基于法布里-珀罗干涉仪的窄线宽毫米波太赫兹频谱测量装置及方法

    公开(公告)号:CN119803664A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411905959.X

    申请日:2024-12-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种基于法布里‑珀罗干涉仪的窄线宽毫米波太赫兹频谱测量装置及方法,包括:法布里‑珀罗干涉仪、太赫兹透镜、功率探测装置和线宽分析装置;待测辐射源的辐射信号经过所述太赫兹透镜和法布里‑珀罗干涉仪后生成聚焦信号;将所述聚焦信号输入至所述功率探测装置,进行辐射信号的频谱分析,将所述聚焦信号输入至所述线宽分析装置进行辐射信号的线宽分析。本发明解决了现有技术中对毫米波和太赫兹波频谱测量功率覆盖范围小、对环境要求高,难以进行高频段辐射的窄线宽测量的问题。

    一种提升光谱数据采集准确性的密封采集结构

    公开(公告)号:CN115096439B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202210518313.0

    申请日:2022-05-12

    Inventor: 年志刚 罗友菊

    Abstract: 本发明涉及光谱采集结构技术领域,具体涉及一种提升光谱数据采集准确性的密封采集结构,通过密封连接于反应腔体上的密封外管,采集内管为装配于密封外管内部的一套用于采集光谱且隔离反应腔体内污染的一种结构,密封外管另一端连接有密封组件,密封组件远离采集内管一端连接有转换器,转换器远离密封组件一端连接有聚光体,密封外管外侧壁上包覆设有加热壳,加热壳通过外部加热再通过热辐射效应对光谱仪采集内管进行加热,辅助所述采集内管不受腔体反应温度的影响,密封组件上连接有气体接入口,通过通入一定量的惰性气体形成整体采集器装置中的压力高于反应腔体中的压力,进一步提升采集器结构采集数据的准确性。

    分光计模块
    24.
    发明公开
    分光计模块 审中-公开

    公开(公告)号:CN119779484A

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202510183239.5

    申请日:2016-12-22

    Applicant: 光谱公司

    Abstract: 本公开的各个实施例涉及分光计模块。一种用户设备,包括:相机,适于获取落入所述相机的视野内的景象的至少一个图像;分光计模块,适于从所述景象的至少一部分获取光谱信息,其中所述分光计模块的视野包括所述至少一个图像的至少一部分;以及处理单元,适于基于从所述景象的至少一部分所获取的所述光谱信息在所述至少一个图像内确定分光计模块目标区域,并且向所述用户设备的显示器输出显示数据,以用于在所述显示器上提供所述目标区域的指示;所述处理单元还适于:在所述至少一个图像的获取期间检索指示所述相机的焦距的焦点数据;将所述相机的所述焦距与所述分光计模块的最优测量距离相比较;以及基于所述比较的结果输出用户可感知的信息。

    基于可调滑窗的脉冲电弧光谱组分测量装置及方法

    公开(公告)号:CN119595107B

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202510142766.1

    申请日:2025-02-10

    Abstract: 本发明提供了一种基于可调滑窗的脉冲电弧光谱组分测量装置及方法,涉及脉冲电弧光谱分析技术领域,装置主要包括脉冲电弧振荡发生回路、光谱仪及触发控制系统;所述脉冲电弧振荡发生回路包括脉冲能量回路、引弧回路、吸收保护回路、脉冲光谱发射源及时序控制系统。本方案可以实现对脉冲电弧的单周期精确捕捉和测量;可灵活调整滑窗的开启时刻及窗口长度;可以对脉冲电弧强电侧与光谱控制采集弱电侧进行有效隔离,并对上位机系统和光谱仪进行有效绝缘保护;可以进行误差校正,有效排除背景光源及工作电路噪声电流的影响。

    一种LED拉曼光谱连续检测装置

    公开(公告)号:CN118980428B

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411197585.0

    申请日:2024-08-29

    Inventor: 黄飞

    Abstract: 本发明涉及拉曼光谱技术领域,具体是一种LED拉曼光谱连续检测装置,包括该LED拉曼光谱连续检测装置,预先将LED芯片样品安装在物料槽内,且物料槽使得LED芯片样品能够与检测探头一一相对,相比现有的方式,减少LED芯片样品摆放在样品台位置调整的步骤,同时在其中一个LED芯片样品检测结束后,可通过旋转单元控制多棱柱体转动,使得相邻的LED芯片样品转动至与检测探头相对的位置,相比现有LED芯片样品上料和下料方式,本实施例中旋转单元配合多棱柱体,能够快速实现LED芯片样品的上料与下料,效率更高,且能够胜任大批量LED芯片样品的检测。

    图像切割拼接方法及基于图像切割拼接的高光谱成像方法

    公开(公告)号:CN114397016B

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202210065006.1

    申请日:2022-01-20

    Abstract: 本发明涉及图像处理技术领域,提供一种图像切割拼接方法,以及基于图像切割拼接的高光谱成像方法,高光谱成像方法包括步骤:S1、光路元件出射的光经过色散元件,成像于探测元件的靶面,在所述色散元件的波长渐变方向上,探测元件的不同像元阵列获得不同的光谱图像;S2、运动元件驱动所述探测元件运动扫过待测目标,获得一组待测目标的原始图像;S3、所述探测元件扫过待测目标后,经过图像切割拼接方法,获得固定视场下待测目标不同谱段的光谱图像。本发明仅通过移动探测元件即可以获得固定视场内的高光谱图像,结构紧凑,体积小,成本低。

    基于傅里叶变换红外光谱仪的低温会聚透射光谱测量装置

    公开(公告)号:CN119688634A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411806204.4

    申请日:2024-12-10

    Abstract: 本发明涉及一种基于傅里叶变换红外光谱仪的低温会聚透射光谱测量装置。它包括傅里叶变换红外光谱仪、会聚角光学系统、低温光学系统和接收器。会聚角光学系统包括准直透镜、光阑、会聚透镜组和反射镜,低温光学系统包括窗口片、样品架和低温恒温器。利用准直透镜将红外光谱仪出射的发散光转化为平行光,利用孔径光阑调控平行光光斑大小,利用一套会聚透镜先将平行光转化为会聚光、待会聚光经过样品出射后再将出射的发散光转化为平行光,利用非球面凹面反射镜将入射的平行光以会聚状态反射进接收器,利用低温恒温器将样品温度降至待测温度。该低温会聚透射光谱测量装置具有结构简单、会聚角度可调控范围大、光谱波段和温度覆盖范围宽等特点。

    一种基于超材料的芯片式光谱仪

    公开(公告)号:CN114593818B

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202210294473.1

    申请日:2022-03-24

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于超材料的芯片式光谱仪。所述芯片式光谱仪包含至少一个超材料探测单元,且超材料探测单元数越多,所能分析的频点越多。超材料探测单元包括频率选择结构和光电转换结构。在进行光谱分析时,各超材料探测单元中的频率选择结构对于目标信号中特定频率发生响应,并产生局域电场和磁场;置于局域场中的光电转换结构中的自由载流子因受到洛伦兹力作用而发生定向偏转,从而在其边界形成直流电势差。各超材料探测单元对应于各自的频率,如此便实现了特定光频与特定电信号的对应,完成了频谱分析。本发明芯片式光谱仪实现频率分辨和光电探测一体化,具有结构简单、响应速度快、体积小易集成、响应波段范围大等优点。

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