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公开(公告)号：CN102272578A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN200980153214.X
申请日：2009-12-16
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N21/35
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3563 , G01N21/8806 , G01N21/9505 , G01N2201/103
Abstract: 在检查装置或方法中，可同时获取被检体的厚度和特性的值或者它们的分布。检查装置包括：部分9，用于用放射线照射被检体2；部分10，用于检测来自被检体的放射线；获取部分26；存储部分21和计算部分20。获取部分获取与放射线的检测时间相关联的传送时间以及放射线的振幅。存储部分事先存储传送时间和振幅与被检体的特性的代表性值之间的关系数据。计算部分基于传送时间、振幅和关系数据，获得被检体的厚度和特性的值。
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公开(公告)号：CN101059454B
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN200710096534.9
申请日：2007-04-11
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/03 , G01N21/3577 , G01N22/00 , G01N2021/0346 , G01N2021/035
Abstract: 本发明提供了一种用于检测液体对象或样本的信息的检测装置，包括：传输路径、THz波提供单元、THz波检测单元和用于渗入和保持液体对象的渗透保持部件。提供单元将在30GHz到30THz频率范围中的电磁波提供到传输路径中。检测单元检测传输通过传输路径的THz波。渗透保持部件被设置在这样的位置：沿传输路径传播的THz波的电场分布在其至少一部分中延伸。
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公开(公告)号：CN101059454A
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN200710096534.9
申请日：2007-04-11
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N23/00
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/03 , G01N21/3577 , G01N22/00 , G01N2021/0346 , G01N2021/035
Abstract: 本发明提供了一种用于检测液体对象或样本的信息的检测装置，包括：传输路径、THz波提供单元、THz波检测单元和用于渗入和保持液体对象的渗透保持部件。提供单元将在30GHz到30THz频率范围中的电磁波提供到传输路径中。检测单元检测传输通过传输路径的THz波。渗透保持部件被设置在这样的位置：沿传输路径传播的THz波的电场分布在其至少一部分中延伸。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106985542A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710014966.4
申请日：2017-01-09
Applicant: 佳能株式会社
IPC: B41J2/195
Abstract: 本发明涉及一种液体排出头和液体排出设备。在记录元件基板的一个面上配置多个记录元件，并且在另一面上针对这些记录元件共通地设置槽状的液体供给通道。还设置贯通记录元件基板并且使液体供给通道与压力室连通的多个供给口、以及用作向液体供给通道的液体的供给口的供给侧开口。在排出液体时，从任意的供给侧开口起、直到位于离该供给侧开口最远的位置处的供给口为止的液体的压力下降与该供给口处的液体的压力下降的总和为5000Pa以下。
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公开(公告)号：CN106985529A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710014381.2
申请日：2017-01-09
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 提供一种液体排出头，包括：基板，其设置记录元件；以及排出口形成构件，其形成面向所述记录元件并且用于排出液体的排出口。所述液体排出头具有压力室、用于向所述压力室供给液体的第一液体通道和用于从所述压力室回收液体的第二液体通道。所述基板具有连接到所述第一液体通道以向所述第一液体通道供给液体的液体供给通道以及连接到所述第二液体通道以从所述第二液体通道回收液体的液体回收通道。所述第一液体通道的入口部处的压力被设定为比所述第二液体通道的出口部处的压力高，并且所述压力室内的液体的流速为3～140mm/s。
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公开(公告)号：CN101088004B
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200580044731.5
申请日：2005-12-21
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3577
Abstract: 提供一种用来探测通过对象的电磁波的探测设备，它包括：传输线，用来通过其传输电磁波；和探测器，用来探测通过对象的电磁波，其中所述传输线具有用来把所述对象布置在其中的空隙。
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公开(公告)号：CN101196467B
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200710196483.7
申请日：2007-12-05
Applicant: 佳能株式会社 , 独立行政法人理化学研究所
CPC classification number: G01N21/3581 , G01N21/3563
Abstract: 提供一种能够不管有无太赫兹波的频带的固有振动波谱都使用太赫兹波检测物质状态的变化的检测方法以及装置。检测装置具有保持物质8的待检物保持部；照射部件1、6；检测部件1、7；计算部件、评价部件。照射部件1、6在保持于待检物保持部上的物质8上照射太赫兹波。检测部件1、7检测从物质8透射或者反射来的太赫兹波。计算部件求得针对所照射的太赫兹波的物质8的性质的频率依赖性，算出物质8的性质的频率依赖性的拟合直线时的直线斜率或者直线斜率。评价部件对预先求得的基准状态的物质的性质的频率依赖性的直线斜率和用计算部件算出的物质8的直线斜率进行比较，评价物质状态的变化。
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公开(公告)号：CN101794835A
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN201010135255.0
申请日：2005-07-28
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H01L31/08
CPC classification number: H01L31/08 , G01N21/3581 , H01S1/02
Abstract: 本发明提供了一种光学半导体器件，其包括具有光电导性的半导体薄膜(4)和用于在大致垂直于所述半导体薄膜(4)的表面的方向向所述半导体薄膜(4)内部施加电场的电极对(5)和(10)，其中，当光作用于所述半导体薄膜(4)的被施加了电场的区域时，所述半导体薄膜(4)产生电磁波。所述电极被设置在所述半导体薄膜(4)的前表面和背面，其间夹着所述半导体薄膜。
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