公开(公告)号：DE102005008619A1

公开(公告)日：2006-09-07

申请号：DE102005008619

申请日：2005-02-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEIFERT ROLAND

IPC: G02B21/24

Abstract: The microscope has a light source and a probe between which an illumination beam path extends. A detection beam path (2) extends between the probe and a detector device. The detector device is arranged as an introducible and collectively interchangeable detector module (1) in the detection beam path. The detector module includes five independent detectors (3) which are exchangeable commonly or individually.

公开(公告)号：DE102014115417B4

公开(公告)日：2021-11-11

申请号：DE102014115417

申请日：2014-10-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHREIBER FRANK ,  MRAWEK PATRIC ,  SEIFERT ROLAND

IPC: G01J1/44 ,  G02B21/00 ,  H01J40/16 ,  H01J43/00 ,  H01L31/0232 ,  H01L31/107 ,  H03K17/00

Abstract: Verfahren zum Betreiben eines Detektors (4), der dazu ausgebildet ist, Detektionslicht (50) zu empfangen und bei Anliegen wenigstens einer Versorgungsspannung von mehr als 100 V elektrische Signale zu erzeugen, wobei die Höhe der Versorgungsspannung mittels einer Schaltvorrichtung (15, 17), die wenigstens einen halbleiterbasierten Schalter (31) beinhaltet, eingestellt wird, wobei der halbleiterbasierte Schalter (31) wenigstens ein steuerbares Beleuchtungselement (29) und ein von dem Beleuchtungselement (29) elektrisch isoliertes, lichtempfindliches Schaltelement (25) aufweist, wobei der elektrische Widerstand des lichtempfindlichen Schaltelements (25) von der Leistung des von dem Beleuchtungselement (29) empfangenen Schaltlichts abhängt, dadurch gekennzeichnet, dass das lichtempfindliche Schaltelement (25) als Reihenschaltung mehrerer Feldeffekttransistoren (27) ausgebildet ist, deren Gateschichten (28) mit dem Schaltlicht beleuchtet werden.

公开(公告)号：DE102010061166B3

公开(公告)日：2012-05-31

申请号：DE102010061166

申请日：2010-12-10

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEIFERT ROLAND

IPC: G02B21/26 ,  G02B21/24

Abstract: Beschrieben sind eine Einrichtung und ein Verfahren zur justierten Anbringung eines Mikroskoptisches (14), an dem ein Objektiv (38) montiert ist, an einem Mikroskopstativ (12). Die Einrichtung ist versehen mit mindestens einem an dem Mikroskopstativ (12) angeordneten ersten Verbindungselement (56), mindestens einem an dem Mikroskoptisch (14) angeordneten zweiten Verbindungselement (62), das zur Anbringung des Mikroskoptisches (14) an dem Mikroskopstativ (12) mit dem ersten Verbindungselement (56) verbindbar ist, mindestens einem ersten Passteil (76), das an dem Mikroskopstativ (12) angeordnet ist, mindestens einem Positioniersockel (66), der an der dem Mikroskopstativ (12) zugewandten Unterseite einer Tischplatte (16) des Mikroskoptisches (12) angeordnet ist und ein zweites Passteil (74) trägt, das mit dem ersten Passteil (76) in Eingriff bringbar ist, wobei der Positioniersockel (66) zum Justieren der Tischplatte (16) auf dem Mikroskopstativ (12) mit in Eingriff gebrachten Passteilen (74, 76) in einer zur Tischplatte (16) parallelen Justierebene beweglich gelagert ist, und mindestens einer Arretiervorrichtung (80) zum Arretieren des Positioniersockels (66) an der justierten Tischplatte (16).

公开(公告)号：DE102007042260A1

公开(公告)日：2009-03-12

申请号：DE102007042260

申请日：2007-09-06

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEIFERT ROLAND

IPC: G02B21/24

Abstract: An objective changer for a microscope includes a changing device configured to pendulously swing each of a plurality of objectives into a respective operating position near a focal position.

公开(公告)号：DE102005046244A1

公开(公告)日：2007-04-12

申请号：DE102005046244

申请日：2005-09-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEIFERT ROLAND

IPC: G02B21/26

Abstract: An apparatus for adjusting a microscope stage. The microscope stage of the apparatus defines a plane on which an object to be examined can be placed. The apparatus further includes a first shaft and a second shaft rotationally coupled to the first shaft. The microscope stage is guided between the first and second shafts such that a rotational movement of at least one of the first and second shafts has a direct effect on the microscope stage.

公开(公告)号：DE10321400A1

公开(公告)日：2004-12-02

申请号：DE10321400

申请日：2003-05-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEIFERT ROLAND ,  RYGIEL REINER

IPC: G02B21/24 ,  G02B21/26 ,  G02B21/02

Abstract: The invention concerns a fine tuning device for moving and/or tilting an object. The inventive fine tuning device is characterized in that a support element can rotate about an axis of rotation being guided by a guiding element. To provide tilting between the support element and the guide element, a guiding plane is defined which intersects the axis of rotation by an angle other than 90°; to provide displacement, the object is fixed on the support element with a lateral offset relative to the axis of rotation.