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公开(公告)号：KR100406843B1
公开(公告)日：2003-11-21
申请号：KR1020010018253
申请日：2001-04-06
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/2509 , G01B2210/50
Abstract: A method and apparatus for measuring the three-dimensional surface shape of an object using color informations of light reflected by the object. The method and apparatus for measuring the three-dimensional surface shape of the object, in which a real-time measurement of the three-dimensional surface is performed by projecting a beam of light having color information onto the object and detecting color distribution information according to levels of the object, thereby obtaining level information of the object.
Abstract translation: 本发明提供一种利用物体反射的光的颜色信息来测量物体的三维表面形状的方法和设备。 用于测量物体的三维表面形状的方法和设备，其中通过将具有颜色信息的光束投影到物体上并根据以下方式检测颜色分布信息来执行三维表面的实时测量： 对象的级别，从而获得对象的级别信息。
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公开(公告)号：KR1020030056972A
公开(公告)日：2003-07-04
申请号：KR1020010087334
申请日：2001-12-28
Applicant: (주) 인텍플러스
IPC: H01L21/58
CPC classification number: G01R1/0408 , G01R31/01 , H05K13/022
Abstract: PURPOSE: A method and apparatus for mounting a chip are provided to be capable of reducing mounting processes and improving productivity by simultaneously detecting the failure of a chip and differentiating the chip while the chip is fixed in a groove of a film without previously carrying out the failure detecting and chip differentiating process. CONSTITUTION: A film of a film supplying roll is transferred to a film receiving roll through a three-dimensional shape measuring probe. At this time, a chip mounted at a chip holding groove of the film is detected whether the chip has failure or not and the chip is simultaneously replaced with a normal chip by carrying out a differentiating process using a robot arm when failure exist at the chip. Then, a tape is attached at the chip holding groove of the film.
Abstract translation: 目的：提供一种用于安装芯片的方法和装置，以便能够通过同时检测芯片的故障并且在将芯片固定在薄膜的凹槽中的同时检测芯片的差异并提高生产率，而无需先前执行 故障检测和芯片差分过程。 构成：通过三维形状测量探针将薄膜供给辊的薄膜转印到胶片接收辊。 此时，通过在芯片存在故障时通过执行使用机器人手臂的微分处理来检测安装在胶片的芯片保持槽上的芯片是否具有故障，并且芯片同时被正常芯片替代 。 然后，将胶带安装在胶片的芯片保持槽上。
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公开(公告)号：KR1020150067559A
公开(公告)日：2015-06-18
申请号：KR1020130153136
申请日：2013-12-10
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G01N21/95 , G01N21/8806 , G01N2021/9513
Abstract: 크랙이나긁힘과같은디스플레이패널의외관결함을간단하고정확하게검사할수 있는디스플레이패널검사장치가개시된다. 본발명의일 실시예에따른디스플레이패널검사장치는다수의관통홀이형성되어있는투명한평판형상의안착부, 안착부의하부에서안착부와결합하여, 밀폐공간을형성하는석션패드, 석션패드의일측에부착되어, 관통홀을통해공기를흡입함에따라, 디스플레이패널이상기안착부에흡착유지되도록하는진공포트, 석션패드의하면에배치되어, 디스플레이패널에조명을제공하는광원부, 안착부, 석션패드, 광원부를내부에수용하여고정시키는메인프레임를포함한다.
Abstract translation: 公开了一种显示面板检查装置简单且准确地检查显示面板的外观缺陷，例如裂纹或划痕。 根据本发明的实施例，显示面板检查装置包括：具有多个穿透孔的透明平面安装单元; 吸盘，其与所述安装单元联接在所述安装单元的下部，以形成密封空间; 吸入口的一侧附接真空口，使得显示面板能够通过贯穿孔吸入空气而保持被安装单元吸附; 光源单元，设置在所述吸盘的底表面中并向所述显示面板提供照明; 以及在其中容纳安装单元，吸盘和光源单元的主框架，并且固定安装单元，吸盘和光源单元。
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公开(公告)号：KR101446757B1
公开(公告)日：2014-10-02
申请号：KR1020120078933
申请日：2012-07-19
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본 발명은 온도변화에 따른 가시광선의 반사도 차이를 이용하여 높은 화소를 갖는 디스플레이 패널의 결함을 정밀하게 검출할 수 있는 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 디스플레이 패널의 표면에 가시광선을 조사하는 조명부와, 상기 조명부에서 조사된 가시광선이 상기 디스플레이 패널에서 반사된 영상을 촬영하는 이미지 획득부와, 상기 디스플레이 패널의 온도 변화가 발생하면 가시광선 영역의 빛의 반사도가 달라지는 현상을 이용하여 상기 이미지 획득부에 의하여 촬상된 영상으로부터 디스플레이 패널의 온도분포를 측정하여 불량부위를 판별하는 제어부를 포함한다.
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公开(公告)号：KR101261016B1
公开(公告)日：2013-05-06
申请号：KR1020110022767
申请日：2011-03-15
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본발명에따른평판패널기판의자동광학검사방법은, 상기기판의일부영역을촬영하고, 각각이촬영한영상내에주기적으로반복하여존재하는셀 레이아웃패턴인단위영상들에기초하여기준영상을생성하는단계, 각단위영상들을상기기준영상과비교하여결함의존부를판정하고기판에결함이존재할경우결함의위치정보를획득하는단계및 획득한결함의위치정보를출력하는단계를포함한다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020130029681A
公开(公告)日：2013-03-25
申请号：KR1020110093101
申请日：2011-09-15
Applicant: (주) 인텍플러스
CPC classification number: G02B7/38 , G01N21/8851 , G01N2021/8887 , G02F1/1309
Abstract: PURPOSE: An auto-focusing device is provided to change a test range on a real time basis, thereby improving productivity. CONSTITUTION: An auto-focusing device(100) comprises a lens assembly(110), a transmissive rotary part(120), a photographing part(130), a reader(140), and a distance control part(150). The lens assembly comprises a lens which transmits a reflected light which is reflected from a device being tested. The transmissive rotary part is arranged on a transmission route of the reflected light passing through a lens assembly and rotates in one direction eccentrically to the lens assembly. The rotary part prepares an inclination zone which gradually increases in thickness following a rotational direction and converts an optical density on a real time basis. The photographing part is arranged on the transmission route of the reflected light passing through the rotary part and obtains an image. The reader receives an image photographed from the photographing part and determines the existence of focus. The distance control part controls a distance between a camera for testing and the device being tested, depending on the determination of the reader.
Abstract translation: 目的：提供自动对焦设备，实时更改测试范围，从而提高生产效率。 构成：自动对焦装置（100）包括透镜组件（110），透射旋转部件（120），拍摄部件（130），读取器（140）和距离控制部件（150）。 透镜组件包括透射从被测试装置反射的反射光的透镜。 透射旋转部件布置在穿过透镜组件的反射光的透射路径上，并且在一个方向上偏心地旋转到透镜组件。 旋转部准备沿着旋转方向逐渐增加的倾斜区域，并且实时地转换光密度。 摄影部配置在通过旋转部的反射光的传播路径上，并获得图像。 读取器接收从拍摄部分拍摄的图像，并确定焦点的存在。 距离控制部分根据读取器的确定来控制用于测试的相机和被测试设备之间的距离。
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公开(公告)号：KR1020120105149A
公开(公告)日：2012-09-25
申请号：KR1020110022767
申请日：2011-03-15
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: PURPOSE: A method and an apparatus for automatic optical inspection of a flat panel substrate are provided to maintain the quality of a flat panel substrate evenly. CONSTITUTION: An apparatus for automatic optical inspection of a flat panel substrate comprises a memory(110), an image acquisition part(120), a reference image generating unit(130), a defect determining part(140), and an output unit(150). The image acquisition part acquires the video recording some section of the substrate. The reference image generating unit generates and saves the generated reference image. The defect determining part acquires the position information of the defect on a substrate. The defect determining part saves the defect position information in the memory. [Reference numerals] (110) Memory; (120) Image acquisition part; (130) Reference image generating unit; (140) Defect determining part; (150) Output unit
Abstract translation: 目的：提供一种用于平板基板的自动光学检查的方法和装置，以保持平板基板的质量均匀。 一种用于平板基板的自动光学检查的装置，包括存储器（110），图像获取部分（120），参考图像生成单元（130），缺陷确定部分（140）和输出单元 150）。 图像获取部分获取基片的某个部分的视频记录。 参考图像生成单元生成并保存所生成的参考图像。 缺陷确定部件获取衬底上的缺陷的位置信息。 缺陷确定部件将缺陷位置信息保存在存储器中。 （附图标记）（110）存储器; （120）图像采集部分; （130）参考图像生成单元; （140）缺陷判定部; （150）输出单元
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公开(公告)号：KR1020120053801A
公开(公告)日：2012-05-29
申请号：KR1020100115108
申请日：2010-11-18
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: PURPOSE: An LED(Light Emitting Diode) chip inspection apparatus and an inspecting method are provided to maximally utilize a work space because a vision inspection unit, a reading unit, and a sorting unit are perpendicularly arranged in the upper part of a rotary table. CONSTITUTION: An LED chip inspection apparatus(10) comprises a supplying unit(100), a rotary table(200), a vision inspection unit(300), a reading unit(400), and a sorting unit(500). The supplying unit supplies LED chips at regular intervals of time. The LED chips supplied from the supplying unit are loaded on the rotary table. The vision inspection unit obtains images of the LED chips while rotating at the same speed of the rotary table. The reading unit reads faults of the LED chips based on the images obtained by the vision inspection unit. The sorting unit sorts and distinguishes the faulty LED chips according to a reading result of the reading unit.
Abstract translation: 目的：提供LED（发光二极管）芯片检查装置和检查方法，以最大限度地利用工作空间，因为视觉检查单元，读取单元和分类单元垂直地布置在旋转台的上部。 构成：LED芯片检查装置（10）包括供给单元（100），旋转台（200），视觉检查单元（300），读取单元（400）和分拣单元（500）。 供应单元定期供应LED芯片。 从供给单元供给的LED芯片装载在旋转台上。 视觉检查单元在以与旋转台相同的速度旋转的同时获得LED芯片的图像。 读取单元基于由视觉检查单元获得的图像来读取LED芯片的故障。 分类单元根据读取单元的读取结果对故障LED芯片进行排序和区分。
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公开(公告)号：KR101142528B1
公开(公告)日：2012-05-11
申请号：KR1020090117952
申请日：2009-12-01
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 발광다이오드 패키지의 불량 여부를 검사하며, 검사 후 불량인 발광다이오드 패키지에 대해 마킹할 수 있는 발광다이오드 패키지 검사 장치를 개시한다. 로딩부는 발광다이오드 패키지들이 어레이 형태로 연결된 패키지 집합체를 다수 수납한 카세트를 적재한다. 검사부는 로딩부로부터 공급받은 패키지 집합체의 발광다이오드 패키지들에 대해 비전 검사를 통해 불량 여부를 검사한다. 불량 마킹부는 검사부로부터 공급받은 패키지 집합체의 발광다이오드 패키지들 중에서 검사부의 검사 결과를 토대로 불량으로 판정된 발광다이오드 패키지에 대해 불량 마킹을 한다. 언로딩부는 불량 마킹부를 거쳐 배출되는 패키지 집합체를 수납하기 위한 빈 카세트를 적재한다. 이에 따라, 발광다이오드 패키지의 불량 검사와 불량 마킹이 자동화됨과 아울러 일련의 과정으로 신속하게 처리될 수 있으므로, 생산성 향상이 도모될 수 있다.
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公开(公告)号：KR101012637B1
公开(公告)日：2011-02-09
申请号：KR1020080082535
申请日：2008-08-22
Applicant: (주) 인텍플러스
Abstract: 본 발명은 CCD 카메라 구동 신호와 영상 획득에 필요한 주변 장치의 동기 신호를 일치시켜 시간 지연 없이 영상을 획득할 수 있는 광학식 영상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법에 관한 것이다.
이를 위한 본 발명의 광학식 형상 측정 시스템은 촬영 영역에 놓인 피사체를 촬영 하여 출력하는 하나 이상의 CCD 카메라와, 상기 촬영 영역에 조명광을 조사하는 조명장치 및 조명 컨트롤러와, 상기 조명장치의 구동을 제어하는 동기신호발생부와, 상기 각각의 CCD 카메라에서 출력되는 영상을 포획하여 출력하는 적어도 하나 이상의 영상포획부와, 상기 영상포획부에서 포획된 영상을 신호 처리하여 표시부로 출력하는 영상신호 처리부와, 상기 영상포획부 및 상기 동기신호발생부에 개시 명령을 출력하는 제어부와, 상기 제어부에 외부 장비로부터의 제어 신호를 전달하는 데이터 입력부를 포함하되, 상기 제어부가 상기 영상포획부 및 상기 동기신호발생부에 구동 신호를 출력함과 동시에 상기 동기신호발생부가 상기 제어부로부터의 제어 신호에 따라 CCD 카메라와 조명 컨트롤러에 구동 신호를 동시에 출력함을 특징으로 한다.
동기신호발생부, 동시, 조명, 카메라, 영상포획부
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