터조명을출력하는단계와, 상기디스플레이패널의타측상단에상기디스플레이패널의표면과상기제1각도(θ)보다작은제2각도(θ)만큼경사지게배치된이미지획득수단을통해상기제1광원에의한반사이미지를획득하는단계와, 상기디스플레이패널의일측상단에상기디스플레이패널의표면과상기제2각도(θ)보다작은제3각도(θ)만큼경사지게배치된제2광원으로부터조명을출력하는단계와, 상기이미지획득수단을통해상기제2광원에의한반사이미지를획득하는단계와, 상기제1광원과제2광원에의한반사이미지의인텐시티분포(intensity distribution)를비교하는단계와, 상기인텐시티분포의경향이동일한지여부에따라표면결함의종류를판별하는단계를포함한다.
Abstract translation: 提供了一种用于检查显示面板的方法和装置，以便检测显示面板的表面缺陷并准确地确定检测到的表面缺陷的类型。 根据本发明，该方法包括以下步骤：将从第一角度（＆amp; 1）倾斜的第一光源的照明输出到显示面板一侧的顶部的显示面板的表面 ; 通过图像获取装置获取第一光源的反射图像，该图像获取装置将倾斜多于第一角度（＆amp; 1）的第二角度（＆amp; 2）放置在显示面板的表面上 显示面板另一侧的顶部; 将从第二角度（＆amp; 2）小的第三角度（θth3）倾斜的第二光源的照明输出到显示器一侧顶部的显示面 面板; 通过图像获取装置获取第二光源的反射图像; 比较第一光源和第二光源的反射图像的强度分布; 并根据强度分布的趋势是否相同来确定表面缺陷的类型。
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公开(公告)号：KR1020140062356A
公开(公告)日：2014-05-23
申请号：KR1020120129025
申请日：2012-11-14
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: The present invention relates to an auto-focusing device capable of identifying the optimum focal distance to a test target using a tunable liquid lens, accurately adjusting the focal point, and accordingly enabling a test device to clearly recognize defects of the test target. The auto-focusing device includes: a light source which is installed in a test device for auto-focusing of a test camera and emits light to a test target; a first camera which takes an image of the test target reflected by the light; a tunable liquid lens which is placed between the first camera and the test target; a control unit which controls the amount of current applied to the tunable liquid lens to adjust the focal distance of the tunable liquid lens; an analysis unit which analyzes the image of the test target according to the variable focal distance of the tunable liquid lens and calculates the optimum focal distance; and a distance adjustment unit which adjusts the distance between the test camera and the test target corresponding to the calculation result by the analysis unit.
Abstract translation: 本发明涉及一种自动对焦装置，其能够使用可调式液体透镜识别到测试对象的最佳焦距，精确地调整焦点，并且因此使得测试装置能够清楚地识别测试对象的缺陷。 该自动聚焦装置包括：光源，其安装在用于测试相机的自动聚焦的测试装置中并将光发射到测试对象; 拍摄由光反射的测试对象的图像的第一相机; 放置在第一照相机和测试对象之间的可调式液体透镜; 控制单元，其控制施加到可调液晶透镜的电流量以调节可调液晶透镜的焦距; 分析单元，其根据可调液晶透镜的可变焦距分析测试对象的图像，并计算最佳焦距; 以及距离调整单元，其通过分析单元调整与计算结果相对应的测试摄像机与测试对象之间的距离。
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公开(公告)号：KR1020140012342A
公开(公告)日：2014-02-03
申请号：KR1020120078934
申请日：2012-07-19
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01N21/88 , G01M11/02 , G01R31/265
Abstract: The present invention relates to an LED module inspection device that enables users to inspect the condition of the LED module by using the images of the LED module taken at different angles, which are acquired by a light from external sources that is applied to the LED module and a power autonomously supplied by the LED module. The LED module inspection device comprises: a main camera in the vertical upper side of the LED module to obtain an image of the LED module; a lighting unit for emitting light to the LED module; a power source unit for supplying power to the LED module; and a determination unit for determining the malfunction of the LED module using the image of the LED module obtained by the main camera.
Abstract translation: LED模块检查装置技术领域本发明涉及一种LED模块检查装置，其使得用户能够通过使用以不同角度拍摄的LED模块的图像来检查LED模块的状况，所述图像是通过施加到LED模块的外部源的光获取的 以及由LED模块自主提供的功率。 所述LED模块检查装置包括：在所述LED模块的垂直上侧的主摄像机，以获得所述LED模块的图像; 用于向LED模块发射光的照明单元; 用于向LED模块供电的电源单元; 以及确定单元，用于使用由主摄像机获得的LED模块的图像来确定LED模块的故障。
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