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公开(公告)号：JP6171260B1
公开(公告)日：2017-08-02
申请号：JP2016076292
申请日：2016-04-06
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】低コストにワークの撓みを低減することができるワークの支持装置を提供する。 【解決手段】水平なテーブルと、テーブルの上面に設けられた3個の第1支点と、第1支点ごとに揺動自在に支持された第1アームであって、且つアーム長手方向の中央部が第1支点により水平な軸周りに揺動自在に支持されている第1アームと、第1支点ごとの第1アームの上面において揺動自在で且つ第1支点から異なる方向に振り分けて複数設けられ、ワークに当接する第1当接部と、を備える。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP5939477B1
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：JP2015072601
申请日：2015-03-31
Applicant: 株式会社東京精密
Abstract: 【課題】真円度測定のデータと表面粗さ測定のデータとに各々により得られたデータを相互に有効利用し、測定精度の向上等を図ることができる形状測定装置を提供する。 【解決手段】 本発明に係る形状測定装置100は、真円度測定装置の構成を有し、ワークWに対して両側から検出器24、124の測定子24B、124Bを当接させる。検出器24は真円度測定用であり、検出器124は表面粗さ測定用であり、それらから同時に取得されたデータを比較して外乱による外乱信号を除去し、測定精度の向上をはかる。 【選択図】図13
Abstract translation: 由每个有效相互利用，并且所述数据和所述圆度测量的表面粗糙度测量的数据获得的，从而提供能够实现测量精度的提高的形状测量装置的数据。 根据本发明的形状测定装置100具有圆度测量装置中，测量元件的检测器24，124从工件W的两侧24B的结构中，它被带入与124B接触。 检测器24是用于测量圆度，检测器124是用于表面粗糙度测量中，通过比较由它们同时获得以去除干扰信号由于干扰，提高测量精度的数据。 .The 13
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公开(公告)号：JP2015179093A
公开(公告)日：2015-10-08
申请号：JP2015099780
申请日：2015-05-15
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】設置に必要な空間が小さく、温度変化による誤差が小さい真円度測定装置および真円度測定方法を実現する。 【解決手段】ベース21と、ベースに固定され、載置されたワークを回転する回転台22と、ベースの裏面側に垂直に立つコラム24と、回転台の回転軸とワークの測定点を含む測定平面に平行に、ベースに対して、コラムをスライド移動する移動機構71、72,73,74,75と、コラムと共に移動可能な検出器30と、を有する。 【選択図】図4
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种圆形度测量装置，其仅需要较小的安装空间，并且由于温度变化而具有小的误差，以及圆度测量装置。圆形度测量装置包括：基座21; 旋转底座22，固定在基座上并旋转安装的工件; 在基座的后侧垂直竖立的柱24; 移动机构71,72,73,74和75，用于相对于基座与包括旋转底座的旋转轴和测量点的测量平面平行地滑动地移动柱; 以及能够与柱一起移动的检测器30。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2015068740A
公开(公告)日：2015-04-13
申请号：JP2013203828
申请日：2013-09-30
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】被測定物(ワーク)の直径を測定する場合に、温度変化に起因する誤差の影響を受けることなく高精度に測定を行うことができる真円度測定装置を提供する。 【解決手段】円筒状のワーク14の真円度を測定する真円度測定装置10であって、ワーク14を載置するテーブル(載物台)16と、ワーク14の中心軸に対して互いに対峙する状態で設けられ、ワーク14の中心軸に垂直な径方向に対して互いに独立して移動可能に構成され、ワーク14に接触する測定子34,36の変位を検出する第1及び第2の検出器30,32と、ワーク14を中心軸の周りに第1及び第2の検出器30,32に対して相対的に回転させる回転駆動機構18と、第1及び第2の検出器30,32の径方向の位置を同一の位置検出手段40によって検出する位置検出機構と、を備える。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种圆度测量装置，其能够在测量对象（工件）的直径的情况下，在不受温度变化的误差的影响的情况下以高精度进行测量。解决方案：圆度测量装置10，用于 测量圆柱形工件14的圆度包括：放置工件14的工作台16（放置基座）; 第一和第二检测器30和32被设置为跨越工件14的中心轴线彼此面对，并且被构造成可以在垂直于工件14的中心轴线的径向方向上彼此独立地移动，并且 检测与工件14接触的探针34和36的位移; 相对于第一和第二检测器30和32使工件14在中心轴线上旋转的旋转驱动机构18; 以及位置检测机构，其通过一个位置检测器40检测第一和第二检测器30和32的径向位置。
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公开(公告)号：JP2015064235A
公开(公告)日：2015-04-09
申请号：JP2013197241
申请日：2013-09-24
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】ワークの真円度、円筒度などの各種形状精度の評価を行うための測定を高精度に、かつ、簡易な構成により行うことができる真円度測定機を提供する。 【解決手段】本真円度測定器では、円柱状のワークWに対して検出器34の測定子36を接触させる鉛直方向の位置(測定断面の鉛直方向の位置)を順次変更し、各位置の測定断面において、スピンドル24を回転させて回転中心A0の周りに検出器34を回転させることにより円柱状のワークWの3次元的な形状データを測定する。 その際、第1測定と第2測定とを実施する。第1測定では、キャリッジ20を鉛直方向に移動させることにより検出器34を鉛直方向に移動させ、第2測定では、検出器ホルダ32を鉛直方向に移動させることにより検出器34を鉛直方向に移動させる。そして第1測定と第2測定の各々により得た形状データを合成することにより、各々の測定に対して生じる固有の誤差を排除して高精度な形状データを得る。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够以简单的构造高精度地进行各种类型的圆形度和圆柱度的形状精度的评估的圆度测量机。解决方案：在圆度测量机中，垂直位置 使检测器34的探针36与柱状工件W接触的方向（测量横截面的垂直方向的位置）顺序地变化，并且检测器34通过使检测器34绕旋转中心A0旋转 主轴24在每个位置的测量横截面中旋转，从而测量柱状工件W的三维形状数据。此时，执行第一测量和第二测量。 在第一测量中，滑架20在垂直方向上移动，以使检测器34沿垂直方向移动。 在第二测量中，检测器支架32在垂直方向上移动，以使检测器34沿垂直方向移动。 分别通过第一测量和第二测量获得的形状数据被组合，从而消除了对每个测量唯一的误差，以获得高精度的形状数据。
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公开(公告)号：JP2018025563A
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：JP2017181484
申请日：2017-09-21
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B21/00
Abstract: 【課題】低コストにワークの撓みを低減することができるワークの支持装置を提供する。 【解決手段】水平なテーブル14と、テーブルの上面に設けられた3個の第1支点25と、第1支点ごとに揺動自在に支持された第1アーム26であって、且つアーム長手方向の中央部が第1支点により揺動自在に支持されている第1アームと、第1支点ごとの第1アームの上面において揺動自在で且つ第1支点から異なる方向に振り分けて複数設けられ、任意の方向に揺動自在な球支点27と、球支点ごとに個別に任意の方向に揺動自在に支持され、ワークにそれぞれ当接する複数のワーク座28と、を備える。 【選択図】図4
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公开(公告)号：JP2017187382A
公开(公告)日：2017-10-12
申请号：JP2016076292
申请日：2016-04-06
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
Abstract: 【課題】低コストにワークの撓みを低減することができるワークの支持装置を提供する。 【解決手段】水平なテーブルと、テーブルの上面に設けられた3個の第1支点と、第1支点ごとに揺動自在に支持された第1アームであって、且つアーム長手方向の中央部が第1支点により水平な軸周りに揺動自在に支持されている第1アームと、第1支点ごとの第1アームの上面において揺動自在で且つ第1支点から異なる方向に振り分けて複数設けられ、ワークに当接する第1当接部と、を備える。 【選択図】図3
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