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公开(公告)号：CN112798874A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011537898.8
申请日：2020-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开本发明提供一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统，解决现有方法和系统测试效率低和测试成本高的问题。所述方法，包含：根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围，根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进；选定测试初始位置，按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置，使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围，且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离；在所述每个测试位置，通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号，测量受试设备处的电场强度。所述系统使用所述方法。本发明实现了大尺寸EUT单天线等效测试。
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公开(公告)号：CN112763515A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN202011449327.9
申请日：2020-12-09
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明公开一种减小暗室反射性能测量误差的方法，包括：提供一被测暗室，在所述被测暗室内设置天线支架台，将发射天线与接收天线置于所述天线支架台上，保持收发天线及天线支架台相对位置固定；将所述天线支架台正对暗室墙面进行测量，获取被测暗室墙面的第一反射信号；在被测暗室墙面位置处放置参考金属板，将所述天线支架台正对暗室墙面进行测量，获取参考金属板的第一反射信号；将所述天线支架台背对暗室墙面进行测量，获取被测暗室墙面的第二反射信号；在被测暗室墙面位置处放置参考金属板，将所述天线支架台背对暗室墙面进行测量，获取参考金属板的第二反射信号；计算得到被测暗室墙面反射性能。本发明的优点是：实现简单，减小测量误差。
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公开(公告)号：CN112731069A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011538305.X
申请日：2020-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/11
Abstract: 本发明公开了一种时域脉冲电缆屏蔽效能测试方法和系统。本发明公开的时域脉冲电缆屏蔽效能测试方法，包括：获取直通信号和衰减信号；据所述直通信号和所述衰减信号确定幅度差；根据所述幅度差确定所述待测电缆的屏蔽效能。本发明提供的时域脉冲电缆屏蔽效能测试方法和系统，不仅从原理上更加贴近实际使用情况，测量结果更加客观真实；而且与原有方法相比，本发明提供的技术方案的操作步骤更加简便，测量效率更高。
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公开(公告)号：CN108318848B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201810148823.7
申请日：2018-02-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/02
Abstract: 本申请公开了一种沉积静电放电电流的校准装置和方法，解决了沉积静电放电电流的校准准确性的问题，所述装置包括被校准的沉积静电放电模拟器，放电靶，电阻，直流电压表，所述模拟器用于产生沉积静电放电电流，并向所述放电靶进行沉积静电放电；所述放电靶与所述电阻串联，用于接收所述模拟器产生的沉积静电并产生直流电流；所述电阻接地；所述直流电压表用于测量所述电阻的电压。所述方法包括以下步骤，调节高压产生器产生预定的沉积静电放电电流，记录所述电流表上的指示和直流电压表的指示；通过欧姆定律得到通过所述电阻的直流电流值；根据所述直流电流值对所述沉积静电放电电流值进行校准。本发明可以沉积静电放电电流进行精确校准。
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公开(公告)号：CN109713453A
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201811602841.4
申请日：2018-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种时域双脊喇叭天线，包括对称设置的相同结构的第一金属板和第二金属板；第一金属板包括第一侧板，第二金属板包括第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板相对的一侧表面分别形成有第一脊和第二脊；所述第一金属板和所述第二金属板的对称面为垂直极化面，所述第一脊和第二脊在平行于所述垂直极化面的轮廓沿信号发射方向线性扩张，在垂直于所述垂直极化面的轮廓沿信号发射方向曲线扩张，本发明可改善目前时域宽带天线的缺陷，确保了时域信号波形的保真性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109633513A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811561601.4
申请日：2018-12-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/02
CPC classification number: G01R35/02
Abstract: 本发明提供一种设备电磁辐射试验暗室性能的确定方法及系统，包括：建立发射天线仿真模型；建立与每种使用的接收天线一一对应的接收天线仿真模型；基于所述发射天线仿真模型和任意一种接收天线仿真模型，确认对应使用的接收天线下的所述待确定的设备电磁辐射试验暗室的性能。本发明考虑了设备电磁辐射试验暗室中金属接地平板的影响，同时完全模拟设备电磁辐射试验布置情形，可以实现对设备电磁辐射试验暗室性能的有效分析，并且在设备电磁辐射试验中，对于不同测量频段，使用的测量天线不同，需要考虑实际试验过程中使用的天线类型，能够实现全频段范围内模拟被测设备。
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公开(公告)号：CN106770374A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611083558.6
申请日：2016-11-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N22/00
Abstract: 本发明提出一种吸波材料反射测量装置，包括发射天线、接收天线、拱形架、时域脉冲发生器、时域脉冲接收机、良导体板；接收天线和发射天线对称地放置于拱形架上，发射天线和接收天线的位置、口面法线方向可调，时域脉冲发生器产生时域脉冲、激励所述发射天线；时域脉冲接收机接收时域信号，良导体板面向发射天线和接收天线的一面铺设吸波材料制成吸波材料板。测量方法包含以下步骤：使接收、发射天线口面法线和被测的吸波材料板的法线之间的夹角相等；发出时域脉冲信号、接收时域接收信号波形；使用时间窗选出被测吸波材料时域反射信号进行时频域处理得到吸波材料频域反射波形。本发明减小数据时频域变换造成的测试误差。
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公开(公告)号：CN103645455B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201310705549.6
申请日：2013-12-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种探头校准装置，该校准装置包括定位基准盘、第一校准支架和第二校准支架；第一校准支架包括第一支撑底盘、一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件；第二校准支架包括第二支撑底盘、一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件；定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接，第一连接板一端与定位基准盘铰接，另一端与第一支撑底盘固定连接；第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接，第二连接板的一端与第一支撑底盘铰接，另一端与第二支撑底盘铰接。通过简单的旋转移动即可调整探头位置，从而提高测试精度，工作效率。
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公开(公告)号：CN119828060A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411967098.8
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及探头性能校准领域，尤其涉及一种用于校准脉冲场探头性能的装置及方法，旨在解决校准过程中脉冲场强幅度的不稳定，从而影响脉冲场探头的校准结果的问题。本发明包括脉冲源、金属地板和单锥体，将待校准探头放置在金属地板和单锥体之间形成的时域电磁脉冲辐射场第一预设位置上，所述待校准探头与电压监测装置连接，所述时域电磁脉冲辐射场中第二预设位置上还放置有参考探头，所述参考探头与电压监测装置连接。本发明能够显著减少因脉冲源输出不稳定而引起的误差，不仅提高了校准过程中的精度和可靠性，还简化了校准流程。
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公开(公告)号：CN118131102A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311862297.8
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本说明书公开了一种扩大脉冲场探头校准区域的改进装置，涉及电磁脉冲场探头时域校准领域，旨在解决现有技术校准区域的空间范围小、校准精度低的问题。本发明装置包括：脉冲源、金属地板、单锥结构体、屏风装置；金属地板与侧面、顶面的屏风装置构成了一个密闭空间；单锥结构体设置于密闭空间中；当工作时，脉冲源产生的时域电磁脉冲信号通过单锥结构体的馈电端口进入单锥结构体后，在单锥结构体与金属地板之间产生时域电磁脉冲辐射场，将电磁脉冲场探头设置于时域电磁脉冲辐射场内场点位置处，实现所述电磁脉冲场探头的时域校准。本发明提高了电磁脉冲场探头的时域校准的精度，并扩大了脉冲场探头校准的可用区域。
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