-
公开(公告)号：JP2012225901A
公开(公告)日：2012-11-15
申请号：JP2012028675
申请日：2012-02-13
Applicant: Chroma Ate Inc , クロマ エーティーイー インコーポレイティッド.
Inventor： CHENG HSU-TING , TSENG I-SHIH , WANG TSUN-I
CPC classification number: G01J3/51 , G01J2001/4252 , G01J2005/608 , G01R31/2635
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting component measuring system and a method thereof, capable of measuring the optical proprieties of a plurality of devices under test (DUT).SOLUTION: Each DUT 2 is capable of receiving electricity so as to output an initial ray, in which each initial ray has a first wavelength range. A light emitting component measuring system 1 comprises a filtering device 14 and a sensing device 16. The filtering device 14 comprises a first filtering portion 142 which can filter a corresponding third wavelength of the initial rays and output a plurality of first filtered rays 24 simultaneously. Each first filtered ray 24 has a second wavelength range respectively. The sensing device 16 receives the ray outputted from the filtering device 14 and generates optical data accordingly.
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够测量被测设备（DUT）的光学特性的发光元件测量系统及其方法。 解决方案：每个DUT 2能够接收电力以输出初始射线，其中每个初始射线具有第一波长范围。 发光元件测量系统1包括过滤装置14和感测装置16.过滤装置14包括第一过滤部分142，该第一过滤部分142可以过滤相应的初始光线的第三波长并同时输出多个第一滤波光线24。 每个第一滤波光线24分别具有第二波长范围。 感测装置16接收从过滤装置14输出的射线，并相应地产生光学数据。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT
-
公开(公告)号：JP6967630B2
公开(公告)日：2021-11-17
申请号：JP2020096568
申请日：2020-06-03
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
-
-
公开(公告)号：JP6796674B2
公开(公告)日：2020-12-09
申请号：JP2019042227
申请日：2019-03-08
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Inventor： シュウチャン,シュウ , クオイェン,シュウ
IPC: H01M2/10
-
公开(公告)号：JP2020144130A
公开(公告)日：2020-09-10
申请号：JP2020038437
申请日：2020-03-06
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Abstract: 【課題】 電気部品試験方法及び試験プローブを提供する。 【解決手段】 本明細書に開示されているのは、電気部品を試験するための方法及び試験プローブである。この電気部品は、少なくとも第1の電極と、第2の電極と、を備える。この方法は以下のステップ、すなわち、第1の電極を第1の導電性フレキシブル層で被覆するステップと、第1の電極コンタクトを駆動して、第1の電極コンタクトの第1の端部を、第1の導電性フレキシブル層を介して第1の電極と電気的に接続させるステップと、第2の電極を第2の導電性フレキシブル層で被覆するステップと、第2の電極コンタクトを駆動して、第2の電極コンタクトの第2の端部を、第2の導電性フレキシブル層を介して第2の電極と電気的に接続させるステップと、を含む。第1の導電性フレキシブル層は、異方性導電膜である。 【選択図】図1
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP3227593U
公开(公告)日：2020-09-03
申请号：JP2020002104
申请日：2020-06-03
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: G01R1/06
Abstract: 【課題】放射される不要輻射を低減するシールド構造を備えたプローブコネクタ構造及びテストモジュールを提供する。 【解決手段】プローブコネクタ構造1は、ホルダ10と、プローブユニット20と、金属製シールドカバー30と、を含み、金属製シールドカバー30が当接片31と、シールドシート32と、を含み、当接片31が備える開口部33を介してホルダ10内の突き合わせ部11を露出させ、かつ金属製シールドカバー30がプローブユニット20の側端の対向両側を遮蔽することで、プローブユニット20の側端部から放射される不要輻射を低減し、不要輻射を遮蔽する効果を奏し、プローブコネクタ構造1を使用するテストモジュールが放射妨害波試験を行う時、各周波数の不要輻射がさらに効果的に抑制されて設定した規格基準に達することができる。 【選択図】図1
-
37.发明专利
公开(公告)号：JP6733001B1
公开(公告)日：2020-07-29
申请号：JP2019082420
申请日：2019-04-24
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Abstract: 【課題】本発明は車両用のワイヤレス充電モジュールの検査設備及びその検査方法に係るものである。充電モジュールアライメント装置によって送電板と受電板が完全に位置合せられるように両者の位置を校正してから検査する。検査する間に、多軸ステージによって送電板と受電板の位置ずれ量を調節し、位置ずれ量ごとの電力転送効率を算出する。これによって、本発明は、計測位置を高精度に校正することができ、高精度な検査結果が得られ、半自動検査または全自動検査を提供することができ、時間および労力を節約し、検査効率を大幅に改善することができる。 【選択図】図1
-
公开(公告)号：JP6731521B2
公开(公告)日：2020-07-29
申请号：JP2019108315
申请日：2019-06-11
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: G01R1/067
-
公开(公告)号：JP6694462B2
公开(公告)日：2020-05-13
申请号：JP2018055828
申请日：2018-03-23
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
-
公开(公告)号：JP2020071219A
公开(公告)日：2020-05-07
申请号：JP2019172635
申请日：2019-09-24
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Abstract: 【課題】プローブ位置合わせの精確度を向上することができると共に、画像分析の計算の複雑度を減少することが可能なプローブ位置合わせ装置を提供する。 【解決手段】測定待機物とプローブ素子との間に設けられており、三角形を呈する透光可能な二つのプリズムで構成され、第1光出射面と、第2光出射面と、光入射面と、を有し、第1光出射面と第2光出射面とは、それぞれプローブ素子と測定待機物とに面し、二つのプリズムの接合面は半分透過可能な反射面を構成し、これにより、光入射面を通過する光線は、反射面に反射されてプローブ素子に入射する分光素子と、分光素子の光入射面に設けられている画像センシング装置と、分光素子の光入射面の対向側に設けられており、一部が反射面を透過する光線は、光反射素子に反射されて反射面に戻して、測定待機物に投射する光反射素子と、を備える。 【選択図】図2
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
1037
records
(took 0.031 seconds)
