一种辐照缺陷对腐蚀行为影响的模拟方法、系统及介质

    公开(公告)号:CN115273992B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202210933893.X

    申请日:2022-08-04

    Abstract: 本发明实施例提供一种辐照缺陷对腐蚀行为影响的模拟方法,包括:模拟含和不含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构;进行高通量筛选,筛选出能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构;对筛选出的所有能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构进行单点能计算;通过缺陷形成能公式计算每个能量最低的含典型辐照缺陷的氧原子在不同间隙占位的含Nb锆合金结构中的典型缺陷与氧原子的结合能;根据结合能结合由单点能得到的电子特性参数,模拟预测辐照缺陷对含Nb锆合金腐蚀行为的影响。本发明实施例解决了现有技术难以模拟辐照缺陷对含Nb锆合金的腐蚀行为的影响的技术问题。

    锆合金板材表面涂层样品的反应堆辐照装样装置

    公开(公告)号:CN116773296A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310648147.0

    申请日:2023-06-02

    Abstract: 本申请属于材料辐照技术领域,具体涉及一种锆合金板材表面涂层样品的反应堆辐照装样装置。该装置,包括:上盖板和装样座;上盖板和装样座上下相互配合并用于固定与安装涂层样品;上盖板安装在装样座上侧,下表面有固定涂层样品在平行于上盖板方向运动的第一凸块;装样座的上侧开有用于放置样品的凹槽,凹槽两侧固定有第二凸块,用于固定涂层样品在垂直于上盖板方向的运动。该装置可以确保样品在入反应堆前装样、反应堆内辐照以及出反应堆转运提取过程中不受机械和振动破坏,为后续能够准确表征与分析测试经反应堆内实际工况考验的涂层样品的微观形貌、结构和宏观性能提供了有力保障,并且结构简单、安装使用取样方便。

    小尺寸板元件样品防截面高温氧化及肿胀变形装置

    公开(公告)号:CN116735309A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202310648055.2

    申请日:2023-06-02

    Abstract: 一种小尺寸板元件样品防截面高温氧化及肿胀变形装置,包括装样平面底座、矩形样品定位格架、长压紧滑片、短压紧滑片、旋紧螺杆、滑片固定卡针、试样槽、L型装样固定卡座;试样槽位于矩形样品定位格架内部,装样平面底座1表面左上角处设有L型装样固定卡座,矩形样品定位格架的四边框上开有滑轨,所述长压紧滑片与短压紧片均在矩形样品定位格架内部,分别靠近L型装样固定卡座对角方向的矩形样品定位格架边框,滑动固定卡针与穿过滑轨的长压紧滑片、短压紧滑片连接,将长压紧滑片、短压紧滑片固定在矩形样品定位格架中,旋紧螺杆通过矩形样品定位格架上的螺纹通孔22与靠近长压紧滑片、短压紧滑片的连接。

    基于速率理论的锆基合金中辐照硬化模拟方法及模型系统

    公开(公告)号:CN112632839B

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202011371082.2

    申请日:2020-11-30

    Abstract: 本发明公开了基于速率理论的锆基合金中辐照硬化模拟方法及模型系统,涉及核材料辐照模拟技术领域,其技术方案要点是:建立模拟位错结构的演化和辐照生长模型;建立辐照生长时的应变率计算模型;将获取的材料参数输入至辐照生长时的应变率计算模型;通过辐照生长时的应变率计算模型依据数值模拟参数模拟计算辐照剂量对位错环半径、位错密度、生长应变的影响关系;通过预构建的硬化程度计算模型依据模拟计算的影响关系计算得到点缺陷吸收阱引起的硬化值。本发明不仅可模拟计算辐照剂量对位错环半径、位错密度、生长应变的影响以及辐照硬化,还可模拟锡和铌作为锆基合金中的合金元素对力学性能和辐照生长的影响,预测范围广,计算结果准确。

    一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座

    公开(公告)号:CN114518376A

    公开(公告)日:2022-05-20

    申请号:CN202210150745.0

    申请日:2022-02-18

    Abstract: 本发明公开了一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座,包括样品台底盘、可调节样品夹具和固定样品夹具;所述固定样品夹具和可调节样品夹具设置在样品台底盘上,所述固定样品夹具和可调节样品夹具相对设置,所述固定样品夹具和可调节样品夹具之间形成用于容纳标准样品和待测样品的容纳腔,所述固定样品夹具和可调节样品夹具之间的间距可调节;所述样品台底盘、可调节样品夹具和固定样品夹具均采用屏蔽材料制成。本发明的样品座在不影响电子探针正常测试的情况下能对放射性样品从源头上进行屏蔽,进而降低设备元器件所承受的辐射剂量水平、提高元器件的使用寿命、优化设备信息采集效率、保护试验人员和试验环境等的电子探针屏蔽样品座。

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