Abstract:
용지의 오염을 방지할 수 있는 화상형성장치가 개시된다. 본 발명에 따른 화상형성장치는, 메인급지부 및 보조급지부, 메인급지부에 설치된 이송롤러의 작동을 제어하는 메인모터, 및 보조급지부에 설치된 이송롤러의 작동을 제어하는 보조모터를 구비한 화상형상장치에 있어서, 보조급지부로부터 급지되어 이송경로상의 소정 위치에 도달된 용지의 선단을 검출하는 용지선단 검출부, 및 용지선단 검출부에 의해 용지의 선단이 소정 위치에 도달된 것으로 판단되면 메인모터 및 보조모터를 동시에 정지시키는 제어부를 포함한다. 여기서, 제어부는, 용지에 전사시키기 위한 화상이 전사유닛에 형성된 후에 용지를 전사유닛으로 이송시키며, 다음 용지를 보조급지부로부터 픽업하고, 픽업된 용지가 각각의 이송롤러를 통해 소정 위치로 이송되도록 메인모터 및 보조모터를 동시에 구동시킨다. 이로써, 보조 급지부로부터 용지가 픽업되는 경우에도 이송롤러의 공회전에 의한 용지의 오염을 방지할 수 있게 된다.
Abstract:
PURPOSE: An apparatus and a method are provided to prevent a transfer roller from being contaminated by a toner when the size of an image formed on a photosensitive drum is larger than the size of paper supplied from a paper supply cassette, by isolating the transfer roller from a transfer belt before contamination. CONSTITUTION: The size of paper is determined based on a point of time when a paper supply sensor detects front and rear ends of paper(311-316). The size of an image formed on a photosensitive drum is compared with the size of paper supplied(317). A point of time when a transfer roller is isolated from a transfer belt is determined in case that the paper size is not larger than the image size, by considering a period of delay time until the transfer roller is isolated mechanically after an isolation instruction is applied to the transfer roller(318,320).
Abstract:
PURPOSE: A CMP(chemical mechanical polishing) apparatus is provided to improve polishing uniformity at the edge of a wafer by minimizing the unevenness of a polishing pad portion contacting the edge of the wafer during a polishing process. CONSTITUTION: A platen is prepared. A polishing pad is located on the platen. A polishing head(200) pressurizes a semiconductor substrate to the polishing pad to polish the substrate. A membrane(250) holds and releases the semiconductor substrate by vacuum, located on the bottom. A retainer ring(260) prevents the semiconductor substrate to which the membrane is absorbed from being separated from the polishing head during a process. The polishing head includes the membrane and the retainer ring. The retainer ring includes an inner retainer ring(262) surrounding the membrane and an outer retainer ring(264) surrounding the inner retainer ring.