公开(公告)号：CN100459086C

公开(公告)日：2009-02-04

申请号：CN200310114262.2

申请日：2003-11-06

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： D·克雷特内特

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2893

Abstract: 一种自动测试电子元件的装置，包括测试电子元件(8)的测试台(7)和至少一个固定电子元件(8)的支撑件(2)。支撑件通过电子元件的下侧面和两个相对侧面来固定电子元件(8)，使电子元件(8)固定到支撑件上时上侧面和至少两个侧面全都可接近。这些侧面都可以接近，提高了与进行测试的电子元件(8)的这些侧面上的接触点(80)接触的可能性，并允许同时进行测试，如非常小尺寸的发光二极管的开尔文法电测试和光学测试。

公开(公告)号：CN100383593C

公开(公告)日：2008-04-23

申请号：CN200480001783.X

申请日：2004-02-09

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： A·萨尔维

IPC: G02B17/04 ,  G01N21/88 ,  G01N21/956 ,  H05K13/00

CPC classification number: G02B27/143 ,  G01N21/95684 ,  G02B17/04 ,  G02B27/1066

Abstract: 用于显示物体(1)的中央图像(10)和同一物体(1)的至少一个横侧图像(11，12，13，14)的光学装置，所述中央图像(10)的真实光程的长度不同于所述至少一个横侧图像(11，12，13，14)的真实光程的长度，而所述中央图像(10)的视在光程的长度等于所述至少一个横侧图像(11，12，13，14)的视在光程的长度；而物体的光学检查模件包含这样一种光学装置和光学系统(7)，光学系统(7)能同时拍摄物体(1)的中央图像(10)和同一物体(1)的至少一个横侧图像(11，12，13，14)。中央图像(10)的视在光程和横侧图像(11，12，13，14)的视在光程是相等的，这两个图像可由同一光学系统(7)同时拍摄及纠正聚焦。

公开(公告)号：CN101002521A

公开(公告)日：2007-07-18

申请号：CN200480028820.6

申请日：2004-08-05

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： P·德罗马尔 ,  L·黑尼格尔

IPC: H05K13/04 ,  H05K13/02

CPC classification number: H05K13/0413 ,  H05K13/022

Abstract: 公开了一种用于定位电子元件的钳子，包括支撑件(2)和具有促动部分(10)的可动件(1)，可动件(1)包括至少三个夹爪(11，12，13，14)，其允许在至少三个承靠点并沿着至少两个不平行的方向而机械地接触电子元件(8)，以用于将电子元件(8)相对于支撑件(2)定位在定位平面中，钳子通过促动部分(10)相对于支撑件(2)沿着平行于定位平面的促动轴线的线性运动而被促动。公开了一种用于定位电子元件的装置，其包括这种钳子(1，2)和用于机械地促动钳子(1，2)的促动器(30)。还公开了用于定位电子元件的相应方法。因此，本发明的钳子非常紧凑，这是因为其所有的可动部分都在单一平面中运动，并且它们的线性促动可通过比较简单的促动机构来自动地执行。另外，由于元件在钳子上的同一位置处被放置和取下，因此，钳子尤其适于集成在自动加工线中。

公开(公告)号：CN1682579A

公开(公告)日：2005-10-12

申请号：CN03821248.X

申请日：2003-07-23

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： B·蒙塔冯 ,  E·雷莫奈

IPC: H05K13/00 ,  B65G49/06

CPC classification number: H05K13/00

Abstract: 本发明涉及一种用于翻转电子元件(91、92、93)的装置和相关方法。根据本发明，在翻转前所述电子元件(91、92、93)在所述装置上的位置(a)与在翻转以后从装置上取走所述电子元件(91、92、93)处的位置(a)相同。以这种方式，不论其前、后处理站的构形如何，所述装置可被整合进电子元件处理线(8)中。

公开(公告)号：CN1636142A

公开(公告)日：2005-07-06

申请号：CN03804359.9

申请日：2003-01-21

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： L·黑尼格尔 ,  C·弗洛伊德沃克斯 ,  J·佩尔雷特 ,  P·霍斯特特勒

IPC: G01R1/067

CPC classification number: G01R1/06794 ,  G01R1/06705 ,  G01R31/2851

Abstract: 一种用于致动电子部件的接触器以便对该部件进行电气检验的系统，该系统的运动由机电变换器(2、3、4)产生，并且由限制作用在被检验部件上的接触器的接触力的机构来控制。

公开(公告)号：CN107000940B

公开(公告)日：2020-04-03

申请号：CN201480084143.3

申请日：2014-12-19

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： V.奥斯勒 ,  M.冈扎勒兹 ,  T.博伊斯森恩

IPC: B65G29/00 ,  B65G47/14

Abstract: 根据本发明，提供了一种被优化以便用于从碗状供给器（1）供给具有预定特征的部件的碗状供给器区段（20a；20b）。还提供了一种碗状供给器区部件，碗状供给器区段可以可移除地附接到所述碗状供给器部件。当碗状供给器区段可移除地附接到碗状供给器部件时，它们共同地限定被优化以便供给具有预定特征的部件的碗状供给器。还提供了一种包括碗状供给器部件和多个碗状供给器区段的对应组件，所述多个碗状供给器区段中的每个被优化以便用于供给具有不同预定特征的部件。还提供了一种用于提供被优化以便供给具有预定特征的部件的碗状供给器的对应方法。

公开(公告)号：CN110100175A

公开(公告)日：2019-08-06

申请号：CN201780081568.2

申请日：2017-02-02

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： J.帕拉特 ,  P.阿布瑞尔 ,  T.艾默

IPC: G01N21/956 ,  H05K13/08

Abstract: 根据本发明，提供了一种使用组件来检查部件（10）的方法，该组件包括：相机（3），其具有固定位置；以及可移动载物台（5），其中，该可移动载物台被构造成使得其可以围绕旋转轴线（7）旋转并且可以沿两条线性轴线（9a、9b）线性地移动，其中，所述两条线性轴线彼此垂直，并且其中，所述两条线性轴线两者各自垂直于旋转轴线，该方法包括以下步骤：（a）在载物台上提供呈预定取向的第一部件，使得部件的第一侧部面向相机；（b）使载物台沿所述两条线性轴线中的一者或多者线性地移动，以便将第一部件的第一侧部移动到相机的焦点上；（c）在第一部件的第一侧部已被移动到相机的焦点上之后，捕获第一侧部的图像。还提供了根据上文的组件，其附加地包括处理器，该处理器被构造成确定部件的图像是否在相机的焦点上，如果不在相机的焦点上，就确定可移动载物台的移动并启动可移动载物台以经历所确定的所述移动以便将所述部件移动到焦点上。

公开(公告)号：CN108352342A

公开(公告)日：2018-07-31

申请号：CN201680063353.3

申请日：2016-02-02

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： L.阿布贝特

IPC: H01L21/67 ,  H01L21/68

CPC classification number: H01L21/67271 ,  G01R31/2831 ,  H01L21/67144 ,  H01L21/67259 ,  H01L21/68 ,  H01L22/20

Abstract: 根据本发明提供了处理载件上的部件的方法，该方法包括以下步骤：提供其上支撑有多个部件的载件；测试多个部件以识别良好部件和劣质部件，其中，良好部件是成功通过测试的那些部件并且劣质部件是未通过测试的那些部件；限定从载件待拾取的第一良好部件；将整数个部件限定为跳跃值；将可操作以从载件上拾取部件的拾取头定位在载件上的第一参考位置上方；识别在从第一参考位置开始的跳跃值内的一个或多个良好部件；使拾取头或载件移动以使拾取头定中在一个或多个良好部件中的至少一个上方；使拾取头或载件移动以使拾取头从所述一个或多个良好部件中的至少一个上方移动至限定的待拾取的第一良好部件上方，而不拾取所述一个或多个良好部件中的至少一个；使拾取头定中在待拾取的第一良好部件上方；拾取待拾取的第一良好部件。本发明进一步提供了对应的部件处理设备。

公开(公告)号：CN102301845B

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201080006369.3

申请日：2010-02-01

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： S.维耶诺 ,  F.克拉维罗 ,  P.鲁瓦

IPC: H05K13/02 ,  B65B15/04

CPC classification number: H05K13/021

Abstract: 一种用于利用电子元件（12）来填充载带（10）以及用于从该载带移除并且替换有缺陷的电子元件（13）的方法，包括步骤：在填充站（1）处，在载带（10）的凹腔（11）中装载电子元件，向前移动所述载带（10），自动地检测有缺陷的电子元件，向后移动所述载带，并且从载带（10）卸载有缺陷的电子元件（13），在所述填充站（1）处利用新的电子元件来填充所述凹腔。

公开(公告)号：CN104094393A

公开(公告)日：2014-10-08

申请号：CN201280069107.0

申请日：2012-07-23

Applicant: 伊斯梅卡半导体控股公司

Inventor： P.罗伊 ,  P.维维塞 ,  G.格劳

IPC: H01L21/67 ,  B07C5/00 ,  B07C5/344

CPC classification number: H01L21/67271 ,  B07C5/344 ,  B07C5/36

Abstract: 根据本发明，提供了一种用以拣选部件的设备，所述设备包括：输送器，其被构造成从转塔接收部件；两个或更多个箱，其沿输送器定位，其中所述两个或更多个箱彼此独立；移位装置，其被构造成使得它能操作用来将部件从输送器移位；控制器，其可被布置成与用于根据部件的一个或多个特性对所述部件分类的识别装置能操作地通信，其中控制器能操作用来将部件类别分配到两个或更多个的箱中的每一个，其中，利用由识别装置提供的部件的分类，控制器控制移位装置，使得移位装置操作以将每个部件从输送器移位到已分配了对应的部件类别的箱内，从而使每个部件可被拣选到分配了该部件的类别的箱内，其中，所述控制器进一步能操作用来在第一箱充满时将第一箱的部件类别重新分配到第二箱。还提供了对应的拣选方法和组件。