高密度盘
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1396592A

    公开(公告)日:2003-02-12

    申请号:CN02127518.1

    申请日:2002-07-05

    CPC classification number: G11B7/007 G11B23/0035

    Abstract: 本发明披露了一种设定为在保持高记录/重现特性的同时在相同的驱动器中保证兼容性的具有数据区的高密度盘。该高密度盘具有中心孔、夹紧区、记录有用户数据的数据区、位于数据区内侧的导入区和位于数据区外侧的导出区。在高密度盘中,其中,中心孔的直径大于等于10mm,夹紧区的内径在20-26mm的范围内。并且,数据区的内径在35-40mm的范围内。由此,在仍使用传统盘驱动器的同时,可以减小高密度盘的尺寸,增加记录容量。

    光盘基片
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1273416A

    公开(公告)日:2000-11-15

    申请号:CN00119231.0

    申请日:2000-03-25

    Inventor: 尹斗燮 朴彰民

    CPC classification number: G11B7/007 G11B11/10578

    Abstract: 具有深度为λ/4n到λ/2n的深凹槽的光盘基片,这里λ是光拾取器激光束波长,n是基片的折射率。光盘基片包括:多个具有预定深度的深凹槽,各个深凹槽具有以θ角倾斜的侧壁,和多个具有与基片表面相同水平面的凸面,其中用于最小串扰的凹槽深度D是由下述数学关系确定:D=0.4022—0.4574×A+0.6458×A2

    跟踪浅/深槽型光盘的方法和采用该方法的装置

    公开(公告)号:CN1215882A

    公开(公告)日:1999-05-05

    申请号:CN98123443.7

    申请日:1998-10-23

    CPC classification number: G11B7/0901 G11B7/00718 G11B7/24079

    Abstract: 一种跟踪光盘的方法,鉴别装在记录和/或重现系统中的光盘是浅槽型还是深槽型,根据鉴别结果校正从光盘检测的跟踪误差信号的相位,利用校正结果进行跟踪伺服控制。一种跟踪装置,包含:光信号探测器,从光盘上检测跟踪误差信号;槽型鉴别器,鉴别装入的光盘的槽型并产生响应控制信号;相位校正器,根据该控制信号校正跟踪误差信号的相位;跟踪伺服部分,对光束光点进行伺服控制以精确跟踪目标光道的中心线。

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