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公开(公告)号：CN108169651B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201711174137.9
申请日：2017-11-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请实施例提供一种时钟晶体振荡器检测方法，包括整体检测过程、开封检测过程，所述整体检测过程包括以下步骤：用显微镜外观检查；X光检查、电流电压特征测试、密封测试、颗粒碰撞试验、超声扫描显微镜检测；所述开封检测包含以下步骤：显微镜检查、扫描电镜晶片检测、晶片功能测试、金相显微镜芯片检测、芯片功能测试、扫描电镜芯片内部检测步骤。此检测流程按照先非破坏性检测后破坏性检测的方法，缩短了失效检测步骤，提高了失效检测的效率和准确性。通过此方法的应用，可以达到在生产、试验和使用过程中提高器件质量和可靠性的目的。
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公开(公告)号：CN111641389A
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN202010401878.1
申请日：2020-05-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03B5/04
Abstract: 本发明公开一种表贴温补晶振设计方法，该方法为，先对表贴温补晶振的设计参数进行确认，再根据设计参数对表贴温补晶振的陶瓷底座、温补芯片、石英振子和金属盖板进行选取及设计，设计完后对表贴温补晶振进行调试和试验验证，若调试和试验验证满足表贴温补晶振设计参数要求，则结束设计流程，若调试和试验验证不满足表贴温补晶振设计参数要求，则重新采用前述步骤进行设计。本发明所述的方法是专门针对表贴温补晶振设计的，此设计流程缩短了设计步骤，提高了设计的效率和准确性，通过此方法可以提高设计过程中表贴温补晶振设计的准确性。
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公开(公告)号：CN111049496A
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201911300641.8
申请日：2019-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种小型差分温补晶体振荡器，包括底座、温补晶振、差分倍频模块、金属壳罩。所述温补晶振产生的基频信号经所述差分倍频模块处理后，产生差分输出振荡信号。所述温补晶振和差分倍频模块的输入输出端通过导电胶粘接在印刷电路板上，再经过底座引脚输出。所述温补晶振、差分倍频模块安装在所述金属壳罩和底座围成的腔体内。本申请解决传统温补晶振中输出波形通常为单端输出、输出频率较低的问题。
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公开(公告)号：CN110296896A
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201910588324.4
申请日：2019-07-02
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种用于元器件线状引出端抗拉抗弯测试的装置，其支架通过固定螺钉与底座连接固定；夹具通过轴承安装在支架上，夹具通过连接螺钉与摇杆连接；定位手柄包括导向段，弹簧套在定位手柄外，定位手柄安装在摇杆上；限位块安装在支架上且在摇杆上方；定位手柄上有定位销，支架上有定位销匹配的定位孔；其进行抗弯试验时能通过定位手柄控制，使放置元器件的夹具转动，使引出端在砝码重力作用下发生弯曲；旋转定位手柄的操作简单，节约操作时间；能很好地控制弯曲力的大小和方向；试验时可通过限位块准确控制引出端的弯曲角度；能提高元器件引出端进行抗拉抗弯试验的工作效率；操作简便，避免引线伤手，减少样品损失，提高试验结果准确性。
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公开(公告)号：CN108037356A
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201711162178.6
申请日：2017-11-21
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R23/02
Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器频率监测系统及方法。本发明包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，所述主控单元用于向各连接设备输出控制参数，所述变温单元用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；所述供电单元用于给测试单元提供测试电压；所述测试单元用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；所述频率计数单元用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数，实现了在变温条件下对晶体振荡器的连续频率监测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119862863A
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202411910988.5
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种老化监测数据统计方法及装置，包括：将同批产品的老化监测数据以指定排列方式输入表格文件；根据产品标称频率、产品批次号和产品型号对表格文件命名，并将命名后的表格文件放入指定文件夹；判断第一选择是单批产品还是多批产品；当第一选择为单批产品时，从第一指定表格文件中提取至少一个指定产品的老化监测数据绘制第一折线图和第二折线图；当第一选择是多批产品时，从所有第二指定表格文件中提取所有产品的时间和产品频率绘制第一折线图，并从第二选择中提取所有产品的产品编号和老化率绘制第二折线图。本发明提供了一种老化监测数据统计方法及装置，用以解决现有技术中存在的老化监测数据分析举步维艰等问题。
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公开(公告)号：CN118311318A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202311855200.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种元器件微调装置，包括：底板、支座、测试板、弹簧管以及检测探针，其中，底板，用于安装一对或多对支座，对支座进行限位固定；支座，用于安装测试板，其中，一对支座对应安装一个测试板；测试板，用于安装多个弹簧管；弹簧管，用于固定待测的元器件的引线，使元器件的引线与检测探针接触；检测探针，用于检测元器件输出信号的频率。本申请解决了现有技术中的石英晶体元器件装架振子微调装置存在生产效率低，容易对引线造成损伤及操作时容易接触不良的问题。
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公开(公告)号：CN118249769A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202311835630.6
申请日：2023-12-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/05
Abstract: 本发明涉及一种单节单片晶体滤波器插接配对基座及其配对方法，属于晶体滤波器的调试技术领域。基座包括包括一个表面有八个圆孔的金属壳罩、八个圆孔插针、两个射频同轴连接器、两个接地垫片、一个隔板、数量匹配的可调电容和数量匹配的阻抗匹配线圈。单节单片晶体滤波器配对方法，包括挑选出中心频率和带宽相近的单节单片晶体滤波器，识别出单节单片晶体滤波器中电阻更小的一端谐振器，以辨别级联方向，按照级联方向将单节单片晶体滤波器插入配对基座中，便可以模拟单节单片晶体滤波器级联状态并即时测试波形，判断单节片匹配性。通过该方法挑选匹配的单节单片滤波器，可在正式装配工艺中提高成品合格率。
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公开(公告)号：CN118130930A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311827899.X
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种晶体振荡器单粒子实时在线监测方法、装置和存储介质，该装置包括：加电设备用于输送电力至目标部件上，单粒子板加电设备与单粒子板连接，单粒子板具有单粒子效应试验表贴晶振，其中，单粒子效应试验表贴晶振的内部芯片暴露于外界以便与加电设备通电，监控单元用于实时监测记录单粒子板的表贴晶振输出信号和工作电流，监控单元与单粒子板连接，测试单元用于判断单粒子板的表贴晶振输出信号和工作电流是否异常，以确定单粒子效应试验表贴晶振的抗单粒子性能，测试器与监控单元连接。解决传统设备不能实时在线监测的缺点，满足全面评价晶体振荡器的抗单粒子指标的要求，为提高产品的可靠性的提升提供试验依据。
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公开(公告)号：CN116131790A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211499571.5
申请日：2022-11-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例公开一种石英晶片腐蚀方法和系统，其中，该方法的步骤包括：对预置的石英晶片进行清洗；对清洗后的石英晶片依次进行预腐蚀和高基频腐蚀处理，获得成品晶片。本申请所述方案制作方式简单，制作时间短，在保证晶片频率质量的前提下，能够满足高频晶片的制作需求。
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