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公开(公告)号：CN104181128A
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201410418533.1
申请日：2014-08-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/47
Abstract: 基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法，涉及材料物性测量技术领域。它是为了解决传统辐射物性参数的测量物件测量过程中存在信噪比低、动态范围小的问题。本发明可以同时测量多个辐射物性，稳定性同比提高了20％，可用于航空航天、生物医疗、燃烧诊断、光学探测及无损探伤等工程领域。时间相关单光子计数技术是一种具有高时间分辨率可用于极微弱光信号探测的技术，单光子计数器具有受探测器不稳定因素的影响小、信噪比高、动态范围宽、设备便宜以及可以输出数字信号便于数据处理等优点。本发明适用于材料物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103411905A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310369795.9
申请日：2013-08-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，它涉及一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，本发明是要解决现有基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量信息量不足和测量结果误差较大的问题。本发明方法通过如下步骤来实现：一、获得试件的时域半球反射信号曲线R(t)；二、获得试件在N组工况下的时域半球反射信号曲线Ri,mea(t)；三、获得计算域内的辐射强度场；四、获得试件x=0左侧边界上的时域半球反射信号的估计值Ri,est(t)；五、获得逆问题算法中的目标函数值Fobj；六、获得待测介质的吸收系数κa和待测介质的散射系数κs。本发明可应用于参与性介质辐射物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103389272A
公开(公告)日：2013-11-13
申请号：CN201310331875.5
申请日：2013-08-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光的半透明介质衰减系数和散射反照率的快速测量方法，属于半透明介质辐射物性测量技术领域。本发明解决了基于逆问题求解的半透明介质辐射测量方法测量速度缓慢的问题，本发明向半透明待测试件的一侧表面涂覆上黑度涂层，利用高斯脉冲激光光束垂直入射到试件无涂层的一侧表面，采用单光子计数器测量半透明介质时域半球反射信号；设定待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω的值，时域半球反射信号的估计值与用单光子计数器测量半透明介质的时域半球反射信号做最小二乘差值；判断该差值是否小于阈值，若是将设定的待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω作为结果。本发明适用于半透明介质辐射物性测量。
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公开(公告)号：CN102353478A
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201110304148.0
申请日：2011-10-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01K15/00
Abstract: 半透明介质环境下非接触测温的校正方法，属于高温测量技术领域。它解决了被测物体表面处于半透明介质覆盖的环境下时，采用传统方法探测到的辐射能量不能通过传统的材料表面发射率修正方法进行修正得到其真实温度的问题。首先判断半透明介质与被测材料表面是否接触，若接触，选择一维耦合换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；若不接触，选择一维纯辐射换热模型，采用有限体积法进行正向模型的计算，得到测温设备能够获得的理论辐射能量值；然后测量被测材料表面的实际辐射能量值；采用智能微粒群优化算法反演被测材料表面的真实温度值。本发明适用于半透明介质环境下被测材料表面的温度测量。
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公开(公告)号：CN116293059A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310510513.6
申请日：2023-05-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 热驱动常闭式微型调节阀门及电推进流量控制系统，属于阀门技术领域。出口阀体和入口阀体相互连接，且均设置有轴向贯通的气道，两个气道能够相互连通，通过出口阀体和入口阀体之间的连接能够阻断气道连通，加热膜包裹在出口阀体和入口阀体外侧，为出口阀体和入口阀体加热，出口阀体和入口阀体加热膨胀后能够使两个气道连通。本发明利用材料的热膨胀特性，使用两种不同线膨胀系数的材料，在外部加热器的作用下，造成阀门温度变化，从而发生膨胀变形进而使阀门开启和关闭，不同温度下阀门开启程度不同，且受热膨胀变形量产生的变形量差通常在纳米级，因此能够用于精确控制阀门的通流面积，进而实现对微流量的高稳定控制。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109949656A
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201910314679.4
申请日：2019-04-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G09B9/08
Abstract: 本发明公开了一种基于磁滞制动的负载模拟器，所述负载模拟器包括舵机、力矩加载装置、力矩传感器和控制装置，其中：所述舵机与力矩传感器一端连接，力矩传感器另一端与力矩加载装置连接；所述力矩加载装置由一个磁滞制动器和一个伺服电机组成，伺服电机的输出轴与磁滞制动器的定子连接；所述力矩加载装置和力矩传感器分别信号连接控制装置。本发明的负载模拟器具备比传统电液式、电动式负载模拟器受承载装置运动扰动影响更小的能力，并且能够实现任意载荷谱和更高精度的力矩加载。
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公开(公告)号：CN109798341A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201910157938.7
申请日：2019-03-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种一种深度模拟系统，所述系统包括系统驱动单元、机械执行单元和液压及传感系统单元，其中：所述系统驱动单元包括伺服电机和平行带联轴；所述机械执行单元包括滚珠丝杠、导向安装板和连接块；所述液压及传感系统单元包括补充油箱、单向阀、传感部分和外接头；所述传感部分包括密闭容腔和通过液压阀块与之相连的压力传感器；所述导向安装板上安装有滚珠丝杠和液压缸的液压缸杆；所述伺服电机通过平行带联轴与滚珠丝杠相连；所述滚珠丝杠通过连接块与液压缸的液压缸杆相连；所述补充油箱与单向阀相连；所述单向阀分别与液压缸和密闭容腔连接；所述密闭容腔分别与液压缸和外接头相连。本发明解决了传统的液压式电液伺服深度模拟器在压差过小时的失控现象。
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公开(公告)号：CN106023082B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
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公开(公告)号：CN103439283B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201310412796.7
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法，属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面，利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号，最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。
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公开(公告)号：CN102279049A
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN201110197454.9
申请日：2011-07-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 高温粒子红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法，涉及一种弥散颗粒红外光谱辐射特性的测量装置及测量方法，它解决了现有技术无法测量高温连续光谱范围内自然状态粒子辐射特性的问题。本发明采用环境补偿算法，实现了对自然状态下高温粒子光谱等效透射比的测量，确定了对连续光谱范围内高温粒子辐射特性测量的适用性，并为进一步反演高温粒子复折射率的研究提供可靠的实验数据和实验装置，本发明的测量不确定度小于2％。本发明可以广泛应用于化工、冶金、动力、建筑、医药、生物、食品、航天、军事及大气科学等领域。
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