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公开(公告)号：TWI536051B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：TW101104076
申请日：2012-02-08
Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
Inventor： 能野隆文 , YOKINO, TAKAFUMI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI
CPC classification number: G02B5/0808 , B29C43/021 , B29C43/36 , B29D11/00769 , B29L2011/0016 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J2003/1852 , G02B5/00 , G02B5/10 , G02B5/18 , G02B5/1814 , G02B5/1852 , G02B5/1861 , Y10T428/24521
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公开(公告)号：TW201534878A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW104103954
申请日：2015-02-05
Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K. K.
Inventor： 能野隆文 , YOKINO, TAKAFUMI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 加藤勝彥 , KATO, KATSUHIKO
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/0202 , G01J3/0256 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/18 , G01J2003/1852
Abstract: 本發明之分光器1A包括：封裝體2，其具有底座4及頂蓋5；光學單元10A，其配置於底座4上；及引線接腳3，其將光學單元10A固定於底座4。光學單元10A包含：分光部21，其將自頂蓋5之光入射部6入射之光分光並且反射；光檢測元件30，其具有將由分光部21予以分光並且反射之光進行檢測之光檢測部31；支持體40，其以於分光部21與光檢測元件30之間形成空間之方式支持光檢測元件30；及突出部11，其自支持體40突出，且固定有引線接腳3。光學單元10A成為可於光學單元10A與底座4之接觸部相對於底座4移動的狀態。
Abstract in simplified Chinese: 本发明之分光器1A包括：封装体2，其具有底座4及顶盖5；光学单元10A，其配置于底座4上；及引线接脚3，其将光学单元10A固定于底座4。光学单元10A包含：分光部21，其将自顶盖5之光入射部6入射之光分光并且反射；光检测组件30，其具有将由分光部21予以分光并且反射之光进行检测之光检测部31；支持体40，其以于分光部21与光检测组件30之间形成空间之方式支持光检测组件30；及突出部11，其自支持体40突出，且固定有引线接脚3。光学单元10A成为可于光学单元10A与底座4之接触部相对于底座4移动的状态。
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公开(公告)号：TW201239415A
公开(公告)日：2012-10-01
申请号：TW101104076
申请日：2012-02-08
Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司
CPC classification number: G02B5/0808 , B29C43/021 , B29C43/36 , B29D11/00769 , B29L2011/0016 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J2003/1852 , G02B5/00 , G02B5/10 , G02B5/18 , G02B5/1814 , G02B5/1852 , G02B5/1861 , Y10T428/24521
Abstract: 本發明之光學元件1具備於表面2a形成有凹部3之基材2,及配置於基材2上之成形層4。成形層4具有自凹部3之深度方向觀察之情形下位於凹部3內之本體部5、及在與本體部5連接之狀態下位於基材2之表面2a上之攀爬部6。於本體部5中在與凹部3之底面3b對向之曲面4b上,設置有光學功能部10。
Abstract in simplified Chinese: 本发明之光学组件1具备于表面2a形成有凹部3之基材2,及配置于基材2上之成形层4。成形层4具有自凹部3之深度方向观察之情形下位于凹部3内之本体部5、及在与本体部5连接之状态下位于基材2之表面2a上之攀爬部6。于本体部5中在与凹部3之底面3b对向之曲面4b上,设置有光学功能部10。
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