滤光片、直下式显示装置与侧入式显示装置

    公开(公告)号:CN107305263A

    公开(公告)日:2017-10-31

    申请号:CN201610279827.X

    申请日:2016-04-29

    CPC classification number: G02B5/201

    Abstract: 本发明提供了滤光片、直下式显示装置与侧入式显示装置。该滤光片包括基材层与设置在基材层表面上的滤光膜,滤光膜包括:多个第一滤光层,第一滤光层的折射率n1≤1.6;多个第二滤光层,与第一滤光层交替设置,第二滤光层的折射率n2≥1.9。该滤光膜中折射率不同的第一滤光层与第二滤光层形成干涉薄膜,使得该滤光膜可以同时高透红、绿、蓝三种颜色的光,低透除了该三色光之外的其它光。

    COA基板及COA基板色阻层膜厚检测方法

    公开(公告)号:CN107300733A

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201710686123.9

    申请日:2017-08-11

    Inventor: 施秋霞

    CPC classification number: G02B5/201 G01B21/08 G02B5/22 G02F1/133516 G09F9/00

    Abstract: 本发明提供了一种COA基板,包括多个阵列排布在基板上的子基板单元,所述子基板单元具有显示区和环绕在显示区外的非显示区,子基板单元包括阵列基板以及依次形成在阵列基板上的钝化层、色阻层,基板上设有量测区域,量测区域位于子基板单元的非显示区中,量测区域中设有量测结构,量测区域将量测结构裸露,所述量测结构包括量测钝化层以及量测色阻层,所述量测结构的表面形成量测面。本发明还提供了一种COA基板色阻层膜厚检测方法,包括如下步骤:通过将膜厚量测探针接触量测面,并沿量测区域的长度方向移动,从而量测获得量测色阻层的厚度。与现有技术相比,可实时对基板靠近边缘位置的色阻层的膜厚状况进行量测,从而根据监控结果调整涂布等参数。

    一种121.6nm窄带负滤光片及其制备方法

    公开(公告)号:CN107037521A

    公开(公告)日:2017-08-11

    申请号:CN201710481581.9

    申请日:2017-06-22

    CPC classification number: G02B5/201 G02B5/26

    Abstract: 本申请公开了一种121.6nm窄带负滤光片及其制备方法,该方法包括:确定制备121.6nm窄带负滤光片时所需的多层膜的镀膜材料以及相应的基础膜系结构;基于镀膜材料以及基础膜系结构,计算相应的等效导纳以及位相厚度;根据等效导纳以及位相厚度,依次在多层膜与入射介质之间、以及多层膜与基底之间分别进行导纳匹配处理,以对基础膜系结构进行优化,得到优化后膜系结构;根据优化后膜系结构,制备相应的121.6nm窄带负滤光片。本申请可消除由于多层膜与入射介质、基底之间导纳不匹配而使得旁带和可见光波段具有高反射率的现象,而基于上述经过优化处理的膜系结构制备得到的121.6nm负滤光片具有较低的旁带以及可见光波段的反射率,从而有利于提升121.6nm谱线的质量。

    彩膜基板、彩色滤光片、显示面板及显示装置

    公开(公告)号:CN104375315B

    公开(公告)日:2017-06-16

    申请号:CN201410660260.1

    申请日:2014-11-18

    Inventor: 赵锋

    CPC classification number: G02B5/201 G02B5/223 G02F1/133516 G02F2001/133519

    Abstract: 本发明公开了一种彩膜基板、彩色滤光片、显示面板及显示装置,该彩膜基板包括阵列分布的多个像素,每个像素分别至少包括第一子像素、第二子像素、第三子像素及第四子像素;其中,第一子像素涂布第一颜色光阻,第二子像素涂布第二颜色光阻,第三子像素涂布第三颜色光阻;第四子像素中的光阻是由第一颜色光阻、第二颜色光阻及第三颜色光阻中任意两种堆叠而成。通过上述方式,本发明能够增加色域范围,简化生产工艺,提高生产效率,减小成本。

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