一种高光谱成像仪地面自动分析方法

    公开(公告)号:CN116405444A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202211572117.8

    申请日:2022-12-08

    Abstract: 本发明基体涉及一种高光谱成像仪地面自动分析方法,解决了目前采用任意发送指令的方式,导致工作效率低下。本发明步骤如下:步骤1,在主模块中编辑指令序列,并将指令序列发送至定时任务生成模块;步骤2,定时任务生成模块将指令序列添加至及时任务队列中,并发送至及时任务工作模块;步骤3,及时任务工作模块将及时任务序列遥控发送至高光谱成像仪,兴起同步发送至中断模块;步骤4,高光谱成像仪将运动状态变化通过遥测帧包发送至中断模块;步骤5,中断模块接收遥测帧包,并形成遥测信息,将遥测信息发送至遥测解析模块;步骤6,遥测解析模块处理完遥测信息后,遥测解析模块及时通知主模块在可视化交互界面更新解析的遥测信息。

    一种可变分辨率的压缩感知高光谱计算成像系统及装置

    公开(公告)号:CN116380247A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310359366.7

    申请日:2023-04-06

    Abstract: 本发明公开了一种可变分辨率的压缩感知高光谱计算成像系统及装置,包括:调制单元阵列和控制模块;控制模块用于根据分区同值调制方式向调制单元阵列输出编码信号;调制单元阵列用于根据编码信号对汇聚到自身的目标场景发出的光信号进行调制后投影到面阵探测器上;分区同值调制方式为,根据实际所需的图像空间分辨率,将调制单元阵列划分为大小相同且互不重叠的子块,控制模块向各子块内的调制单元输出相同的编码信号,使同子块内的调制单元对光信号的调制相同,进而使每个子块中的所有调制单元合并为一个等效调制单元,实现调制单元阵列的调制分辨率可变;使用本发明能够在不改变硬件结构的前提下实现高光谱成像空间分辨率的灵活可变。

    光谱仪
    354.
    发明公开
    光谱仪 审中-实审

    公开(公告)号:CN116380241A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202211661740.0

    申请日:2022-12-23

    Abstract: 本申请涉及一种光谱仪,所述光谱仪包括:基板和感光模组,所述基板具有以周期排列的多个狭缝单元,用于对入射光进行调制,所述狭缝单元形成与其对应的透射谱曲线,所述感光模组位于所述屏幕下端,且包括:图像传感器,用于接收调制后的入射光,以获得所述入射光的光谱信息,所述基板设置于所述图像传感器的光学路径上。

    一种多光谱图像传感器的制造方法及其设备

    公开(公告)号:CN113566966B

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202110628920.8

    申请日:2021-06-03

    Abstract: 本发明适用于传感器技术领域,提供了一种多光谱图像传感器的制造方法及其设备,包括:分别获取滤光单元组内多个对应不完全相同的波长的滤光片的特征参数组;将所有所述滤光片对应的所述特征参数组及预设参数组导入到预设的特征向量转换模型,得到多个基于不同探测目标获取的特征向量;将多个所述特征向量导入到所述多光谱图像传感器关联应用场景类型对应的检测模型,并计算对应的检测准确率;根据所有所述候选制造方式对应的所述检测准确率,确定初始制造方式。本发明可以制造一个包含有多个对应不完全相同的预设波长的滤光片的滤光单元组的多光谱图像传感器,以实现在成像时同时采集不同光谱的目的,以提高成像精度、效率以及准确性。

    一种光谱仪功率校准装置及方法
    357.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116358702A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202310407318.0

    申请日:2023-04-17

    Abstract: 本发明公开了一种光谱仪功率校准装置及方法,该装置包括激光器、可调光衰减器、分束器、光开关、驱动电路、功率调节模块、功率监测模块和校准系数计算模块,激光器在驱动电路的驱动下产生单色光,单色光通过可调光衰减器后进入分束器,分为参考光和校准光两路光束,参考光进入功率监测模块,获取参考光的参考功率值;校准光经光开关的第二通道进入光谱仪的分光模块,再通过探测器、数据采集模块和FPGA获取功率值,校准系数计算模块根据参考光的参考功率值和校准光的功率值计算获得功率校准系数。本发明能够实现对光谱仪的定期维护和自动化功率校准,保证光谱仪长期使用中的功率准确度。

    一种多光谱激光功率的测试装置和方法

    公开(公告)号:CN111678591B

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202010507718.5

    申请日:2020-06-05

    Abstract: 本发明公开了一种多光谱激光功率的测试装置及方法,所述装置包括积分球、光谱测试模块和激光功率测试模块,所述光谱测试模块和激光功率测试模块安装在所述积分球上,在所述积分球的一侧设置有入光孔,待测多光谱激光经所述入光孔进入到所述积分球的内部,在整个积分球内形成均匀的光分布;光谱测试模块用于对入射到所述积分球内的激光光谱特性进行测试;激光功率测试模块用于对激光功率进行测试,通过所述积分球上的开孔,由该激光功率测试模块将光信号转换为电信号输出,并实现多光谱激光功率的测试。该方法及装置能够克服光电探测器由于响应度随波长变化而造成的无法对多光谱激光进行准确功率测试的问题,实现对多光谱激光功率快速测试。

    脉冲LED标定多色仪的方法及系统
    359.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116337410A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202111598812.7

    申请日:2021-12-24

    Abstract: 本公开涉及仪器校准技术领域,尤其涉及脉冲LED标定多色仪的方法及系统。该脉冲LED标定多色仪的方法包括:利用单色仪扫描波长,测量并计算多色仪各通道的光谱响应曲线;利用脉冲LED组件获得宽光谱脉冲光源;获取LED谱密度曲线并采集脉冲信号;计算得到多色仪各通道的光子数和输出电荷数比值,以获得多色仪各通道的灵敏度系数。本公开实施例提供的方法中,利用脉冲LED组件获得宽光谱脉冲光源,并获取LED谱密度曲线以及采集脉冲信号,因此光谱响应包含了系统中各部分的传递效率,无需单独进行测量,极大提升了标定效率。并且,不同于传统AC/DC标定方法,使用宽光谱脉冲LED组件直接进行标定,光源波长覆盖了多色仪测量范围,无需进行AC/DC换算,提升了标定精度。

    基于数学代理模型的高光谱光学仪器的光校方法

    公开(公告)号:CN116337231A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202310071117.8

    申请日:2023-01-12

    Abstract: 本发明涉及光学仪器设备监测技术领域,所要解决的技术问题是提供一种基于数学代理模型的高光谱光学仪器的光校方法,至少包括以下步骤:添设辅助测量基准面;确定需要位置校正的光学元件;量化及统计光学元件位置调动;量化及统计光校过程中仪器光谱成像质量;建立调动量‑光谱成像质量之间的数学代理模型;求解镜室最优调动量;结束,输出结果。本发明创造性地提出了基于数学代理模型的高光谱光学仪器的光校方法,能够有效地建立仪器光谱成像质量与大规模光学元件校正量之间的定量化关系,实现宽幅高光谱光学仪器在低温真空环境下的快速、高精度光学校正。本发明大大提高了低温真空环境大规模光学元件光校的可适用性和可操作性。

Patent Agency Ranking