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公开(公告)号：CN104220899A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201380016483.8
申请日：2013-03-25
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/18 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/585 , G01N23/046 , G01T1/171 , G01T1/248
Abstract: 一种成像系统(600)包括辐射源(608)和探测器阵列(610)，其中，所述辐射源(608)发射穿过检查区域的多色辐射，所述探测器阵列(610)定位为与所述辐射源相对，位于所述检查区域的对面，所述探测器阵列(610)包括麻痹型光子计数探测器像素(611)，所述麻痹型光子计数探测器像素(611)探测穿过所述检查区域并且照射所述探测器像素的所述辐射的光子、并且生成指示每个探测到的光子的信号。输出光子计数率到输入光子计数率的映射(626)包括将所述探测器像素的多个输入光子计数率映射到所述探测器像素的单一的输出光子计数率的至少一个映射，并且输入光子计数率确定器(624)将所述映射的所述多个输入光子计数率中的一个输入光子计数率识别为所述探测器像素的正确的输入光子计数率。重建器基于识别出的输入光子计数率来重建所述信号。
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公开(公告)号：CN103765244A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201280042035.0
申请日：2012-08-16
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 一种探测器阵列包括至少一个直接转换探测器像素（114-114M），所述至少一个直接转换探测器像素被配置为探测多色电离辐射的光子。所述像素包括阴极层（116）、阳极层（118）、直接转换材料（120）和栅电极，所述阳极层包括用于所述至少一个探测器像素中的每个的阳极电极（118-118M），所述直接转换材料被放置在阴极层和阳极层之间，所述栅电极被放置在所述直接转换材料中，平行于并且在阴极层和阳极层之间。
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公开(公告)号：CN103384498A
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN201280009972.6
申请日：2012-02-20
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G21K1/00 , A61B6/027 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/4078 , A61B6/4233 , A61B6/482
Abstract: 本发明涉及一种探测装置，其包括用于过滤锥形辐射束（4）的滤波器（20），使得生成辐射束的具有不同能量谱的至少第一区域（22）和第二区域（23），其中，所述辐射束的所述第一区域辐照探测器探测表面（21）上的第一探测器面积（25），从而生成第一探测值集合，辐射束的第二区域辐照探测表面上的第二探测器面积（26），从而生成第二探测值集合。例如，利用滤波器，可以将探测装置用作双能量计算机断层摄影装置，其中，例如可以通过将滤波器添加到标准计算机断层摄影装置中，将标准计算机断层摄影装置变换成双能量计算机断层摄影装置，优选地不更改辐射源和探测器。
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公开(公告)号：CN114902078B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202080090585.4
申请日：2020-12-15
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及用于校正由用于谱计算机断层摄影系统(300)的光子计数探测器(111)探测到的X射线光子的能量分箱中的计数数量(115)的系统(100)和方法。考虑光子计数探测器的照射历史(125)以确定光子计数探测器的增益和/或偏移。根据与确定的增益和/或偏移相对应的校正值(135)来校正探测到的光子的能量分箱中的计数数量。
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公开(公告)号：CN109313275B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN201780035141.9
申请日：2017-06-07
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及一种针对包括探测器元件的辐射探测器(2)的校正设备(8)，每个探测器元件用于探测入射光子。所述校正设备(8)被配置为读取表示针对不同入射光子通量由所述探测器元件探测到的入射光子通量的探测信号；并且评估单元(11)被配置为基于对各自探测器元件的探测信号的集体评估，针对每个探测器元件确定所述探测器元件的死区时间和所述探测器元件的表示有效面积的参数。此外，所述校正设备(8)被配置为基于所述探测器元件的表示有效面积的所确定的参数和所确定出死区时间，针对每个探测器元件确定校正参数以补偿所述探测器元件的有效面积和死区时间的差异。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107847200B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN201680041153.8
申请日：2016-07-12
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
IPC: A61B6/00
Abstract: 本发明涉及一种X射线成像装置（2），其包括：源（4），其用于生成X射线辐射；对象接收空间（6），其用于布置感兴趣对象以进行X射线成像；X射线准直器布置（8），其被布置在源（4）与准直器布置（8）之间；以及X射线反射镜布置（10）。反射镜布置（10）例如包括两个渐缩反射镜（22），所述两个渐缩反射镜（22）彼此相对并且适合于将源（4）的X射线辐射引导到准直器布置（8）。因此，增加了对象接收空间（6）处的X射线强度。
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公开(公告)号：CN108139487B
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN201680049944.5
申请日：2016-07-29
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及用于对转换器材料块中的光子相互作用进行计数并且解决电荷共享的问题的光子计数设备和方法。考虑在优选非常短的符合窗口内的近邻像素中的脉冲的开始，能够已经在脉冲的开始的情况下探测到电荷共享事件的发生。根据本发明，探测是否脉冲正在被处理，并且一个或多个近邻像素被侦测，以决定在非常短的符合窗口内是否已经记录了同时的相互作用。
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公开(公告)号：CN106999137B
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201580063910.7
申请日：2015-11-17
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor： E·勒斯尔
Abstract: 本发明涉及用于X射线相衬断层合成成像的X射线探测器布置(10)，用于X射线相衬断层合成成像的线探测器(1)，用于X射线相衬断层合成成像的成像系统(24)，用于X射线相衬断层合成成像的方法，以及用于控制这种布置的计算机程序元件和存储了这种计算机程序元件的计算机可读介质。所述X射线探测器布置(10)包括若干线探测器(1)。每个线探测器(1)被配置为在撞击这种线探测器(1)的X射线束(2)的至少一部分中探测莫尔图样。每个线探测器(1)包括若干探测器线(11)，其中，每个线探测器(1)的宽度W等于莫尔图样的一个周期或整数倍的周期。
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公开(公告)号：CN106030345B
公开(公告)日：2019-09-03
申请号：CN201580008130.2
申请日：2015-12-09
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及一种X射线探测器，所述X射线探测器包括直接转换半导体层(60)，所述直接转换半导体层具有多个像素，所述多个像素用于将入射辐射转换成具有所述半导体层的带隙能量特性的电测量信号，其中，所述入射辐射为由X射线源(2)发射的X射线辐射或者由至少一个光源(30、33)发射的光。另外，评估单元(67)被提供用于根据当来自所述至少一个光源的具有第一强度的光被耦合到所述半导体层中时每像素或每像素组所生成的第一电测量信号以及当来自所述至少一个光源的具有第二强度的光被耦合到所述半导体层中时每像素或每像素组所生成的第二电测量信号来计算每像素或每像素组的评估信号，其中，所述评估单元被配置为检测所述第一电测量信号和所述第二电测量信号中每像素或每像素组的噪声峰值，并且被配置为根据检测到的噪声峰值来确定每像素或每像素组的偏置和增益。探测单元(69)被提供用于根据当X射线辐射入射到所述半导体层上时所生成的电测量信号来确定探测信号，并且校准单元(68)被提供用于基于所述评估信号来校准所述探测单元。
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公开(公告)号：CN110072458A
公开(公告)日：2019-07-30
申请号：CN201780076034.0
申请日：2017-12-07
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及一种在用于采集对象(3)的投影数据的投影数据采集装置(2)中使用的对象支撑设备(1)。所述对象支撑设备包括：支撑部件(4)，其提供支撑表面(5)，所述支撑部件用于在采集所述投影数据的同时支撑所述对象；衍射光栅(6)，其用于使X射线发生衍射；以及移动单元(7、8)，其用于使所述支撑部件和所述衍射光栅相对于彼此移动。这种相对移动能够允许所述支撑部件的移动，使得所述对象被移动通过X射线(16)以用于确定所述对象的不同部分的投影数据，同时所述衍射光栅仍然能够被所述X射线穿过。这些投影数据能够用于生成相对较大的相衬投影图像和/或暗场投影图像。
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