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公开(公告)号:CN117629427A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311369957.9
申请日:2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本申请公开了一种太赫兹脉冲绝对幅度校准方法,包括以下步骤:低频稳幅源输出被测信号到共面波导传输线,使用飞秒激光起偏后聚焦到所述共面波导传输线的地电极和信号电极中间的缝隙中,入射的光束在被测信号电场作用下偏振态发生改变,检测偏振态的变化量为第一测试值,标定所述低频稳幅源输出信号强度为第一信号强度;将所述低频稳幅源更换为太赫兹脉冲信号产生器,检测偏振态的变化量为第二测试值,根据第二测试值和标定关系,确定太赫兹脉冲信号产生器输出的绝对幅度。本申请还包含用于实现所述方法的装置。本申请解决现有技术无法获得脉冲参数的绝对幅度值的问题。
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公开(公告)号:CN115931147A
公开(公告)日:2023-04-07
申请号:CN202211625150.2
申请日:2022-12-16
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本申请公开了一种电光介质棒互联结构及电光取样装置,解决了现有技术互联器件不连续导致较大模式损耗的问题。电光介质棒互联结构,包含介质棒和矩形波导。所述介质棒两端分别有部分插入两侧所述矩形波导的贯通腔中。所述介质棒中间段上有接收激光脉冲信号垂直入射的平面。电光取样装置,包含:电光介质棒互联结构,用于将传输的待测高速脉冲信号的信息附加到脉冲激光信号中。激光脉冲模块,用于将激光脉冲信号聚焦到所述电光介质棒互联结构。光电探测模块,用于将携带信息的激光脉冲信号转换为电脉冲信号。数据采集模块,用于处理电脉冲信号,提取高速脉冲信号信息。本申请的电光介质棒互联结构是连续结构,可以有效地避免装置有较大模式损耗。
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公开(公告)号:CN115876324A
公开(公告)日:2023-03-31
申请号:CN202211618569.5
申请日:2022-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01J3/28 , G01J3/02 , G01J3/10 , G01N21/3586
Abstract: 本申请公开了一种高分辨力太赫兹脉冲探测装置,包括:单模激光器,用于产生固定频率的第一路连续激光;可调谐激光器,用于产生频率可调的第二路连续激光;光耦合器,用于将两路连续激光混合后,输入到连续波光导混频器;所述连续波光导混频器,用于将两路连续激光混频后生成本振信号,再与太赫兹脉冲信号作用后生成电流信号输出。本申请还包含一种高分辨力太赫兹脉冲探测方法,使用所述高分辨力太赫兹脉冲探测装置。本申请解决现有技术的太赫兹脉冲探测装置频谱分辨力难以提高的问题。
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公开(公告)号:CN115630260A
公开(公告)日:2023-01-20
申请号:CN202211233122.6
申请日:2022-10-10
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06F17/14
Abstract: 本申请涉及信号处理技术领域,公开了一种用于获取高精度频谱的方法,包括:将长度为M的时域离散数据作为数据单元,向后进行N次时移得到扩展的时域离散数据,将扩展的时域离散数据进行频域变换得到第一频域离散数据;将第一频域离散数据拆分成N组频域数据组,其中,第i组的第一项频域数据为第一频域离散数据的第i‑1项,且,同组后续数据与前一项数据的距离为N;将每个频域数据组中的第一项数据取出并重新组合得到第二频域离散数据。通过时域数据的N次时移以及频域变换、频域数据的拆分、滤波与重组,能以较低的运算复杂度得到高精度频谱数据,本申请还公开一种用于获取高精度频谱的装置和存储介质。
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公开(公告)号:CN113347054A
公开(公告)日:2021-09-03
申请号:CN202110458722.1
申请日:2021-04-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H04L12/26
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种太赫兹单端口空间网络反射系数测量装置和方法,通过本发明所提供的一种太赫兹单端口空间网络反射系数测量装置和方法可以生成频率范围达到3THz以上的太赫兹信号,使测量频率超过3THz,扩大了测量频率范围;并且在全频率测量工作过程中不需要更换相关模块及器件,提高了测量的效率和准确度;同时本发明提供的测量装置通过设置接收参考链路与接收测量链路并利用校准件消除各个部件引入的系统误差,进一步提高了测量的准确度。
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公开(公告)号:CN113310941A
公开(公告)日:2021-08-27
申请号:CN202110386569.6
申请日:2021-04-12
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N21/3586
Abstract: 本发明公开了一种基于频谱的太赫兹材料复折射率测量方法,包括,利用频谱测量仪进行样品测量,基于测量数据得到离散频谱上的频率透射率T(f)和时域反射特性t(τ);将所述频率透射率T(f)表示为法布里‑珀罗干涉(FP干涉)形式,并基于所述时域反射特性t(τ)取得τ0;定义高斯函数g(τ,τ0)和其对应的频谱G(f,τ0);基于所述高斯函数g(τ,τ0)对所述频率透射率T(f)进行处理获得更新后的频谱透射率T′(f,τ0);基于所述处理后的频谱透射率得到所述局部极大值(极小值)组数m和复折射率实部n,并计算得到初始相位φ;根据Kramers‑Kronig关系计算所述复折射率的虚部k,得到所述样品的复折射率和吸光度。
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