公开(公告)号：CN119533655A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202311096881.7

申请日：2023-08-28

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 胡勇康 ,  于飞 ,  李月涛 ,  邵子依

IPC: G01J3/10 ,  H01S3/00 ,  G01J9/00 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  H04B10/50

Abstract: 一种光源、测量装置以及光通信设备，其能够降低测量装置包括的光器件的数量，降低测量装置的体积，进而提升测量装置的集成度。光源包括激光器以及滤波模块，所述滤波模块包括第一滤波件和第二滤波件，所述第一滤波件和所述第二滤波件之间通过非气密封装形成光学谐振腔结构。所述激光器用于向所述滤波模块发送第一光信号；所述滤波模块基于所述光学谐振腔结构，用于滤波所述第一光信号以获得滤波后光信号，所述滤波后光信号对应第一光谱，所述第一光谱呈梳状光谱结构，所述滤波后光信号用于测量第二光谱，所述第二光谱为待测光源出射的第二光信号对应的光谱。

公开(公告)号：CN119413283A

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202411633779.0

申请日：2024-11-15

Applicant: 长光驰宇科技(长春)有限公司

Inventor： 杨斌 ,  吴旋 ,  马桂仓

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/10 ,  G01J1/00

Abstract: 本发明公开了一种光谱成像装置辐射定标方法及系统，构建光谱成像装置的像元的辐射响应模型，将目标光在光谱维和辐射维变化，在不同的光谱或/和辐亮度的目标光下获得目标光的光谱辐亮度数据和光谱成像装置的像元的响应数据，根据光谱辐亮度数据获得像元接收到多种波段光的等效辐亮度值，进而根据像元接收到多种波段光的等效辐亮度值以及像元的响应数据，获得辐射响应系数值，获得描述像元的响应值与像元接收到多种波段光的辐亮度关系的辐射响应模型，本发明实现了对将光谱信息与空间信息耦合的光谱成像装置的辐射定标。

公开(公告)号：CN110954215B

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN201911246558.7

申请日：2019-12-07

Applicant: 西安中科微星光电科技有限公司

Inventor： 张凯胜 ,  裴行行 ,  王东 ,  王海波 ,  王华

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10

Abstract: 本发明公开了一种全谱段光目标模拟器，包括：准直光学系统，所述光学系统为无穷远光目标模拟系统；光源组件，所述光源组件包含可见光光源、黑体辐射源、积分球匀光系统；升降系统：所述升降系统包含第一伺服电机、导轨和升降台；自动控制系统：所述自动控制系统控制光源组件的切换和升降系统；其中，所述准直光学系统和光源组件均安装在升降台上，且光源组件位于准直光学系统的一侧与准直光学系统连接，所述光源组件和升降系统均与自动控制系统连接。本发明可对大口径、长焦距的空间光学遥感器进行全谱段的像质检测。

公开(公告)号：CN119325551A

公开(公告)日：2025-01-17

申请号：CN202380045389.9

申请日：2023-06-07

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： W-S·王 ,  M·劳布舍尔 ,  S·瓦鲁施 ,  H·齐默尔曼

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10

Abstract: 披露了一种光谱仪壳体(116)，该光谱仪壳体被配置用于至少部分地围封光谱仪模块(110)的至少一个检测器(112)和至少一个发射器(114)。光谱仪壳体(116)包括：‑框架元件(130)；‑盖元件(132)，该盖元件连接至框架元件(130)；‑分隔元件(134)，该分隔元件布置在框架元件(130)内；‑反射器元件(136)，该反射器元件布置在盖元件(132)和框架元件(130)中的一个或两个的至少一部分上；以及‑接口元件(144)。入射开口(138)至少由盖元件(132)和框架元件(130)形成。在与入射开口(138)相反的一侧上，至少两个安装开口(124)至少由盖元件(132)和框架元件(130)形成。至少两个安装开口(124)被分隔元件(134)分隔。框架元件(130)和分隔元件(134)由相同的材料一体地形成，其中，接口元件(144)被配置用于覆盖入射开口(138)。进一步地，披露了一种光谱仪模块(110)、一种制造光谱仪壳体(116)的方法、以及一种制造光谱仪模块(110)的方法。

公开(公告)号：CN119213283A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202380039102.1

申请日：2023-05-10

Applicant: 哈希朗格有限公司

Inventor： 安德烈·纳吉斯 ,  阿克塞尔·雷耶尔 ,  罗伯托·达里乔

IPC: G01J1/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01N21/27 ,  G01N21/85 ,  G01N33/18 ,  G01J3/12

Abstract: 本发明涉及一种具有光度浸入式探针（20）的光度过程测量装置（10）。光度浸入式探针（20）包括用于提供光度光脉冲的光度计闪光灯源（61）、包括至少两个单独的波长选择性检测元件（71、72、73）的光度检测器装置（70）、以及控制光度计闪光灯源（61）和检测器装置（70）的光度计控制器（80）。光度计控制器（80）包括用于对由检测元件（71、72、73）产生的电脉冲进行积分的数个脉冲信号积分仪（819、829、839）、用于当A/D转换器（81、82、83）的高精度转换触发端口（H）被触发时转换脉冲信号积分仪（819、829、839）的电压的数个A/D转换器（81、82、83）、和具有存储积分目标电压值（Ut）的积分目标存储器（94）的测量循环控制器（90）。光度计控制器（80）设置有高精度请求端口（93），高精度请求端口用于在所有脉冲信号积分仪（819、829、839）中的首先一个脉冲信号积分仪的电压已经超过所存储的积分目标电压值（Ut）之后同步地触发所有A/D转换器（81、82、83）的高精度转换触发端口（H）。

公开(公告)号：CN119124354A

公开(公告)日：2024-12-13

申请号：CN202310696073.8

申请日：2023-06-13

Applicant: 大亚(江苏)地板有限公司

Inventor： 周洲 ,  王铭鑫 ,  茅伟 ,  孙佳君 ,  杨梅红 ,  钱泽 ,  张志林 ,  吴慧霞

IPC: G01J3/46 ,  G01J3/02 ,  G01J3/10

Abstract: 本发明属于地板生产辅助设备技术领域，涉及一种地板外观颜色的比色系统，包括一个长方体空间，在长方体的吊顶面设有第一照明装置和第二照明装置，在长方体的底面设有地板摆放区域和比色工位；其中：所述长方体空间，内部各面粉刷成浅灰色并修平整；所述第一照明装置为八组灯管，以居于吊顶中心的灯泡1为中心，相邻两组灯管的夹角均为45°；所述第二照明装置为9个日光灯泡，以居于吊顶中心为灯泡1为中心，其余灯泡按距离灯泡1间距为1.2m并与第一照明装置中的灯管相邻设置。本发明结构简单，通过灯光排布设置，获得与白天自然光相同的光照效果。可使操作人员在夜间生产时准确把握大货与样板颜色的匹配度，减少批次内/间的色差。

公开(公告)号：CN119072613A

公开(公告)日：2024-12-03

申请号：CN202380035412.6

申请日：2023-04-14

Applicant: 芬兰国家技术研究中心股份公司

Inventor： 海基·萨利 ,  哈里·奥亚宁 ,  安蒂·纳斯拉

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/28 ,  G01J3/12

Abstract: 一种对光谱成像装置(500)进行校准的方法包括：‑提供具有第一校准光谱(IMPBF)的第一校准光(LB1CAL1)，该第一校准光谱在已知波长(λ01，λ02，λ03)处具有多个稳定的光谱峰，‑将第一校准光(LB1CAL1)耦合至光谱成像装置(500)，‑在对光谱成像装置(500)的法布里‑珀罗干涉仪(FPI1)的控制参数(Vd)进行扫描期间，通过记录第一检测器像素信号(SR)获得第一校准光(LB1CAL1)的第一测量轮廓(MSPEC1)，‑在对控制参数(Vd)进行扫描期间，通过记录第二检测器像素信号(SG)来获得第一校准光(LB1CAL1)的第二测量轮廓，‑通过使用第一检测器像素(P0)的先前测量的光谱量子效率(QR)、通过使用先前测量的光谱透射率函数(TFP,PRE)以及通过使用第一校准数据(fk，gk，hk)，根据第一校准光谱(IMPBF)确定第一模拟轮廓(SIMSPEC1)，‑通过使用第二检测器像素(P1)的先前测量的光谱量子效率(QR)、通过使用先前测量的光谱透射率函数(TFP,PRE)以及通过使用第一校准数据(fk，gk，hk)，根据第一校准光谱(IMPBF)确定第二模拟轮廓，以及‑对第一校准数据(fk，gk，hk)进行修改，直到模拟轮廓(SIMSPEC1)根据一个或更多个匹配标准与对应的测量轮廓(MSPEC1)匹配。

公开(公告)号：CN118999786A

公开(公告)日：2024-11-22

申请号：CN202411228383.8

申请日：2024-09-03

Applicant: 常州工业职业技术学院

Inventor： 程刚 ,  高天友

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明涉及光谱测量技术领域，具体涉及一种光谱测量仪的校准系统及方法，包括微环境模拟模块、光谱响应自适应模块、数据融合处理模块、多光源同步校准模块、精密调整执行模块以及监控诊断模块；其中：微环境模拟模块：用于模拟和控制校准过程中的环境条件；光谱响应自适应模块：用于动态调整光谱测量仪的光谱接收灵敏度和频率响应范围；数据融合处理模块：优化校准参数；多光源同步校准模块：选择对应的光源组合进行校准；精密调整执行模块：调整光谱测量仪的光路和检测器配置。本发明，通过自动化环境模拟、高级数据融合处理和实时监控诊断，显著提高了校准的精度和效率，确保了光谱测量在各种环境条件下的可靠性和稳定性。

公开(公告)号：CN118960953A

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202410984182.4

申请日：2024-07-22

Applicant: 西安电子科技大学杭州研究院 ,  西安电子科技大学

Inventor： 郭成飞 ,  周维善 ,  马昊杰 ,  邵晓鹏

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/12 ,  G01J3/10 ,  G06F17/15

Abstract: 本发明公开了一种复杂目标非侵入式宽光谱散射成像方法，包括：搭建透过散射介质的宽光谱成像系统，该宽光谱成像系统包括沿光轴方向依次设置的宽谱光源、简单目标、散射介质和相机，简单目标为数字或字母图像；利用相机采集简单目标的宽光谱照明散斑；基于改进的相位恢复算法对简单目标进行迭代重建，获得简单目标的重建结果；利用Richardson‑Lucy去卷积算法对简单目标的重建结果进行去卷积操作，获得宽谱点扩散函数；将简单目标替换为待重建的复杂目标，利用相机采集复杂目标的宽光谱照明散斑；基于宽谱点扩散函数，获得复杂目标的重建结果。本发明能够重建被散射介质遮挡的复杂目标的图像，重构目标精度高，光路简单，操作简便。

公开(公告)号：CN118913444A

公开(公告)日：2024-11-08

申请号：CN202410965649.0

申请日：2024-07-18

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 崔金辉 ,  李涛 ,  南金龙

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G01J3/10

Abstract: 本发明公开了一种以太阳作为校准源的光谱仪幅度校准方法。涉及光谱仪可见光波段的校准，属于光谱检测技术领域。包括如下步骤：采用待校准光谱仪拍摄太阳，获得太阳直射光谱的测量数据；对光谱仪进行暗电流修正；利用大气校正软件模拟此时太阳光谱，获得太阳直射光谱的理论数据；确定光谱仪有效校准光谱范围；计算太阳光谱的理论数据和测量数据的比值，消除米氏散射的影响，利用平滑后的校准曲线校准光谱仪测量数据，实现光谱仪幅度响应的校准。本发明的核心是以太阳光作为校准光源进行校准，针对可见光波段光谱仪校准源设备昂贵、校准不方便的问题，提供了一种简单、方便且成本低廉的校准方法。