면조명 장치
    22.
    发明授权
    면조명 장치 有权
    表面照明器

    公开(公告)号:KR101317191B1

    公开(公告)日:2013-10-15

    申请号:KR1020110143204

    申请日:2011-12-27

    Abstract: 도광판의 제조가 용이한 면광원 장치가 제공된다.
    개시되는 면광원 장치는 다수의 엘이디를 구비하는 광원부; 상기 광원부로부터 출사되는 광을 안내하여 면광원으로 형성하는 도광판; 상기 도광판의 일면에 배치되어 상기 도광판으로부터 입사되는 빛을 반사키켜 상기 도광판으로 재입사시키는 반사부재; 및 상기 도광판의 타면에 배치되어 상기 도광판으로부터 출사되는 빛을 확산시키는 확산부재;를 포함하며, 상기 반사부재가 배치되는 상기 도광판의 일면은 요철형상이 없는 평면으로 이루어지며, 상기 도광판과 반사부재 사이에는 상기 도광판과 동일한 굴절률을 갖는 굴절률 정합물질이 구비되는 것을 특징으로 한다.

    Abstract translation: 提供了一种易于制造导光板的平面光源装置。

    분진농도 측정장치
    28.
    发明授权
    분진농도 측정장치 失效
    粉尘浓度测量装置

    公开(公告)号:KR100359237B1

    公开(公告)日:2002-11-04

    申请号:KR1020000080046

    申请日:2000-12-22

    Abstract: 본 발명은 분진이 발생하는 곳에 설치되어 분진의 농도를 측정하는 분진농도 측정장치에 있어서, 측정된 분진농도값에 대한 신뢰도가 높도록 신호증폭 및 신호변환 과정을 축소시킨 분진농도 측정장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.
    본 발명에 따르면, 광원으로부터 투광된 빛이 일정한 세기의 빛인가를 검측하는 기준값 검출센서(15)와, 분진에 의해 산란되어진 빛을 받아 세기를 검측하는 측정값 검출센서(17)와, 기준값 검출센서(15)와 측정값 검출센서(17)로부터 출력된 신호를 각각 1차 증폭하는 증폭기(60)와, 증폭기(60)에 의해 증폭된 두 신호를 다중화하는 멀티플럭스(Multiplex)(62)를 포함하며, 산란된 빛의 세기로서 분진의 농도를 측정하는 분진농도 측정장치에 있어서, 멀티플럭스(62)로부터 출력된 신호를 일정 범위까지 증폭하는 프로그래머블 게인 증폭기(PGA; Programmable Gain Amplifier)(64)와, 프로그래머블 게인 증폭기(64)로부터 증폭된 값을 일정대역의 주파수만 필터링하는 밴드 패스 필터(BPF; Band Pass Filter)(66)와, 필터링된 주파수를 디지털신호로 변환하는 AD변환기(68) 및, AD변환기(68) 로부터 디지털신호를 입력받아 빛의 기준값과 측정값을 비교 연산하여 분진의 양을 측정하고, 빛을 투광하는 광원의 세기를 일정하게 제어하는 제어부(70)를 포함하는 분진농도 측정장치가 제공된다.

    진동온도복합센서를 구비한 진동인디케이터
    29.
    发明授权
    진동온도복합센서를 구비한 진동인디케이터 失效
    具有用于感测振动和温度的混合传感器的振动指示器

    公开(公告)号:KR100347008B1

    公开(公告)日:2002-07-31

    申请号:KR1019990061375

    申请日:1999-12-23

    Inventor: 정우철 김영덕

    Abstract: 이발명은진동센서에의한진동측정치의온도의존성을보정하기위한것으로서, 임피던스변환용세라믹소자(11)의하부에부착된온도센서(12)를포함하는진동온도복합센서(10)를제공하고, 그러한진동온도복합센서(10)와, 세라믹소자(11)가갖는온도의존성에관한출력변동값을미리측정하여기록해두기위한기억소자(23)와, 기억소자(23)에저장된데이터를이용하여온도측정치을감안하여보정된순수진동치를연산하는 CPU(25)를구비한진동측정인디게이터를제공한다.

    저항측정 방식을 이용한 나사산 가공면 검출장치
    30.
    发明授权
    저항측정 방식을 이용한 나사산 가공면 검출장치 失效
    通过电阻测量方法对螺纹表面进行检测

    公开(公告)号:KR100332837B1

    公开(公告)日:2002-04-17

    申请号:KR1019990061376

    申请日:1999-12-23

    Inventor: 정우철 김영덕

    Abstract: 본발명은도전성프루브를나사산과접촉시키고이 때발생하는접촉저항을미세저항측정이가능한밀리옴(m ohm) 측정기를사용하여측정함으로써, 나사산가공면의불량여부를확인할수 있는저항측정방식을이용한나사산가공면검출장치를제공하는데 그목적이있다. 위와같은목적을달성하기위한본 발명은, 제품(1)의나사산구멍에삽입되어그 가공면과접촉하는검출용프루브(11; probe)와, 상기검출용프루브(11)를나사산구멍에대해전후진시키는실린더(12) 및, 상기검출용프루브(11) 및제품(1)의표면에각각접속되어나사산의개수에따른나사산가공면의저항값을측정하고이렇게측정된저항값과정상상태로가공된나사산가공면의저항값을비교하여나사산가공면의불량여부를검출하는밀리옴측정기(15 ; m ohm meter)를포함함으로써, 제품의내부에형성되는나사산가공면의불량여부를검출한다. 또한, 상기실린더(12)에부착되어실린더로드(16)의이동거리를저항값으로측정하는전위차계(17 ; potentiometer)와, 상기전위차계(17)에접속되어저항값으로측정한상기실린더로드(16)의이동거리를치수화하는변위량계(18)를부가적으로포함함으로써, 나사산의가공깊이를측정한다.

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