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    通用控制系統
    313.
    发明专利
    通用控制系統 审中-公开
    通用控制系统

    公开(公告)号：TW201831916A

    公开(公告)日：2018-09-01

    申请号：TW106104979

    申请日：2017-02-16

    Applicant: 致茂電子股份有限公司 ,  CHROMA ATE INC.

    Inventor： 陳治璿 ,  CHEN, CHIH-HSUAN ,  黃逸勇 ,  HUANG, YI-YUNG ,  陳厚君 ,  CHEN, HOU-CHUN

    IPC: G01R31/28 ,  G05B19/00 ,  H01L21/67

    Abstract: 一種通用控制系統，適用於控制多個量測機台。量測機台適用於對待測物進行量測。通用控制系統具有控制裝置與轉碼裝置。轉碼裝置電性連接控制裝置。控制裝置經由通用介面匯流排（general purpose interface bus, GPIB）電性連接量測機台。控制裝置具有開啟模組、設定模組、量測模組與擷取模組。控制裝置經由開啟模組、設定模組、量測模組與擷取模組控制量測機台。當量測機台其中之一提供量測訊號給轉碼裝置時，轉碼裝置用以依據控制裝置的指示而選擇性地將量測訊號的編碼格式由第一編碼格式轉換為第二編碼格式。

    Abstract in simplified Chinese: 一种通用控制系统，适用于控制多个量测机台。量测机台适用于对待测物进行量测。通用控制系统具有控制设备与转码设备。转码设备电性连接控制设备。控制设备经由通用界面总线（general purpose interface bus, GPIB）电性连接量测机台。控制设备具有打开模块、设置模块、量测模块与截取模块。控制设备经由打开模块、设置模块、量测模块与截取模块控制量测机台。当量测机台其中之一提供量测信号给转码设备时，转码设备用以依据控制设备的指示而选择性地将量测信号的编码格式由第一编码格式转换为第二编码格式。

    接線檢查方法
    315.
    发明专利
    接線檢查方法 审中-公开
    接线检查方法

    公开(公告)号：TW201823745A

    公开(公告)日：2018-07-01

    申请号：TW105143738

    申请日：2016-12-28

    Applicant: 致茂電子股份有限公司 ,  CHROMA ATE INC.

    Inventor： 王志賢 ,  WANG, CHIH-HSIEN ,  何昆哲 ,  HE, KUN-CHE ,  黃仲寬 ,  HUANG, CHUNG-KUAN ,  林鴻裕 ,  LIN, HONG-YU

    IPC: G01R31/02

    Abstract: 一種接線檢查方法，包含當判斷第一量測通道及第一電源通道各自的正端皆連接於多個電池其中之一的正端，且第一量測通道及第一電源通道各自的負端皆連接於該些電池其中之一的負端時，以第一電源通道提供第一電流，且以第一量測通道量測第一電壓，以第一電源通道提供第二電流，且以第一量測通道量測第二電壓，並依據第二電壓與第一電壓的差值，判斷第一量測通道與第一電源通道是否連接於相同的電池。

    Abstract in simplified Chinese: 一种接线检查方法，包含当判断第一量测信道及第一电源信道各自的正端皆连接于多个电池其中之一的正端，且第一量测信道及第一电源信道各自的负端皆连接于该些电池其中之一的负端时，以第一电源信道提供第一电流，且以第一量测信道量测第一电压，以第一电源信道提供第二电流，且以第一量测信道量测第二电压，并依据第二电压与第一电压的差值，判断第一量测信道与第一电源信道是否连接于相同的电池。

    氣密性檢測方法及氣密性檢測裝置
    316.
    发明专利
    氣密性檢測方法及氣密性檢測裝置 审中-公开
    气密性检测方法及气密性检测设备

    公开(公告)号：TW201823702A

    公开(公告)日：2018-07-01

    申请号：TW105144181

    申请日：2016-12-30

    Applicant: 致茂電子股份有限公司 ,  CHROMA ATE INC.

    Inventor： 鄭柏凱 ,  CHENG, PO-KAI ,  楊蒼奇 ,  YANG, CHANG-CHI ,  王啟書 ,  WANG, CHI-SHU

    IPC: G01M3/32 ,  G01R1/067

    Abstract: 一種氣密性檢測方法包含連通儲存腔體及檢測腔體，對儲存腔體提供負壓，量測儲存腔體或檢測腔體之壓力以取得第一壓力值，根據負壓及第一壓力值判斷檢測腔體之氣密性，停止對儲存腔體提供負壓，量測儲存腔體或檢測腔體之壓力以取得第二壓力值，於停止對儲存腔體提供負壓一預設時間之後量測儲存腔體或檢測腔體之壓力以取得第三壓力值，以及根據第二壓力值及第三壓力值判斷檢測腔體之氣密性。裝置包含檢測腔體、儲存腔體、負壓產生器及壓力計。儲存腔體連通於檢測腔體。負壓產生器連通於儲存腔體。壓力計連接至儲存腔體或檢測腔體。

    Abstract in simplified Chinese: 一种气密性检测方法包含连通存储腔体及检测腔体，对存储腔体提供负压，量测存储腔体或检测腔体之压力以取得第一压力值，根据负压及第一压力值判断检测腔体之气密性，停止对存储腔体提供负压，量测存储腔体或检测腔体之压力以取得第二压力值，于停止对存储腔体提供负压一默认时间之后量测存储腔体或检测腔体之压力以取得第三压力值，以及根据第二压力值及第三压力值判断检测腔体之气密性。设备包含检测腔体、存储腔体、负压产生器及压力计。存储腔体连通于检测腔体。负压产生器连通于存储腔体。压力计连接至存储腔体或检测腔体。

    墊片、晶圓堆疊結構、吸附式移動裝置與晶圓移動方法
    319.
    发明专利
    墊片、晶圓堆疊結構、吸附式移動裝置與晶圓移動方法 审中-公开
    垫片、晶圆堆栈结构、吸附式移动设备与晶圆移动方法

    公开(公告)号：TW201818490A

    公开(公告)日：2018-05-16

    申请号：TW105136643

    申请日：2016-11-10

    Applicant: 致茂電子股份有限公司 ,  CHROMA ATE INC.

    Inventor： 王勝弘 ,  WANG, SHENG-HONG ,  王文忠 ,  WANG, WEN-CHUNG

    IPC: H01L21/67

    Abstract: 一種晶圓堆疊結構，包含至少二墊片與一晶圓。各墊片包含一內圈部與一外圈部。內圈部具有多個貫孔，外圈部圍繞內圈部。晶圓位於二墊片之間。此外，本發明還揭露了可適用於前述晶圓堆疊結構的吸附式移動裝置與晶圓移動方法，使得晶圓可藉由隔著墊片的方式來移動。

    Abstract in simplified Chinese: 一种晶圆堆栈结构，包含至少二垫片与一晶圆。各垫片包含一内圈部与一外圈部。内圈部具有多个贯孔，外圈部围绕内圈部。晶圆位于二垫片之间。此外，本发明还揭露了可适用于前述晶圆堆栈结构的吸附式移动设备与晶圆移动方法，使得晶圆可借由隔着垫片的方式来移动。

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