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公开(公告)号：JP2017040661A
公开(公告)日：2017-02-23
申请号：JP2016197213
申请日：2016-10-05
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】真円度測定のデータと表面粗さ測定のデータとに各々により得られたデータを相互に有効利用し、測定精度の向上等を図ることができる形状測定装置及び形状測定方法を提供する。 【解決手段】測定対象物Wを周方向に相対的に回転する回転移動部12と、回転する測定対象物の真円度測定を行う第1測定部24と、第1測定部に対して周方向の反対側の位置において、回転する測定対象物の表面粗さ測定を行う第2測定部124と、測定対象物の回転角度を検出する回転角度検出手段と、を備え、第1測定部による真円度測定の測定結果の取得と、第2測定部による表面粗さ測定の測定結果の取得とを、回転角度検出手段の検出結果に基づき測定対象物が一定回転角度を回転する毎に同時に行う。 【選択図】図13
Abstract translation: 提供的是由相应的有效利用相互并将获得的数据和测量的表面粗糙度测量的数据，该形状测定装置及形状测定方法能够被改进的圆度数据，如测量精度 到。 和用于在圆周方向上，用于测量所述测量物体的旋转圆度，圆周相对于所述第一测量单元，所述第一测量单元24相对旋转的测量对象W A旋转运动单元12 在相反方向的位置上，与第二测量单元124来执行测量对象的表面粗糙度测量中旋转时，旋转角度检测装置，用于检测测量对象的旋转角度，并且通过所述第一测量单元 并获得真圆度测量的测量结果，通过第二测定单元，每次测量结果采集表面粗糙度测量的基础上，旋转角检测装置的检测结果来测量对象的同时旋转预定的旋转角度 这样做。 .The 13
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公开(公告)号：JP2016191662A
公开(公告)日：2016-11-10
申请号：JP2015072599
申请日：2015-03-31
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】真円度測定により得られたデータを表面粗さ測定に有効に利用し、測定作業の負担軽減や測定効率の向上等を図ることができる形状測定装置を提供する。 【解決手段】形状測定装置は、真円度測定装置の構成を有し、ワークに対して真円度測定を行った後(ステップS10〜S14)、その測定結果に基づいて表面粗さ測定における測定条件を設定する(ステップS16〜S32)。その設定した測定条件に従って表面粗さ測定を実施する。 【選択図】図3
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种形状测量装置，其能够有效地利用从圆形度测量获得的数据，以有效地减少测量工作的负担并提高测量效率。一种形状测量装置，包括圆形度测量装置和 对工件进行圆度测量（步骤S10〜S14），根据其后的测量结果设定表面粗糙度测量的测量条件（步骤S16至S32）。 然后，设备根据设定的测量条件进行表面粗糙度测量。选择图：图3
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公开(公告)号：JP5971445B1
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：JP2016103576
申请日：2016-05-24
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】小型化を図ることができる真円度測定装置を提供する。 【解決手段】 本発明に係る真円度測定装置1は、ワークWを載置する載物台12であって、回転軸の周りに回転可能な載物台12と、回転軸と平行な方向に沿って移動可能なキャリッジ16と、キャリッジ16に支持され、回転軸の径方向に延びる旋回アーム(第1アーム)18と、旋回アーム18の先端部に径方向に移動可能に支持され、径方向に延びる径方向移動アーム(第2アーム)20と、径方向移動アーム20の先端に固定され、検出器24を固持する検出器ホルダ22と、を備える。 【選択図】図1
Abstract translation: 提供一种圆度测定仪的小型化。 甲根据本发明的圆度测量装置1包括用于安装工件W，可旋转的安装基座12围绕旋转轴线的安装基座12，平行于旋转轴方向 一个滑架16沿着可动，支撑在滑架16，在旋转轴的径向方向上延伸的枢轴臂（第一臂）18可移动地在径向方向上在摆动臂18，其直径的远端部支撑 在一个方向上延伸的径向运动臂（第二臂）20，被固定到径向移动臂20的远端包括一个检测器支架22粘在检测器24上。 点域1
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公开(公告)号：JP2016138831A
公开(公告)日：2016-08-04
申请号：JP2015014383
申请日：2015-01-28
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】小型化を図ることができる真円度測定装置を提供する。 【解決手段】真円度測定装置1は、ベース10と、ベース10上に設けられ、ワークWを載置する載物台12と、ベース10上に立設されたコラム14と、コラム14に沿って移動可能に支持されたキャリッジ16と、径方向(左右方向)の旋回軸の周りに旋回可能にキャリッジ16に支持された旋回アーム18と、径方向に移動可能に支持された径方向移動アーム20と、径方向移動アーム20の先端に固定された検出器ホルダ22とを有し、検出器ホルダ22に検出器24が固持され、径方向移動アーム20の径方向への移動により検出器24の径方向の位置が調整される。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供能够减小其尺寸的圆度测量装置。解决方案：圆度测量装置1包括：基座10; 台12设置在基座10上并放置工件W; 竖立在基座10上的柱14; 沿柱14可移动地支撑的滑架16; 由滑架16支撑的旋转臂18，使其能够沿径向（纵向）绕转动轴转动; 沿径向可移动地支撑的径向移动臂20; 以及固定在径向移动臂20的前端的检测器支架22.检测器24固定在检测器支架22上，检测器24在径向的位置通过径向移动 臂20在径向方向。选择图：图1
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公开(公告)号：JP5939476B1
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：JP2015072599
申请日：2015-03-31
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】真円度測定により得られたデータを表面粗さ測定に有効に利用し、測定作業の負担軽減や測定効率の向上等を図ることができる形状測定装置を提供する。 【解決手段】形状測定装置は、真円度測定装置の構成を有し、ワークに対して真円度測定を行った後(ステップS10〜S14)、その測定結果に基づいて表面粗さ測定における測定条件を設定する(ステップS16〜S32)。その設定した測定条件に従って表面粗さ測定を実施する。 【選択図】図3
Abstract translation: 在通过测量圆度获得的表面粗糙度测量数据A有效地使用，以提供一种可以象的负担和测量效率测量操作得到改善的形状测定装置。 形状测量装置具有一个圆度测量装置的结构，圆度测量所述工件（步骤S10至S14），测得的表面粗糙度基于所述测量结果后 设置测量条件（步骤S16〜S32）。 实现根据所设定的测定条件的表面粗糙度测量。 点域
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公开(公告)号：JP6213800B1
公开(公告)日：2017-10-18
申请号：JP2017131977
申请日：2017-07-05
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】低コストにワークの撓みを低減することができるワークの支持装置を提供する。 【解決手段】水平なテーブルと、テーブルの上面に設けられた3個の第1支点と、第1支点ごとに揺動自在に支持された第1アームであって、且つアーム長手方向の中央部が第1支点により揺動自在に支持されている第1アームと、第1支点ごとの第1アームの上面において揺動自在で且つ第1支点から異なる方向に振り分けて複数設けられ、任意の方向に揺動自在な球支点と、球支点ごとに個別に任意の方向に揺動自在に支持され、ワークにそれぞれ当接する複数のワーク座と、を備える。 【選択図】図4
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公开(公告)号：JP2017161244A
公开(公告)日：2017-09-14
申请号：JP2016043434
申请日：2016-03-07
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】ワーク回転軸と検出器移動軸との直角度の影響を受けることなく、ワークの被測定面の平面度を再現性がよく高精度に測定を行うことができる平面度測定方法を提供する。 【解決手段】第1径方向位置r1に検出器を移動して前記ワークの被測定面の変位を示す第1測定データ(測定結果A)を取得する第1測定工程と、第2径方向位置r2に検出器を移動してワークの被測定面の変位を示す第2測定データ(測定結果B)を取得する第2測定工程と、回転軸Lに対して第1径方向位置r1とは対称の位置である第3径方向位置r1’に検出器を移動してワークの被測定面の変位を示す第3測定データ(測定結果A’)を取得する第3測定工程と、第1測定データ、第2測定データ、及び第3測定データに基づき、ワークの被測定面の平面度を算出する平面度算出工程と、を備える。 【選択図】図6
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公开(公告)号：JP2017156256A
公开(公告)日：2017-09-07
申请号：JP2016040637
申请日：2016-03-03
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】平面度測定装置が持つ特有の問題、つまり、スピンドルの回転軸が測定時に傾斜した際に、スピンドルの回転軸の傾斜量を検知し、検知したスピンドルの回転軸の傾斜量に基づいて測定精度の向上を図ることができる平面度測定装置を提供する。 【解決手段】平面度測定装置10によれば、第2センサ58で検出されたスピンドル20の基準値からの変位量D2から、第1センサ56で検出されたスピンドル20の基準値からの変位量D1を減算し、この変位量減算値を、位置R2から位置R1を減算した距離減算値で除算する。これによって演算処理部46は、傾斜量Bを検知する。そして、検知した傾斜量Bと、検出器32によって検出した測定子30の変位量Cと、に基づいて演算処理部46がワーク14の平面度を算出する。 【選択図】図2
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