非接触三维形状测定方法及装置

    公开(公告)号:CN100507441C

    公开(公告)日:2009-07-01

    申请号:CN200410033227.2

    申请日:2004-03-31

    Inventor: 吉田博行

    CPC classification number: G01B11/2527 G01B11/254

    Abstract: 一种边使相位移位边从不同于投影方向的其它方向来观测投影到测定对象的光栅图形,以此来解析按测定对象的形状来变形的光栅图像的对比度,由此来获取形状的非接触三维形状测定方法,其中,使投影侧及摄像侧的焦点连续移位,以扩大深度方向的测定范围,由此可在短时间内对大测定范围的三维形状进行非接触测定。

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