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公开(公告)号:DE202009006898U1
公开(公告)日:2009-08-06
申请号:DE202009006898
申请日:2009-05-13
Applicant: CHROMA ATE INC
IPC: H01L31/06 , H01L23/544
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公开(公告)号:TWI690699B
公开(公告)日:2020-04-11
申请号:TW108124091
申请日:2019-07-09
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 陳明彥 , CHEN, MING-YEN , 李建霖 , LEE, JIAN-LIN , 林聖偉 , LIN, SHENG-WEI , 王志賢 , WANG, CHIH-HSIEN
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公开(公告)号:TWI690691B
公开(公告)日:2020-04-11
申请号:TW107111369
申请日:2018-03-30
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 鍾紹恩 , CHUNG, SHAO EN , 蔡政廷 , TSAI, CHENG TING , 郭修瑋 , KUO, HSIU WEI
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公开(公告)号:TWI688782B
公开(公告)日:2020-03-21
申请号:TW107147112
申请日:2018-12-26
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 劉茂盛 , LIU, MAO-SHENG , 譚世清 , TAN, SHIH-CHING , 郭修瑋 , KUO, HSIU-WEI , 王銘輝 , WANG, MING-HUI , 溫鎮州 , WEN, CHEN-CHOU
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公开(公告)号:TW202008000A
公开(公告)日:2020-02-16
申请号:TW107125674
申请日:2018-07-25
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 彭英松 , PENG, YING-SUNG , 邱奕昌 , CHIU, I-CHANG , 陳建賓 , CHEN, CHIEN-PIN
Abstract: 一種柱狀電池檢測裝置,包含基座、線掃描攝影鏡頭以及檢測物驅動機構。線掃描攝影鏡頭設置於基座。檢測物驅動機構包含二滾筒。二滾筒並行排列地樞設於基座,且二滾筒於面向線掃描攝影鏡頭之一側共同形成一檢測物置放區域。線掃描攝影鏡頭對應檢測物置放區域。
Abstract in simplified Chinese: 一种柱状电池检测设备,包含基座、线扫描摄影镜头以及检测物驱动机构。线扫描摄影镜头设置于基座。检测物驱动机构包含二滚筒。二滚筒并行排列地枢设于基座,且二滚筒于面向线扫描摄影镜头之一侧共同形成一检测物置放区域。线扫描摄影镜头对应检测物置放区域。
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公开(公告)号:TWI676342B
公开(公告)日:2019-11-01
申请号:TW107142680
申请日:2018-11-29
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 胡志國 , HU, CHIH KUO , 王俊凱 , WANG, CHUN KAI
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公开(公告)号:TWI676129B
公开(公告)日:2019-11-01
申请号:TW107122464
申请日:2018-06-29
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 徐建明 , HSU, CHIEN-MING , 陳普中 , CHEN, PU-CHUNG
IPC: G06F3/14
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公开(公告)号:TWI667857B
公开(公告)日:2019-08-01
申请号:TW107114378
申请日:2018-04-27
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 胡國柱 , HU, KUO-CHU , 王藝錡 , WANG, YI-CHI , 林宏澤 , LIN, HUNG-TSE , 郭健 , GUO, JIAN , 張書哲 , CHANG, SHU-CHE
IPC: H02J3/38
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公开(公告)号:TWI663609B
公开(公告)日:2019-06-21
申请号:TW107142017
申请日:2018-11-26
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 劉崇琳 , LIU, CHUNG-LIN , 黃建興 , HUANG, CHIEN-HSIN , 陳文鍾 , CHEN, WEN-CHUNG
IPC: H01C10/46
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公开(公告)号:TW201843475A
公开(公告)日:2018-12-16
申请号:TW106115067
申请日:2017-05-05
Applicant: 致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
Inventor: 蔡志明 , TSAI, CHIH-MING , 陳昭旭 , CHEN, CHAO-HSU , 廖漢洲 , LIAO, HAN-CHOU , 向崇羽 , SIANG, CHUNG-YU
IPC: G01R31/36
Abstract: 一種電池芯半成品測試方法。當電池芯半成品的第一導接部與第二導接部的跨壓小於電壓門檻值時,以定電流對電池芯半成品充電。當第一導接部與第二導接部的跨壓大於等於電壓門檻值時,以定電壓對電池芯半成品充電。於開始充電的預設時間區間後,取得於預設時間區間中以定電流對電池芯半成品充電的總電量。判斷總電量是否大於電量門檻值。當總電量大於電量門檻值,判斷電池芯半成品的絕緣程度不良。
Abstract in simplified Chinese: 一种电池芯半成品测试方法。当电池芯半成品的第一导接部与第二导接部的跨压小于电压门槛值时,以定电流对电池芯半成品充电。当第一导接部与第二导接部的跨压大于等于电压门槛值时,以定电压对电池芯半成品充电。于开始充电的默认时间区间后,取得于默认时间区间中以定电流对电池芯半成品充电的总电量。判断总电量是否大于电量门槛值。当总电量大于电量门槛值,判断电池芯半成品的绝缘程度不良。
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