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公开(公告)号:CN105074431A
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201480017509.5
申请日:2014-02-26
Applicant: 日东电工株式会社
CPC classification number: G01N21/553 , G01N21/7703 , G01N2021/7776 , G01N2201/0638 , G01N2201/08
Abstract: 本发明提供具有非常优异的检测灵敏度的SPR传感器元件和SPR传感器。本发明的SPR传感器元件包括:下包层;芯层,其设置成使所述芯层的至少一部分与该下包层相邻;以及金属层,其覆盖该芯层,其中,该芯层具有折射率均匀层和折射率梯度层,该折射率梯度层配置在该折射率均匀层与该金属层之间,该折射率梯度层的折射率为该折射率均匀层的折射率以上,在该折射率梯度层的厚度方向上,该折射率梯度层的折射率自该折射率梯度层的靠该折射率均匀层侧的表面朝向该金属层侧连续地增大。
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公开(公告)号:CN104718444A
公开(公告)日:2015-06-17
申请号:CN201380052651.9
申请日:2013-08-30
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01N15/1436 , G01N15/1429 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N21/21 , G01N21/47 , G01N21/49 , G01N21/53 , G01N21/645 , G01N2015/0065 , G01N2015/1006 , G01N2021/6478 , G01N2201/06113 , G01N2201/0638 , G01N2201/0683
Abstract: 提供一种微粒测量装置,能够精确检测在通道内流动的微粒的位置。该微粒测量装置具有用于利用光照射通道内流动的微粒的光照射单元以及用于检测从微粒发出的散射光的散射光检测器,其中该散射光检测器设有:用于收集从微粒发出的光的物镜,用于将由物镜收集的光中的散射光分离成第一散射光和第二散射光的光分离元件,用于接收S偏振光分量的第一散射光检测器,以及设置在光分离元件与第一散射光检测器之间并且向第一散射光施加象散的象散元件;并且该散射光检测器被设置使得从物镜的后侧主点至象散元件的前侧主点的长度(L)与象散元件的焦距(f)之间的关系满足以下公式(I):1.5f≤L≤2.5f(I)。
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公开(公告)号:CN102150040B
公开(公告)日:2014-12-31
申请号:CN200980130792.1
申请日:2009-07-22
Applicant: 安捷伦科技有限公司
IPC: G01N30/74 , G01N27/447
CPC classification number: G01N30/74 , G01J2003/102 , G01N21/05 , G01N21/31 , G01N2021/0346 , G01N2021/3129 , G01N2021/3133 , G01N2021/3148 , G01N2021/317 , G01N2030/027 , G01N2201/06153 , G01N2201/0627 , G01N2201/0638
Abstract: 本发明涉及多波长光源,一种用于分离流动相中的样品流体的化合物的流体分离系统(10)包括检测器(50),检测器适于通过向样品流体提供光学激励信号并接收关于光学激励信号的响应信号来检测经分离的化合物。检测器包括适于提供输出光束(230)作为光学激励信号的光源(100)。光源(100)包括多个发光元件(200,200A,200Z)及衍射元件(220),每个发光元件适于发射具有相应波长的光束(210,210A1,210A2,210Z1,210Z2)。多个发光元件(200,200A,200Z)被布置成使入射在衍射元件(220)上的发射光束(210,210A1,210A2,210Z1,210Z2)由衍射元件(220)衍射成输出光束(230)。
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公开(公告)号:CN102150040A
公开(公告)日:2011-08-10
申请号:CN200980130792.1
申请日:2009-07-22
Applicant: 安捷伦科技有限公司
IPC: G01N30/74 , G01N27/447
CPC classification number: G01N30/74 , G01J2003/102 , G01N21/05 , G01N21/31 , G01N2021/0346 , G01N2021/3129 , G01N2021/3133 , G01N2021/3148 , G01N2021/317 , G01N2030/027 , G01N2201/06153 , G01N2201/0627 , G01N2201/0638
Abstract: 本发明涉及多波长光源,一种用于分离流动相中的样品流体的化合物的流体分离系统(10)包括检测器(50),检测器适于通过向样品流体提供光学激励信号并接收关于光学激励信号的响应信号来检测经分离的化合物。检测器包括适于提供输出光束(230)作为光学激励信号的光源(100)。光源(100)包括多个发光元件(200,200A,200Z)及衍射元件(220),每个发光元件适于发射具有相应波长的光束(210,210A1,210A2,210Z1,210Z2)。多个发光元件(200,200A,200Z)被布置成使入射在衍射元件(220)上的发射光束(210,210A1,210A2,210Z1,210Z2)由衍射元件(220)衍射成输出光束(230)。
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公开(公告)号:CN109416316A
公开(公告)日:2019-03-01
申请号:CN201680086479.2
申请日:2016-06-21
Applicant: 深圳源光科技有限公司
CPC classification number: G01N21/6458 , G01N21/648 , G01N21/7703 , G01N2021/6463 , G01N2201/0638
Abstract: 本文公开这样的装置,其包括:探针载体(200),其包括靠衬底(201)支撑的多个光波导(203,204,205);其中多个光波导(203,204,205)中的每个从多个光波导(203,204,205)中的另一个光去耦;其中多个光波导(203,204,205)中的每个包括表面,其包括配置成附连探针(220)的位点。
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公开(公告)号:CN108710272A
公开(公告)日:2018-10-26
申请号:CN201810315679.1
申请日:2018-04-10
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G03G15/5058 , G01N21/55 , G01N2201/0638 , G01N2201/0639 , G01N2201/068 , G03G2215/00042 , G03G15/5054 , G01N2021/556 , G03G15/0178 , G03G2215/00143 , G03G2215/00616
Abstract: 公开了光学传感器和图像形成装置。一种调色剂检测单元(光学传感器)包括:被配置成接收第一照射光的镜面反射光的第一受光元件和被配置成接收第二照射光的漫射反射光的第二受光元件,以及被配置成将从LED发射的光分离成第一照射光和第二照射光的分离部件。壳体形成第一开口和第二开口,第一照射光和第二照射光以及要由第二受光元件接收的漫射反射光通过第一开口,要由第一受光元件接收的镜面反射光通过第二开口。
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公开(公告)号:CN107430263A
公开(公告)日:2017-12-01
申请号:CN201580065112.8
申请日:2015-12-22
Applicant: 苹果公司
IPC: G02B21/00
CPC classification number: G02B21/0016 , G01N21/47 , G01N21/55 , G01N2201/0638 , G01N2201/068 , G02B21/0032 , G02B21/0052 , G02B21/008
Abstract: 本发明提供了一种能够对样本进行光学表征的共焦检查系统。物镜或单独的入射透镜和返回透镜,可将入射光从光源递送到样本并可从样本收集光。共焦光学器件可将所收集的光定向到检测器上。所述系统可将样本处的多个位置上的入射光平均化,例如通过用可枢转的反射镜来扫描入射光学路径和返回光学路径中的入射光,或者通过用多个隔开的共焦孔来照明和收集。所述系统可将所收集的光平均化,例如通过将所收集的光定向至单像素检测器上或者通过将所收集的光定向至多像素检测器上并将像素输出信号平均化以形成单电子信号。平均化所述入射光和/或返回光对于结构化的样本或不均匀的样本可为有利的。
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公开(公告)号:CN107278268A
公开(公告)日:2017-10-20
申请号:CN201680006689.6
申请日:2016-01-06
Applicant: 拜耳股份公司
IPC: G01N21/25
CPC classification number: G01N33/5085 , G01N21/253 , G01N21/255 , G01N2201/0638 , G01N2333/4353 , G06K9/36 , G06T5/20 , G06T7/0012 , G06T7/254 , G06T2207/30024
Abstract: 本发明涉及用于在含水测试中确定有效成分对线虫和其它有机体的作用的设备(1)和方法。根据本发明的设备(1)包括:用于具有多个空腔(31)的细胞培养板(30)的保持架(13),在所述空腔中线虫能够与有效成分一起被填充,其中细胞培养板(30)具有下侧(33)、上侧(32)以及在下侧(33)与上侧(32)之间延伸的侧壁;摄像机(11),该摄像机用于记录细胞培养板(30)的优选地下侧(33)的图像;照明装置(14),具有至少一个第一光源(15),所述第一光源照亮细胞培养板(30),其中在第一光源(15)与细胞培养板(30)的第一侧壁(34)之间在安装状态下布置有第一光学单元,所述第一光学单元将第一光源(15)的光通过第一侧壁(34)朝细胞培养板(30)的下侧(33)的方向引导。通过根据本发明的方法可以在非常短的时间内同时研究许多有效成分。
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公开(公告)号:CN106415247A
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:CN201580026658.2
申请日:2015-08-04
Applicant: 机械视觉照明有限公司
Inventor: 增村茂树
IPC: G01N21/84
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N2201/062 , G01N2201/0636 , G01N2201/0638 , G01N2201/068 , G02B27/02 , G02B27/144 , G02B27/30
Abstract: 本发明提供一种检查用照明装置,所述检查用照明装置在由被检查对象的特征仅产生少许的反射、透射、散射上的变化,也可在一定的条件下,能够辨别拍摄装置的观察立体角内的光的变化量。具体而言,即使反射、透射、散射的变化极小的特征也可以检测出来。在所述检查用照明装置中包括:面光源(1),射出检查光;至少一个遮光罩(M1),位于所述面光源(1)和所述检查对象(W)之间;以及透镜(2),配置在比所述遮光罩(M1)离所述检查对象(W)近的一侧,以使所述遮光罩位于以该透镜的焦点位置为中心的位置。从所述面光源(1)发出的光因透镜(2)照射到所述检查对象(W)时形成的、对所述检查对象(W)的检查光的照射立体角上,形成由因述遮光罩(M1)形成的暗部区域,根据被检查对象的特征点产生的反射、透射、散射的变化,可改变所述检查光的照射立体角的形状、大小及倾斜角。
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公开(公告)号:CN106292180A
公开(公告)日:2017-01-04
申请号:CN201610467574.9
申请日:2016-06-24
Applicant: 信越化学工业株式会社
IPC: G03F1/84 , G01N21/892
CPC classification number: G03F1/36 , G01B11/24 , G01N21/9501 , G01N2201/0638 , G03F1/84 , G01N21/892 , G01N2021/8924
Abstract: 本发明涉及光掩模坯的缺陷检查方法、分选方法和制备方法;利用检查用光学系统检查在具有在基底上形成的至少一个薄膜的光掩模坯的表面部分上存在的缺陷的方法。该方法包括设定缺陷和检查用光学系统的物镜之间的距离为离焦量,通过物镜对缺陷施加检查光,通过物镜将来自用检查光照射的区域的反射光作为放大图像聚集,识别放大图像的光强度变化部分,并且基于放大图像的光强度变化部分的光强度上的变化测定缺陷的凹凸形状。
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