记录介质
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104339910A

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:CN201410384073.5

    申请日:2014-08-06

    CPC classification number: B41M5/5218 B41M5/502 B41M5/52 B41M5/5227

    Abstract: 本发明涉及一种记录介质。一种记录介质,其具有基材和墨接收层,其中所述墨接收层含有胶体二氧化硅、锆化合物、铵盐和羟基羧酸,并且包含于所述墨接收层中的所述胶体二氧化硅的90%以上存在于距离所述记录介质的最外表面沿深度方向0nm以上且300nm以下的区域。

    记录介质
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104228387A

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201410282900.X

    申请日:2014-06-23

    Abstract: 本发明涉及一种记录介质。记录介质包括基材和墨接收层。所述墨接收层包含氧化铝颗粒、二氧化硅颗粒和粘结剂。当从表面侧向基材侧进行蚀刻时,通过X射线光电子光谱法进行的记录介质的组成分析提供,在0分钟的蚀刻时间时Si元素的存在量相对于Al元素与Si元素的合计存在量的比例为10原子%-90原子%,和在5分钟的蚀刻时间时Si元素的存在量相对于Al元素与Si元素的合计存在量的比例为50原子%以上。

    喷墨记录介质
    27.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102785500B

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201210153337.7

    申请日:2012-05-17

    Abstract: 本发明涉及一种喷墨记录介质。喷墨记录介质包括支持体和墨接收层,所述墨接收层设置在所述支持体上并且包含氧化铝颜料和碳数为1以上至4以下的烷基磺酸。所述墨接收层进一步包含高分子化合物、水溶性锆化合物和硼酸或硼酸盐。所述高分子化合物是通过将生成物的至少一个氨基用酸阳离子化而获得的高分子化合物,所述生成物通过至少3种化合物的反应获得,所述3种化合物即,(i)包含2个以上活性氢原子的含硫有机化合物,(ii)包含2个以上异氰酸酯基的多异氰酸酯化合物,和(iii)包含2个以上活性氢原子的胺化合物。

    记录介质
    28.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102294907B

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201110144339.5

    申请日:2011-05-26

    CPC classification number: B41M5/502

    Abstract: 本发明提供具有优异的墨吸收性并且能够在其上形成清晰图像的记录介质。该记录介质具有基材以及在该基材上依次设置的第一层和最外层,其中该第一层含有氧化铝和水合氧化铝中的至少一种,该最外层含有颜料并且在折射率上低于该第一层,并且该最外层的绝对干燥涂布量为0.1g/m2-0.5g/m2。

    记录介质
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103568617A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201310344109.2

    申请日:2013-08-08

    CPC classification number: B41M5/502 B41M5/506 B41M5/52 B41M5/5218 B41M2205/42

    Abstract: 本发明涉及记录介质。一种记录介质依次包括支持体、包含第一无机颗粒和第一粘结剂的第一墨接收层、包含第二无机颗粒和第二粘结剂的第二墨接收层以及作为最外表面层并包含第三无机颗粒、第三粘结剂和不同于所述第三无机颗粒且具有1.0至20.0μm的平均二次粒径的颗粒的第三墨接收层。所述第一粘结剂的含量与所述第一无机颗粒的含量的质量比大于第二粘结剂的含量与第二无机颗粒的含量的质量比。所述具有特定平均二次粒径的颗粒的含量相对于所述第三无机颗粒的含量为0.5质量%以上。

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