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公开(公告)号：CN102692203B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201210149384.4
申请日：2012-03-19
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B21/042 , G01B5/201 , G01B5/28
Abstract: 校准表面结构测量装置的方法，包括：获取Y轴形状测量数据和最大直径部分，以从当向下的和向上的触针分别与参考球的上和下表面接触时通过在Y轴方向上相对移动而获取的Y轴上部和下部形状数据来获取参考球的上部和下部最大直径部分；获取X轴形状测量数据，从而当向下的触针与参考球的上部直径部分接触以及向上的触针与参考球的下部直径部分接触时，通过相对地在X轴方向移动来获取参考球的X轴上部和下部形状数据；以及由形状数据获取的中心坐标O3和O4计算向上的和向下的触针的偏移量Δx和Δz。
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公开(公告)号：CN105269240A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510723440.4
申请日：2015-10-29
Applicant: 綦江永跃齿轮有限公司
Inventor： 蓝来
Abstract: 本发明公开了一种齿圈内胀式圆度校正机，包括支座、回转支承、校正平台、沿圆周方向均匀布置在校正平台上的燕尾形导轨、与燕尾形导轨滑动配合的扇环形校正块、固定在支座上的L形支撑板、竖直固定在L形支撑板上的液压千斤顶、以及固定在液压千斤顶活塞杆下端上的压头，所述扇环形校正块的内圆面为圆锥面，所述压头的前段为与扇环形校正块的圆锥面相配的圆锥形。本发明齿圈内胀式圆度校正机，将齿圈放置在燕尾形导轨上，然后控制液压千斤顶推动压头下移，压头推动扇环形校正块沿导轨滑动，扇环形校正块便对齿圈施加压力实现齿圈变形校正，校正自动完成，校正工作效率高，劳动强度低。
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公开(公告)号：CN101893434B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201010189691.6
申请日：2010-05-24
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
CPC classification number: G01B5/201 , G01B21/047
Abstract: 一种圆度测定仪包括测头储放器和控制器。测头储放器可存放许多类型的测头，它们是按照测定标的各测定点的形状来制备的。测头储放器能够以每一测头可装在其上和可从其中取出的方式存放测头。此区域是根据转台和检测器驱动机构的操作范围来确定的。检测器驱动机构能够将检测器移动到测定区的外边。当给出测定指令时，控制装置进行测定标的圆度测定，同时控制转台和检测器驱动机构的操作。当给出测头替换指令时，控制装置在检测器主要装置与测头储放器之间进行测头替换操作，同时控制检测器驱动机构。
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公开(公告)号：CN103530104A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310254403.4
申请日：2013-06-25
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G06F9/44
Abstract: 一种用于分析通过测量待测量工件的轮廓形状而获取的形状数据的形状分析方法，包括：决定形状分析中使用的几何元素；决定要被包括在评估范围中的一个数据点；向包括所述一个数据点的区间应用所述几何元素；在改变所述区间的宽度的同时搜索用于满足预设形状公差的阈值条件的最宽区间；查明将通过所述搜索而找到的区间夹在中间的两个边界点；获得所述两个边界点分别偏移了预设偏移量的两个边缘点；将夹在所述边缘点之间的范围设置为所述评估范围；以及将所述评估范围内的形状数据作为对象，用于几何性质的计算。
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公开(公告)号：CN103052862A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201180038286.7
申请日：2011-07-07
Applicant: 特诺恩股份公司
CPC classification number: G01B5/08 , B24B49/045 , G01B3/20 , G01B3/303 , G01B5/20 , G01B5/201 , G01B21/042
Abstract: 用于测量缸的几何特征例如直径、轮廓、圆形度和偏心度误差的测量计校准装置，其中所述测量计包括在自由端处配备有探针或传感器的一对可动相对臂（49），其特征在于，所述校准装置（30）包括通过马达（36，37）往复接近和/或远离的一对抵接件（34，35），直到期望地获得在其上装配有所述校准装置的测量计的测量范围内的样本测量值，通过与所述抵接件（34，35）协作的测量装置（42，43；44，45）所展现，进而所述探针或传感器（51）分别邻接或接近所述抵接件（34，35）以感测所述样本测量值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101137887B
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200680006498.6
申请日：2006-02-03
Applicant: HCC/KPM公司
Inventor： 塞缪尔·C.·库贝 , 艾伯特·A.·普莱克
Abstract: 一种连接传送机构及方法，其采用单个原动力源将形测组件的多个可移动的传感器同步地定位到容置于轧辊磨床中的轧辊上。至少两个传感器(28，29)安装在位于至少一个测量臂(1)上的直线滑块上。完整的形测组件包括至少三个传感器(27，28，29)或测量位置，以允许计算轧辊的横截面形状和轧辊的外部误差移动。至少一个测量臂连接到框架(3)的直线导引件(4)。直线电机连接在框架与测量臂之间。该连接传送机构可确保所述传感器的同步精确定位，其中所述传感器中的每一个传感器以固定的角度通过所述轧辊中心，且跨越磨床所能容置的轧辊的直径的整个范围。
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公开(公告)号：CN101893434A
公开(公告)日：2010-11-24
申请号：CN201010189691.6
申请日：2010-05-24
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
CPC classification number: G01B5/201 , G01B21/047
Abstract: 一种圆度测定仪包括测头储放器和控制器。测头储放器可存放许多类型的测头，它们是按照测定标的各测定点的形状来制备的。测头储放器能够以每一测头可装在其上和可从其中取出的方式存放测头。此区域是根据转台和检测器驱动机构的操作范围来确定的。检测器驱动机构能够将检测器移动到测定区的外边。当给出测定指令时，控制装置进行测定标的圆度测定，同时控制转台和检测器驱动机构的操作。当给出测头替换指令时，控制装置在检测器主要装置与测头储放器之间进行测头替换操作，同时控制检测器驱动机构。
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公开(公告)号：CN101322006B
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200680045274.6
申请日：2006-12-01
Applicant: 东京精密股份有限公司
IPC: G01B5/20
CPC classification number: G01B5/201 , G01B21/045
Abstract: 目的是实现改善偏心时的测量精度的真圆度测量装置。真圆度测量装置具备载物台1；具有球状端部，可在包含载物台的转动轴的第1平面内位移，与被测物的表面接触位移的测量端子11；检出测量端子的位移，输出测量数据的测头12-14；处理测量数据的处理控制部15，处理控制部对由于被测物的中心与载物台的转动中心的偏心而使被测物的表面与测量端子的接触位置在第1平面内的偏移进行修正，算出真圆度，处理控制部算出由于偏心而使接触位置在第1平面的垂直方向上的偏移，对由于算出的偏移而使接触位置在第1平面内的偏移进行修正，算出真圆度。
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公开(公告)号：CN1329711C
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200510102478.6
申请日：2005-09-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B5/201 , G01B11/007
Abstract: 本发明公开了一种基于双光纤耦合的微小内腔体尺寸测量装置包括：瞄准及发讯装置，用以产生瞄准信号，并将瞄准结果反馈给控制装置、测长装置，用以在测量瞄准及发讯装置发出的启测及停测信号的时间间隔内测量被测微小腔体移动的距离、和控制装置，用以对整个测量装置的自动测量过程进行控制；其特征在于：所述瞄准及发讯装置包括激光耦合单元、数据采集处理单元和双光纤耦合单元；在双光纤耦合单元中，一根光纤作为入射光纤，另一根作为出射光纤，两根光纤的一端与耦合器固定连接。本发明还公开了一种基于双光纤耦合的微小内腔体尺寸测量方法。
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公开(公告)号：CN109047381A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201811184999.4
申请日：2018-10-11
Applicant: 浙江工业大学之江学院
Abstract: 本发明公开的一种平面弯管截面椭圆度快速检测机构，包括底板，所述的底板上安装有垂直滑杆，所述的垂直滑杆上安装有安装平台，所述的安装平台上安装有椭圆度测量器；所述的椭圆度测量器包括外壳，所述的外壳上安装有表盘，所述的外壳内安装有带内螺纹的感应针和带外螺纹的传动机构，且所述的感应针的一端位于椭圆度测量器的外面；所述的感应针上的内螺纹与传动机构上的外螺纹相啮合；所述的传动机构上的外螺纹上还安装有与表盘配套使用的指针；所述的感应针上安装有安装柱，所述的外壳内壁面还安装有安装环，所述的安装柱与安装环之间安装有拉簧。本发明具有一定通用性，操作简单、成本低、效率高。
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