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公开(公告)号：CN102460237A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201080026946.5
申请日：2010-06-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G02B5/1857 , A61B6/484 , G21K2201/06 , G21K2207/005
Abstract: 本发明涉及使通过扫描对象的相干辐射的相位信息可视化的相衬成像。聚焦光栅被使用，其减少了与光轴成特定角度的投影中梯形轮廓的创建。结合专用刻蚀过程使用激光支持的方法来创建这种聚焦光栅结构。
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公开(公告)号：CN102428522A
公开(公告)日：2012-04-25
申请号：CN201080021691.3
申请日：2010-05-17
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G21K1/06
CPC classification number: G21K1/06 , G21K2207/005
Abstract: 本发明涉及用于X射线微分相衬成像的光栅，用于生成对象的相衬图像的聚焦探测器布置和X射线系统，以及用于检查感兴趣对象的相衬成像方法。为了提供具有高纵横比但低成本的光栅，提出一种用于X射线微分相衬成像的光栅，其包括第一子光栅(112)和至少第二子光栅(114；116；118)，其中所述子光栅各自包括以一节距(a)周期性布置的、具有棒状物(122)和间隙(124)的主体结构(120)，其中所述子光栅(112；114；116；118)在X射线束的方向上连续布置，并且其中，所述子光栅(112；114；116；118)垂直于所述X射线束彼此移位定位。
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公开(公告)号：CN102365687A
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN201080014910.5
申请日：2010-03-19
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G21K1/06 , G02B27/52 , G21K2207/005
Abstract: 提供用于检查感兴趣对象的消色差的相衬成像装置，该装置包括具有不同间距的两个不同的相位光栅。因而，成像装置产生关于两个不同的能量的相衬信息。因而，能够使用遍及更宽的能带的相位信息。
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公开(公告)号：CN102089647A
公开(公告)日：2011-06-08
申请号：CN200980111561.6
申请日：2009-03-20
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T7/005 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/4042 , A61B6/4441 , A61B6/482 , A61B6/585 , G01N2223/3037 , G01T1/1647
Abstract: 一种方法包括利用辐射敏感探测器像素探测穿过具有已知光谱特性的材料的辐射，所述辐射敏感探测器像素输出指示所探测辐射的信号；以及确定所述输出信号和所述光谱特性之间的映射。该方法还包括基于所述辐射敏感探测器像素的对应输出和所述映射确定由所述辐射敏感探测器像素探测的光子能量。
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公开(公告)号：CN102088907A
公开(公告)日：2011-06-08
申请号：CN200980126238.6
申请日：2009-06-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: G01N23/087 , A61B5/4869 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/481 , A61B6/482
Abstract: 一种成像系统，包括发射穿过检查区域的多色辐射的辐射源(110)，以及探测穿过所述检查区域的辐射并产生指示探测的光子的能量的信号的探测器(116)。所述系统还包括能量鉴别器(122)，其基于多个不同能量阈值能量分辨所述信号，其中，所述能量阈值中的至少两个具有与置于所述检查区域内的混合物中的两种不同元素的至少两个不同K边缘能量对应的值。所述系统还包括信号分解器(132)，其将经能量分辨的信号分解为代表至少两个不同K边缘能量的至少多K边缘成分。在一个例子中，造影剂中两种不同元素的化学计量比已知并且基本恒定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102076263A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200980125044.4
申请日：2009-06-01
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: A61B6/405 , A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/4035 , A61B6/4042 , A61B6/4241 , A61B6/482
Abstract: 一种成像系统包括绕检查区域旋转并发射穿过检查区域的辐射的辐射源(106，T1，T2，T3)。辐射源(106，T1，T2，T3)发射的辐射具有在成像程序期间在至少两个不同能量谱之间有选择地交替切换的能量谱。该系统还包括探测穿过检查区域的辐射的能量分辨探测器阵列(116，D1，D2，D3)。能量分辨探测器阵列(116，D1，D2，D3)在至少两个不同能量范围上分辨所探测的辐射并根据发射能量谱和能量范围两者产生能量分辨的输出信号。该系统还包括对能量分辨的输出信号执行频谱重建的重建器(126)。在另一实施例中，探测器阵列(116)包括光子计数探测器阵列(116)。
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公开(公告)号：CN101911299A
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200880123119.0
申请日：2008-12-26
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/1463 , H01L27/14659
Abstract: 为了减轻出现在半导体探测器中的电荷共享的影响，提供了一种改进的半导体探测器(200)，其包括：布置用于形成至少一个开口(230)的多个阳极(210)，每个开口由该多个阳极中的两个阳极形成；至少一个阴极(220)；位于该多个阳极和该至少一个阴极之间的探测器单元(240)；其中，该探测器单元包括至少一个沟槽(250)，该至少一个沟槽中的每个具有与由多个阳极中的两个阳极形成的至少一个开口中的一个对准的第一开口(252)，至少一个沟槽中的每个朝向至少一个阴极扩展。通过在探测器单元中形成沟槽，可以通过相应阳极而不是几个邻近阳极接收由单一光子产生的电荷云，这因此改进了半导体探测器的频谱分辨率和计数速率。
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公开(公告)号：CN101680956A
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200880020825.2
申请日：2008-05-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/171
Abstract: 一种装置包括局部最小值识别器(408)和脉冲堆积误差校正器(232)，所述局部最小值识别器(408)识别信号中的重叠脉冲之间的局部最小值，其中所述脉冲具有指示由辐射敏感探测器相继探测的来自多能量辐射束的光子的能量的幅值，而所述脉冲堆积误差校正器(232)在使用对应于不同能级的至少两个阈值对所述脉冲进行能量鉴别时，基于所述局部最小值校正脉冲堆积能量鉴别误差。这一技术可以减少当以高计数率对光子计数时的谱误差。
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公开(公告)号：CN101542315A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200780042651.5
申请日：2007-11-12
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(200)，具体而言是一种X射线探测器，其包括至少一个用于将入射光子(X)转换成电信号的敏感层(212)。电极(213)的二维阵列位于该敏感层(212)的正面，而其背面携带对电极(211)。电极(213)的尺寸可在辐射方向(y)上变化以适应电极的计数工作量。此外，电极(213)相对于辐射方向(y)的位置提供关于所探测到的光子(X)的能量的信息。
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公开(公告)号：CN101410871A
公开(公告)日：2009-04-15
申请号：CN200780011593.X
申请日：2007-03-14
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G06T5/50
Abstract: 说明了一种方法，用于降低与第一和第二频谱X射线数据采集相关的X射线衰减数据的噪声。该方法包括步骤：(a)获得表示所关注区域的X射线衰减特性的数据，(b)分别为第一和第二频谱X射线数据采集确定第一和第二基于衰减的线积分，以及(c)分别基于对于所述第一和第二频谱X射线数据采集的指定信噪比，计算对于第一和第二基于衰减的线积分的预期的第一和第二信噪比。该方法还包括步骤：(d)为其他第一频谱X射线数据采集重复上述的确定基于衰减的线积分的步骤和计算预期信噪比的步骤，以及(e)选择改进的频谱X射线数据采集，以便提高最终的X射线图像的总信噪比。
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