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公开(公告)号:FR3098949A1
公开(公告)日:2021-01-22
申请号:FR1907911
申请日:2019-07-15
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS ALPS SAS
Inventor: BENVENISTE MARC , JOURNET FABIEN , MARINET FABRICE
Abstract: Fonction à sens unique La présente description concerne un procédé de mise en oeuvre d'une première fonction à sens unique par un dispositif dans lequel : - une deuxième fonction (551) prend en compte des états de noeuds numériques (51) répartis dans des circuits (53) du dispositif mettant en oeuvre des troisièmes fonctions ; - lesdits états des noeuds (51) dépendent d'un résultat (R) précédent de la première fonction ; et - dans lequel la deuxième fonction (551) et/ou les troisième fonctions sont des fonctions à sens unique. Figure pour l'abrégé : Fig. 2
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32.
公开(公告)号:FR3085530A1
公开(公告)日:2020-03-06
申请号:FR1857840
申请日:2018-08-31
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: FORNARA PASCAL , MARINET FABRICE
Abstract: Circuit intégré comportant au moins une cellule mémoire (CM) intégrant un dispositif anti-fusible (DIS) comportant un transistor d'état (TR) possédant une grille de commande (EG) et une deuxième grille (FG) configurée pour être flottante de façon à conférer un état non claqué au dispositif anti-fusible (DIS) ou électriquement couplée à la grille de commande de façon à conférer un état claqué au dispositif antifusible (DIS).
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公开(公告)号:FR3084492A1
公开(公告)日:2020-01-31
申请号:FR1857057
申请日:2018-07-30
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MARINET FABRICE , FORNARA PASCAL
Abstract: Le procédé de détection d'une attaque d'un circuit intégré (CI) par un faisceau de particules électriquement chargées (IB), comprend : - une réalisation dans le circuit intégré d'au moins un corps électriquement conducteur (MPL) et d'au moins un transistor d'état ayant une grille flottante (FG) électriquement couplée audit au moins un corps électriquement conducteur (MPL) ; - une configuration dudit au moins un transistor d'état (FGT) de façon à lui conférer une tension de seuil initiale ; et - une détection de ladite attaque par une détection d'une tension de seuil dudit au moins un transistor d'état (FGT) différente de la tension de seuil initiale. (FGT).
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公开(公告)号:FR3058813A1
公开(公告)日:2018-05-18
申请号:FR1661108
申请日:2016-11-16
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , PROTON WORLD INT NV
Inventor: PEETERS MICHAEL , MARINET FABRICE , MODAVE JEAN-LOUIS
IPC: G06F21/60
Abstract: L'invention concerne un procédé de brouillage d'adresses dans une mémoire non volatile, organisée en pages (P), dans lequel : la mémoire présente une granularité d'écriture de mots (W) comportant un ou plusieurs octets ; la mémoire comporte une granularité d'effacement de blocs (B) comportant une ou plusieurs pages (P) de plusieurs mots chacune ; et des adresses logiques (L-ADD) sont converties en adresses physiques en respectant les conditions suivantes : les adresses de données sont brouillées (32) en respectant la structure des pages et les adresses de code sont brouillées (31) en respectant la structure des mots.
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公开(公告)号:FR2984553B1
公开(公告)日:2015-11-06
申请号:FR1161673
申请日:2011-12-15
Applicant: PROTON WORLD INT NV , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MARINET FABRICE , MODAVE JEAN-LOUIS , VAN ASSCHE GILLES , VAN KEER RONNY
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公开(公告)号:FR2984553A1
公开(公告)日:2013-06-21
申请号:FR1161673
申请日:2011-12-15
Applicant: PROTON WORLD INT NV , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MARINET FABRICE , MODAVE JEAN-LOUIS , VAN ASSCHE GILLES , VAN KEER RONNY
Abstract: The disclosure concerns a method implemented by a processing device. The method includes performing a first execution by the processing device of a computing function based on one or more initial parameters stored in a first memory device. The execution of the computing function generates one or more modified values of at least one of the initial parameters, wherein during the first execution the one or more initial parameters are read from the first memory device and the one or more modified values are stored in a second memory device. The method also includes performing a second execution by the processing device of the computing function based on the one or more initial parameters stored in the first memory device.
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37.
公开(公告)号:FR2958098B1
公开(公告)日:2012-11-16
申请号:FR1001176
申请日:2010-03-24
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MARINET FABRICE , LISART MATHIEU
IPC: H01L23/485 , H03K19/003
Abstract: L'invention concerne un procédé de contremesure dans un microcircuit électronique (IC1, IC2, IC3), comprenant des phases de traitement successives exécutées par un circuit du microcircuit, et une étape d'ajustement d'une tension d'alimentation (vdd-Vgb1) entre des bornes d'alimentation (VS1, VS2, VS3) et de masse (LG1, LG2, LG3) du circuit, en fonction d'une valeur aléatoire générée pour la phase de traitement, à chaque phase de traitement exécutée par le circuit.
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公开(公告)号:FR2958078B1
公开(公告)日:2012-04-20
申请号:FR1001177
申请日:2010-03-24
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MARINET FABRICE , LISART MATHIEU
IPC: H01L23/485 , H03K19/003
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公开(公告)号:FR2994020A1
公开(公告)日:2014-01-31
申请号:FR1257354
申请日:2012-07-30
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MARINET FABRICE , FORNARA PASCAL
Abstract: L'invention concerne une élément (C3') d'écoulement de charges électriques comportant, sur un support isolant (23), un empilement d'une première électrode (18'), d'une couche diélectrique (ONO, G01) dont au moins une portion (29) est adaptée à laisser circuler des charges par effet tunnel, et d'une seconde électrode (17), dans lequel au moins une des électrodes (18') est en silicium polycristallin non dopé.
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公开(公告)号:FR2951016B1
公开(公告)日:2012-07-13
申请号:FR0956920
申请日:2009-10-05
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: FORNARA PASCAL , MARINET FABRICE
IPC: H01L21/223 , G06K19/073 , H01L23/58
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