公开(公告)号：KR1019990051726A

公开(公告)日：1999-07-05

申请号：KR1019970071094

申请日：1997-12-19

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 김용환 ,  장우현 ,  정항근 ,  김종교

IPC: G01R13/00

Abstract: 본 발명은 종합정보통신망에 접속되는 단말장치의 디지털 신호 출력펄스 형상을 분석방법에 관한 것으로, 화면상에서 단말장치의 출력펄스를 허용범위의 틀 위에 자동으로 정렬시킴으로써 쉽고 정확하게 기준내의 합격 여부를 판단할 수 있게 한다.
단말장치의 출력펄스를 허용범위의 틀 위에 정렬시키기 위하여 공칭펄스 첨두값의 기준값으로 정하고, 샘플링 된 단말장치 출력펄스의 데이터 중 연속적으로 증가하는 두 개의 데이터 사이에 기준값이 있을 때 상기 두 개의 데이터를 선형보간하여 기준값에 해당하는 시간 위치를 찾아 기준점으로 정한다. 이 기준점을 공칭펄스가 상승하는 시간상으로 옮겨 샘플링 된 데이터를 정렬시키고 허용범위의 상한값 및 하한값과 비교한다.
그후, 평균오차를 구해 공칭펄스로부터의 오차를 나타내고, 상대평균여유도를 구해 공칭펄스를 기준으로 하여 출력펄스가 허용범위에 대하여 어느 정도 여유를 가지고 있는지 알 수 있도록 하며, 상대여유도의 최소값을 구하여 어느 부분이 가장 취약한지를 알 수 있게 한다.

公开(公告)号：KR100174874B1

公开(公告)日：1999-04-01

申请号：KR1019950047859

申请日：1995-12-08

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 박승근 ,  장우현 ,  김용환

IPC: G06F17/00 ,  G06F11/00

Abstract: 본 발명은 말미보외법을 사용한 비트오율의 측정에 있어서, 정확한 비트오율의 측정을 위해 의사임계값의 로그값과 비트오율의 더블로그값에 대한 상관계수를 이용하여 선형성이 유효한 직선방정식을 구하고, 실제 임계값의 로그값을 직선방정식에 대입하여 실제 비트오율을 측정하는 방법에 필요한 의사임계값 결정방법에 관한 것이다. 그 방법은, 비트오율 측정에 있어서 사용되는 세 개의 의사임계값(x
1 ,x
2 ,x
3 )을 등간격(T)으로 결정하고 크기순(x
1 x
2 =x
1 +Tx
3 =x
2 +T)으로 기억장치에 순서대로 놓는다. 샘플링된 전체 신호 수 및 세 개의 의사임계값(x
1 ,x
2 ,x
3 )을 기준으로 하여 구한 각각의 에러 수를 카운터를 통하여 구한다. 각 연산기를 통하여 의사임계값 별로 의사비트오율을 구하고 세개의 의사임계값의 로그값과 각각의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 의사 비트오율의 더블로그값을 계산한다. 세 개의 의사임계값의 로그값과 각각의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 세 개의 의사 비트오율의 더블로그값에 대한 상관계수의 절대값을 구한다. 상관계수의 절대값으로 부터 세 개의 의사임계값의 로그값과 세 개의 의사 비트오율의 더블로그값에 대한 선형성을 판별한다. 선형판별기가 선형성이 없다고 판별한 경우에, 새로운 의사임계값을 정하고 그 값을 기존의 세 개로 구성된 기억장치중 하나를 선택하여 기존의 의사임계값 하나를 새로운 의사임계값으로 대체한 후, 새로운 의사임계값과 기존에 있는 두 개의 임계값에 대한 로그값과 이러한 세 개의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 각각의 의사 비트오율의 더블로그값을 구한다. 상관계수의 절대값의 판별에 따라 세 개의 의사임계값의 로그값과 세 개의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 각각의 의사 비트오율의 더블로그값이 선형성이 있다고 판별되는 경우에, 세 개의 의사임계값의 로그값과 각각의 의사임계값을 기준으로 구한 의사 비트오율의 더블로그값으로 구성된 세 점을 지나는 직선방정식을 구하고, 실제 임계값의 로그값을 직선방정식에 대입하여 y축 값을 구한 후, 그 값에 자연 지수함수를 두 번 취해서 구한 값으로 실제 비트오율을 측정한다. 따라서, 실제 임계값으로부터 결정되는 실제 비트오율을 얻기 위해서 필요한 샘플링 수보다 작은 샘플링의 수로 실제 비트오율을 측정할 수 있다.

公开(公告)号：KR100152712B1

公开(公告)日：1998-11-02

申请号：KR1019950047849

申请日：1995-12-08

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 박승근 ,  장우현 ,  김용환

IPC: H04M1/24

Abstract: 본 발명은 전화회선상의 송출전력 레벨의 디지털 측정장치 및 방법에 관한 것으로서, 전화망을 공용하는 다른 이용자에게 누화나 과부하 등의 영향을 주지 않기 위해서 필요한 측정방법 및 장치이다. 종래의 송출전력레벨의 문제점은 최대레벨과 평균레벨을 측정하기 위해서 필요한 순간 최대전력이 발생하는 시점을 육안으로 관찰해서 측정해야 하며 요구되는 시간(최대레벨을 위한 측정시간 300ms, 평균레벨을 위한 측정시간 3초) 이 시간축에서 언제, 어디서 발생할지 모르므로 송출전력레벨을 측정하기에는 상당한 어려운 문제점이 있다.
따라서 이를 해결하기 위해서 본 발명에서는 송출신호의 파형을 제곱회로에 통과시켜 전력신호로 바꾸고 적분기를 거쳐 송출신호전력의 평균을 구했다.
또한 송출신호전력을 적분하기 위해서 필요한 시간 간격을 정확히 구하기 위해서 수정발진자를 이용한 클럭 발생회로를 사용했다.
송출전력의 순시전력이 최대가 되는 시간 구간을 찾아내기 위하여 적분이 시작하는 시점을 계속 지연시켜 가면서 변화시키는 슬라이딩 윈도우(Sliding window) 적분방법을 사용했다.
이를 구현하기 위해서 아날로그 적분기를 이용하지 않고 평균값을 취하는 구간의 시작점을 계속 이동시키는 이동 평균값 추정기를 제한하였다.
추정된 이동 평균값을 구하기 위해서 가산기의 어큐뮬레이터를 이용하였으며, 추정된 이동평균값을 저장하기 위해서 어큐뮬레이터를 사용하였다.

公开(公告)号：KR1019970056554A

公开(公告)日：1997-07-31

申请号：KR1019950047849

申请日：1995-12-08

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 박승근 ,  장우현 ,  김용환

IPC: H04M1/24

Abstract: 본 발명은 전화회선상의 송출전력 레벨의 디지털 측정장치 및 방법에 관한 것으로서, 전화망을 공용하는 다른 이용자에게 누화나 과부하 등의 영향을 주지 않기 위해서 필요한 측정방법 및 장치이다. 종래의 송출전력레벨의 문제점은 최대레벨과 평균레벨을 측정하기 위해서 필요한 순간 최대전력이 발생하는 시점을 육안으로 관찰해서 측정해야 하며 요구되는 시간(최대레벨을 위한 측정시간 300ms, 평균레벨을 위한 측정시간 3초) 이 시간축에서 언제, 어디서 발생할지 모르므로 송출전력레벨을 측정하기에는 상당한 어려운 문제점이 있다.
따라서 이를 해결하기 위해서 본 발명에서는 송출신호의 파형을 제곱회로에 통과시켜 전력신호로 바꾸고 적분기를 거쳐 송출신호전력의 평균을 구했다.
또한 송출신호전력을 적분하기 위해서 필요한 시간 간격을 정확히 구하기 위해서 수정발진자를 이용한 클럭 발생회로를 사용했다.
송출전력의 순시전력이 최대가 되는 시간 구간을 찾아내기 위하여 적분이 시작하는 시점을 계속 지연시켜 가면서 변화시키는 슬라이딩 윈도우(Sliding window) 적분방법을 사용했다.
이를 구현하기 위해서 아날로그 적분기를 이용하지 않고 평균값을 취하는 구간의 시작점을 계속 이동시키는 이동 평균값 추정기를 제한하였다.
추정된 이동 평균값을 구하기 위해서 가산기의 어큐뮬레이터를 이용하였으며, 추정된 이동평균값을 저장하기 위해서 어큐뮬레이터를 사용하였다.

公开(公告)号：KR1019970049746A

公开(公告)日：1997-07-29

申请号：KR1019950047859

申请日：1995-12-08

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 박승근 ,  장우현 ,  김용환

IPC: G06F17/00 ,  G06F11/00

Abstract: 본 발명은 말미보외법을 사용한 비트오율의 측정에 있어서, 정확한 비트오율의 측정을 위해 의사임계값의 로그값과 비트오율의 더블로그값에 대한 상관계수를 이용하여 비트오율의 측정에 필요한 선형성을 가지는 임사 임계값 결정방법에 관한 것으로, 특히 비트오율 측정에 있어서 사용되는 세개의 임사임계값(x
1 ,X
2 ,x
3 )을 등간격(T)으로 결정하고 크기순(x
1 〈x
2 =x
1 +T〈x
3 -x
2 +T)으로 기억장치(210),(220),(230)에 순서대로 놓는 제1과정과, 세개의 의사임계값(x
1 ,X
2 ,x
3 )을 기준으로 카운터를 통하여 샘플링된 전체 신호 수 에러 수와 그에 따르는 의사임계값의 로그값 및 비트오율의 더블로그값을 구하는 제2과정과, 세개의 의사임계값의 로그값과 그에 대응되는 비트오율의 더블로그값으로부터 상관계수를 구하는 제3과정과, 상관계수가 '1'인 경우에 보외기를 사용하여 최소제곱법에 의해서 직선으로 보간하여 기울기 및 절편을 구하는 제4과정과, 상관계수가 '1'이 아닌 경우 새로운 임계값을 정하고 그 값을 기존의 기억장치에 저장하여 새로운 임계값과 기존에 있는 두개의 임계값에 대한 로그값과 그에 대응되는 비트오율의 더블로그값을 구하는 제5과정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비트오율 측정시에 의사임계값 결정방법으로서, 유효한 선형성을 가지는 세개의 의사임계값의 로그값과 그에 대응하는 비트오율의 더블로그값으로 실제 임계값에 대한 비트오율을 작은 샘플링 수로 추정할 수 있다.