一种基于空间复用消色差超透镜的偏振探测器件

    公开(公告)号:CN117806035A

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202410137526.8

    申请日:2024-02-01

    Applicant: 中山大学

    Abstract: 本发明涉及偏振探测技术领域,具体公开一种基于空间复用消色差超透镜的偏振探测器件,包括自上而下依次设置的超构表面和布拉格反射器;所述超构表面组件包括衬底和纳米介质柱,所述纳米介质柱排列在所述衬底上;所述纳米介质柱的横截面为椭圆形状的各向异性结构,以对不同波长及偏振态具有不同振幅与相位响应;所述布拉格反射器由介质层在空间上交替排列构成,且不同区域的所述介质层的厚度不同,以形成不同的禁带从而起到带通滤波器的作用;该基于空间复用消色差超透镜的偏振探测器件集成了布拉格反射器以过滤出器件对应的工作波长带宽,减小器件对于光源的需求依赖。

    偏振相差检测校准方法及偏振相差检测校准系统

    公开(公告)号:CN117705303A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311535327.4

    申请日:2023-11-15

    Abstract: 本发明公开一种偏振相差检测校准方法及偏振相差检测校准系统,偏振相差检测校准方法基于干涉图样获取装置,干涉图样获取装置包括多组偏振单元,各偏振单元包括四个线偏振微元,四个线偏振微元的偏振夹角两两相差45°,各线偏振微元能透过对应偏振方向的偏振光束,以形成对应的四帧干涉图样;偏振相差检测校准方法包括:获取多组四帧干涉图样,并将每一组四帧干涉图样中对应帧的干涉图样拟确定合成干涉图样,以确定四帧合成干涉图样;根据四帧干涉图样确定与之对应的椭圆表达式,并根据椭圆表达式确定椭圆系数;根据椭圆系数拟合出椭圆图形,并根据椭圆图形相对标准圆图形的偏离程度确定偏振相差,以实现对光隔离器性能的深层次评估。

    摄像方法及程序
    23.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117651851A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202280047061.6

    申请日:2022-06-13

    Abstract: 本发明提供一种能够得到维持高的波长再现性的波长图像的摄像方法及程序。在通过具备处理器的多光谱相机拍摄被摄体的摄像方法中,处理器进行:数据获取工序(步骤S10),获取第1被摄体的第1光谱数据、第2被摄体的第2光谱数据及第3被摄体的第3光谱数据;波长选择工序(步骤S 11),从所获取的第1至第3光谱数据的波长区域选择多个波长,在波长选择工序(步骤S11)中,将第1光谱数据、第2光谱数据、第3光谱数据中的2个光谱数据的特征量的差或比确定为运算量,并求出至少2个以上的运算量而选择多个波长;及摄像工序(步骤S12),以多个波长拍摄包括第1被摄体、第2被摄体、第3被摄体中的至少1个的被摄体。

    一种光束自旋同步剪切干涉方法

    公开(公告)号:CN117346905B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202311639382.8

    申请日:2023-12-04

    Abstract: 本发明公开了一种光束自旋同步剪切干涉方法,包括以下步骤:待测光束经过半波延迟几何相位偏振光栅后,待测光束中的两个自旋分量在到达四分之一波延迟几何相位偏振光栅前完全分离;两个分离的自旋分量经过四分之一波延迟几何相位偏振光栅后,分裂成四个空间错位的自旋分量,并形成一对剪切场;剪切场经过检偏器后,剪切场中四个空间错位的自旋分量的重叠区域发生干涉。本发明的有益效果:基于半波和四分之一波延迟几何相位偏振光栅的自旋相关相位调制和偏振变换可以实现任意偏振场的剪切干涉。该发明适用于光学仪器检测和激光波前监测中任意偏振态光束的波前分析。

    同步重构矢量光模式偏振态和轨道角动量的装置及方法

    公开(公告)号:CN116295844B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202310270103.9

    申请日:2023-03-20

    Abstract: 一种同步重构矢量光模式偏振态和轨道角动量的装置及方法,属于光量子态调控与检测技术领域,本发明为解决现有单个装置中无法同步重构出光模式的偏振态和轨道角动量信息问题。本发明方案:连续激光器发射的连续光波经处理通过分束镜到达偏振分束镜;平行光经偏振分束镜被分为两束光,第一光束经空间光调制器、第二半波片、两级反射镜返回偏振分束镜反射产生相反符号轨道角动量阶数的垂直线偏振态;第二光束与第一光束共路反向传播,产生水平线偏振态,并入射到空间光调制器上产生正符号轨道角动量阶数的水平偏振态,两光束耦合传播;两光束经分束镜反射,经过第一四分之一波片产生任意偏振矢量光模式,实现同步重构矢量光模式偏振态和轨道角动量。

    一种利用DMD的实时矢量光纠缠度测量方法及装置

    公开(公告)号:CN111044147B

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN201911395032.5

    申请日:2019-12-30

    Abstract: 本发明提供了一种利用DMD的实时矢量光纠缠度测量方法及装置。线偏振高斯光通过第一四分之波片、二分之一波片和q板转化为CV光,CV光先通过加有数字光栅的DMD,分成八个相同的部分,生成的八束光依次经过第一透镜、滤波器和第二透镜后沿平行路径传播;该八束光各自分别通过相应的元件来获得对应的光强,八束光通过第三透镜会聚到CCD上进行同时测量;利用CCD测量所得的与八束光对应的光强来计算CV光的VQF值。本发明利用偏振无关的DMD的矢量光纠缠度实时测量技术,能够通过DMD将矢量光等能量均分成8束,分别投影到偏振无关基底下进行矢量光实时VQF测量。

    一种用于太赫兹偏振快速检测的多焦点超构透镜

    公开(公告)号:CN117388962A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311145393.0

    申请日:2023-09-06

    Applicant: 郑州大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于太赫兹快速偏振检测的多焦点超构透镜,属于新型人工电磁材料和太赫兹科学技术领域。该超构透镜由2×3个子阵列组成,每个子阵列分别将入射波的六个偏振分量之一转化成x偏振并聚焦,建立起这六个焦点的强度与斯托克斯参数之间的联系。采用偏振椭圆和斯托克斯参数表征入射的偏振态。该偏振探测方案在实时太赫兹偏振探测和集成光学等领域有着广泛的应用前景。

    一种光谱编码装置在光谱与偏振重构中的应用及制备方法

    公开(公告)号:CN117387757A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311227261.2

    申请日:2023-09-21

    Inventor: 马耀光 鲁铖涛

    Abstract: 本发明涉及一种光谱编码装置在光谱与偏振重构中的应用及制备方法,所述光谱编码装置包括图像传感器以及若干复合曲面膜,所述复合曲面膜的内壁面朝向所述图像传感器设置,所述复合曲面膜包括第一曲面膜和第二曲面膜,所述第二曲面膜的内壁面贴合在所述第一曲面膜的外壁面上,所述第一曲面膜和所述第二曲面膜的折射率不同;入射光从所述第二曲面膜的外壁面处入射,以在所述图像传感器处形成特征图案,对所述特征图案进行重构,以至少获得所述入射光对应的偏振信息。

    一种偏振光检测装置
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117309148A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311333308.3

    申请日:2023-10-13

    Abstract: 本发明涉及偏振光检测技术领域,具体涉及一种偏振光检测装置。包括器件安装机构、第一偏振机构、第二偏振机构及检测机构。器件安装机构用于安装光学器件,第一偏振机构包括第一偏振片、带动第一偏振片转动的第一旋转驱动组件、用于安装第一偏振片的第一安装座,第二偏振机构包括第二偏振片、带动第二偏振片转动的第二旋转驱动组件、用于安装第二偏振片的第二安装座,检测机构包括检测头;本发明通过第一安装座与第二安装座上的结构设计,使第一偏振片、第二偏振片、光学器件的输出端和检测头的输入端四者均处于一个较为阴暗的环境,相较于现有技术而言,可以有效地减少杂散光对检测结果造成的负面影响。

    一种基于光频域最优移频干涉的分布式偏振串音测量装置

    公开(公告)号:CN113804300B

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202110817547.0

    申请日:2021-07-20

    Abstract: 本发明提供了一种基于光频域最优移频干涉的分布式偏振串音测量装置,属于光纤测试领域,该装置由可调谐激光器,待测器件模块,主干涉仪阵列,辅助干涉仪模块,数据采集模块,数据处理模块组成,其特征在于:光源输出的光通过耦合器分别注入到辅助干涉仪模块和待测器件模块中,注入到辅助干涉仪模块的光,被接收后对主干涉仪的数据进行重采样,校正光源的非线性扫频,注入到待测器件模块的光经过待测器件后被均匀的注入到多个主干涉仪模块中,之后被数据采集模块分别采集后送入数据处理模块进行处理。本装置使用多个具有不同臂长差的主干涉仪,能够在保证测量信噪比,精度的前提下,极大的拓展待测器件的长度测量范围,适合于仪器应用。

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