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公开(公告)号：CN107014493B
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201710258109.9
申请日：2017-04-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种光子偏振态密度矩阵的直接测量装置及方法，涉及一种光子偏振态密度矩阵的直接测量技术，为了解决量子层析术无法提供直接获取量子物理中相干性方法的问题。待测信号入射至第一状态转换器，经由第一状态转换器转换后的待测信号入射至对角偏振相关位移晶体，经过对角偏振相关位移晶体转换后的待测信号入射至第二状态转换器，经过第二状态转换器转换后的待测信号入射至成像系统，成像系统输出的待测信号入射至第三状态转换器，经过第三状态转换器转换后的待测信号被CCD相机接收。有益效果为该测量方法仅需要两个基底的三次测量，以确定任意选择的密度矩阵元而不考虑系统维数d，是替代层析术而局域化探测潜在混合态的极具吸引力的有效方法。
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公开(公告)号：CN108458788A
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201711425253.3
申请日：2017-12-25
Applicant: 清华大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明提供一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法，所述系统包括：照明模块，用于向等离激元等样品发射不同偏振态的入射光，所述入射光激发等离激元等样品生成纳米尺度光场；扫描近场光学显微镜装置，所述扫描近场光学显微镜装置用于对所述纳米尺度光场进行近场逐点扫描，将纳米尺度光场的近场斯托克斯参数转换为远场斯托克斯参数；偏振调制模块，用于对所述远场斯托克斯参数进行偏振调制，得到偏振调制信号；偏振检测及解调模块，用于解调所述偏振调制信号，输出所述偏振调制信号的偶数阶倍频解调信号；通过所述偶数阶倍频信号和所述系统参数得到所述远场斯托克斯参数，基于所述远场斯托克斯参数还原出近场斯托克斯参数。
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公开(公告)号：CN107255517B
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201710406417.1
申请日：2017-06-02
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种偏振片装配角高精度标定装置，包括有激光器、立方体分束棱镜、格兰泰勒棱镜、待检测偏振片、精密电控转台、光电探测器、准直板一、准直板二。本发明基于马吕斯检偏原理，通过立方体分束棱镜与格兰泰勒棱镜的搭配使用产生平行于重力方向的基准偏振方向，使用激光器准直各个光学元件，同时作为检偏光源，由高精度转台驱动待检测偏振片做360旋转，当光电探测器测得最大或最小信号时，即可获得待检测偏振片的偏振方向与重力方向的关系。
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公开(公告)号：CN108332857A
公开(公告)日：2018-07-27
申请号：CN201810081754.2
申请日：2018-03-13
Applicant: 山西大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法，属于纳米光纤偏振测量控制技术领域；所要解决的技术问题是提供了一种成本低廉、测量和控制精度高的测量纳米光纤中光偏振的装置及方法；解决该技术问题采用的技术方案为：测量纳米光纤中光偏振的装置包括测试激光器、半波片、偏振控制器、光纤探针和光电探测器，测试激光器输出的激光依次经过半波片、普通光纤、光纤偏振控制器和第一锥形光纤进入纳米光纤，光纤探针通过普通光纤与光电探测器相连，光纤探针的尖端与纳米光纤的表面接触；本发明还提供了采用上述装置测量纳米光纤中光偏振的方法；本发明可广泛应用于纳米光纤中光偏振测量领域。
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公开(公告)号：CN108332850A
公开(公告)日：2018-07-27
申请号：CN201810243006.X
申请日：2018-03-23
Applicant: 广东建元和安科技发展有限公司
Abstract: 一种激光在低对比度环境下传输特性的测试系统及其测试方法，包括偏振光产生装置、雾霾介质模拟发生装置和散射效应测量装置；散射效应测量装置包括分光棱镜、偏振态测量仪、光功率计和计算机，分光棱镜与雾霾介质模拟发生装置的出射玻璃窗口相对应，光功率计、偏振态测量仪分别设置在分光棱镜的两条光传输路径上。仅通过粒度仪测量烟雾粒度，光功率计、偏振态测量仪测得散射光强度、偏振stokes矢量，计算获得偏振光的偏振度、线偏振度、偏振角和圆偏振度，最后建立雾霾介质复杂环境的光学模型，偏振光无需衰减、相位延迟、起偏等变换，保留了偏振激光由雾霾介质环境出射后的原始状态，测量更加准确，使得激光传输特性的描述更加准确。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108303180A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810253913.2
申请日：2018-03-26
Applicant: 中山大学
Abstract: 本发明涉及矢量光测量的技术领域，更具体地，涉及一种基于光学几何变换的矢量光测量装置。包括测量器件主体、光功率计；单模光纤在测量器件主体的一端，并可用光功率计直接读取单模光纤输出光功率。测量器主体是一个集成的光学自由曲面器件，它包括液晶偏振光栅、光学几何变换区、相位补偿聚焦区、光束整形区，并包含两个完全对称的部分。光学几何变换区，相位补偿聚焦区和光束整形区三者之间间隔完全相等。本发明所述器件具有低损耗、灵活性高、使用方便等优点，可被广泛应用于矢量光测量，编码通信等领域。
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公开(公告)号：CN108225742A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711496575.7
申请日：2017-12-31
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种用于退偏器性能检测的方法及装置。检测装置的结构为：点状光源发出的光经反射准直镜反射，再依次通过起偏器、扩束系统、待检测退偏器、缩束系统、检偏器后，经聚焦镜聚焦，在探测器上记录得到的光信号。扩束系统和缩束系统采用伽利略或开普勒望远结构，包括两块离轴抛物面镜；扩束系统和缩束系统的结构参数相同，使用状态为结构倒置。依据检测信号，采用偏振灵敏度计算方法，得到检测系统的偏振灵敏度，再依据扩束系统和缩束系统的透过率及穆勒矩阵，得到待检测退偏器的偏振灵敏度。本发明提供的退偏器检测装置和方法，满足了大口径退偏器的检测需要，可在宽波段下和高偏振灵敏性检测要求条件下使用。
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公开(公告)号：CN108051090A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201711432890.3
申请日：2017-12-26
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00
Abstract: 本发明涉及一种螺旋偏振光场的偏振参数检测系统，包括被检测光束导入模块、由光场振幅调制模块和光场波前相位调制模块组成的光场调制环节、光场分析模块、光场聚焦特性分析模块、偏振参数提取输出模块，将被检测光束的横向光强分布调制成空心高斯强度分布，把被检测光束的波前相位分布调制成径向余弦演化的相位分布，将调控过的螺旋偏振光场经过光学系统进行聚焦，利用光电探测器检测焦点区域轴上光强分布，利用矢量光场聚焦特性，根据焦点移动量计算出表征螺旋偏振光场整体偏振态分布分偏振参数具体数值，本发明具有方法简单、流程简洁、可以检测螺旋偏振光场、灵敏度高、可实现偏振态物理参数测量、灵活性强、功能易于扩充、抗干扰性强等特点。
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公开(公告)号：CN106197670B
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201510282699.X
申请日：2015-05-28
Applicant: 广西师范学院
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明涉及偏振成像领域，尤其涉及一种双模式全偏振成像测偏方法，包括采用快拍模式或分时模式对目标进行全偏振成像测偏：入射光经过沿入射光传播方向依次同轴放置的滤波片、第一改进型萨瓦偏光镜、半波片、第二改进型萨瓦偏光镜和偏振片后转化为四束平行的线偏振光，经成像得到入射光的第一干涉图，经解调后得到入射光的S0～3图像；沿偏振片所在的平面水平旋转偏振片90°，再经成像得到入射光的第二干涉图，将第一干涉图和第二干涉图相加得到消除串扰的目标的全分辨率S0图像，将第一干涉图和第二干涉图的差图像解调得到S1～3图像；偏振片的偏振化方向角为22.5°。本发明提供了一种可针对不同目标不同需求选择不同的全偏振成像模式的双模式测偏方法。
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公开(公告)号：CN105021284B
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201510377522.8
申请日：2015-06-29
Applicant: 中国人民解放军陆军军官学院
IPC: G01J4/00
Abstract: 一种快速测量任意空间矢量偏振光空间偏振信息的系统及方法，由非偏振分光棱镜、反射镜、λ/4波片、偏振片、面阵CCD以及计算机组成；被测空间矢量偏振光经三块非偏振分光棱镜后均分为四光束，其中两光束再经两块反射镜反射；四光束分别通过偏振片与λ/4波片的组合后，由4个面阵CCD所接收。其中，第一束光直接入射到面阵CCD11上，测量原始光强分布，第二束光经一偏振片后入射到面阵CCD12上，第三束光经另一偏振片后入射到面阵CCD13上，第四束光先经过一λ/4波片，再经一偏振片后入射到面阵CCD14上。最后，由计算机记录4个面阵CCD的光强信息，并通过编程计算，获得空间矢量偏振光空间各点的偏振态、偏振方向及偏振度等偏振信息。
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