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    分光光度计
    32.
    发明公开
    分光光度计 失效

    公开(公告)号：CN1044986A

    公开(公告)日：1990-08-29

    申请号：CN90100456.1

    申请日：1990-01-24

    Applicant: 株式会社岛津制作所

    Inventor： 福间俊明 ,  佐藤辰已 ,  西垣日出久

    IPC: G01J3/18

    CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/06 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/062

    Abstract: 一种使用脉冲电动机通过减速机构旋转衍射光栅的分光光度计，它能按程序编制换算表，通过该换算表，电动机的旋转量被换算成对应的单色仪出射光的波长。该分光光度计能选定一校正模式，其中，检测出光源的光的已知波长的发射峰，然后根据发射峰的已知波长和检测到发射峰时电动机的旋转量确定换算公式中的系数，用以编制换算表，然后将其存储在非易失存储器内。在一分析模式中，电动机旋转量按照存储器内的换算表换算成对应的波长。

    회절격자 분광기
    33.
    发明授权
    회절격자 분광기 有权
    衍射光谱仪

    公开(公告)号：KR101039627B1

    公开(公告)日：2011-06-08

    申请号：KR1020110001091

    申请日：2011-01-05

    Applicant: 한국표준과학연구원

    Inventor： 이은성 ,  이재용

    IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/1804 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256

    Abstract: PURPOSE: A diffraction grating spectrometer is provided to improve resolving power even if a diffraction grating with a small size is used by expanding diffracted light using an intensity division/wavefront recombination unit. CONSTITUTION: A diffraction grating spectrometer comprises an intensity division/wavefront recombination unit(3). The intensity division/wavefront recombination unit comprises a semitransparent mirror(31) and a total reflection mirror(32). The semitransparent mirror reflects a part of a beam diffracted by a diffraction grating(2) and penetrates the other part of the beam. The total reflection mirror locates the wavefront of the reflected beam at the same phase as the wavefront of the penetrated beam. The total reflection mirror re-combines the wavefronts of the reflected and penetrated beam and expands the re-combined wavefront of the beam.

    Abstract translation: 目的：提供衍射光栅光谱仪，以便即使通过使用强度分割/波阵面复合单元扩散衍射光来使用具有小尺寸的衍射光栅来提高分辨率。 构成：衍射光栅光谱仪包括强度分割/波前复合单元（3）。 强度分割/波前复合单元包括半透明镜（31）和全反射镜（32）。 半透明镜反射由衍射光栅（2）衍射的光束的一部分并且穿透光束的另一部分。 全反射镜将反射光束的波前位于与穿透光束的波前相同的相位。 全反射镜将反射和穿透光束的波前重新组合，并扩大了光束的重组合波前。

    Wavelength detecting apparatus and focus detecting apparatus having the same
    35.
    发明公开
    Wavelength detecting apparatus and focus detecting apparatus having the same 审中-公开
    波长检测装置和聚焦检测装置

    公开(公告)号：KR20100084819A

    公开(公告)日：2010-07-28

    申请号：KR20090004168

    申请日：2009-01-19

    Applicant: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD

    Inventor： PARK KYONG TAE ,  DENG SHITAO

    IPC: H04N5/232 ,  H04N5/225

    CPC classification number: H04N5/23212 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/1804 ,  G02B7/38 ,  G02B27/0068 ,  H04N5/232 ,  H04N5/225

    Abstract: PURPOSE: A wavelength detecting apparatus and a focus detecting apparatus with the same are provided to accurately focus a subject even though a wavelength component of a light source which illuminates a subject is largely deviated from a wavelength corresponding to green sensitive to eyes of a person. CONSTITUTION: A light splitting unit(410) splits light according to a wavelength. An imaging lens(420) images light split by the light splitting unit on a sensor unit. A wavelength calculating unit(440) calculates a main wavelength of light entering a photographing apparatus according to wavelength distribution sensed by the sensor unit. The light split by the light splitting unit is successively imaged on the sensor unit according to a wavelength.

    Abstract translation: 目的：提供一种波长检测装置和具有该检测装置的聚焦检测装置，以便即使照射被摄体的光源的波长分量从对人的眼睛的对绿色敏感的对应度的波长较大地偏离，也能够精确地对准被摄体。 构成：分光单元（410）根据波长分开光。 成像透镜（420）将由光分离单元分离的光图像传感器单元。 波长计算单元（440）根据由传感器单元感测的波长分布来计算进入拍摄设备的光的主波长。 通过分光单元分离的光依照波长在传感器单元上​​依次成像。

    광 스펙트럼 분석기에서 보정 신호 및 시험 신호를 동시에 검출하는 광 시스템, 광 스펙트럼 분석기 및 그 검출 방법
    36.
    发明公开
    광 스펙트럼 분석기에서 보정 신호 및 시험 신호를 동시에 검출하는 광 시스템, 광 스펙트럼 분석기 및 그 검출 방법 失效
    用于同时检测校准系统的光学系统和光谱分析仪中的测试信号

    公开(公告)号：KR1020010083171A

    公开(公告)日：2001-08-31

    申请号：KR1020010007472

    申请日：2001-02-15

    Applicant: 텍트로닉스 인코포레이티드

    Inventor： 앤더슨두웨인알.

    IPC: H04B10/07

    CPC classification number: G01J3/1804 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0294 ,  G01J2003/1828 ,  G01J2003/2866 ,  G02B6/3534 ,  G02B6/3568 ,  G02B6/3586

    Abstract: PURPOSE: A optical system for simultaneous detecting calibration system and test signal in optical spectrum analyzer are provided to supply a concurrent calibration signal and detect a test signal in an optical spectrum analyzer that is useful in analyzing optical telecommunications transmission lines. CONSTITUTION: The optical system(10) has a collimating optic(12), an optical axis(14), and a focal plane(16). A fiber array(18) has first and second pairs of optical fibers(22,24) with each optical fiber pair having an input optical fiber(26,28) and an output optical fiber(30,32). The input optical fiber(26) of the first pair of fibers(22) is coupled to receive the optical signal under test(34). The output optical fiber(30) of the pair is coupled to test signal detector(36). The input optical fiber(28) of the second pair of fibers(24) is connected to an optical calibration source(38) that produces a spectral output in response to shifts in emission or absorption energy levels in atomic or molecular species. The output optic fiber(32) of the pair is coupled to a calibration source detector(40). An optical tuning element drive motor(44) is connected to the optical tuning element(42) to tune the optical system(10) through the spectral range.

    Abstract translation: 目的：提供用于同时检测光谱分析仪中的校准系统和测试信号的光学系统，以提供并行校准信号，并检测光谱分析仪中对分析光通信传输线路有用的测试信号。 构成：光学系统（10）具有准直光学元件（12），光轴（14）和焦平面（16）。 光纤阵列（18）具有第一和第二对光纤（22,24），每个光纤对具有输入光纤（26,28）和输出光纤（30,32）。 第一对光纤（22）的输入光纤（26）被耦合以接收待测光信号（34）。 该对的输出光纤（30）耦合到测试信号检测器（36）。 第二对光纤（24）的输入光纤（28）连接到光学校准源（38），该校准源响应于原子或分子物质中的发射或吸收能级的变化而产生光谱输出。 该对的输出光纤（32）耦合到校准源检测器（40）。 光调谐元件驱动电机（44）连接到光调谐元件（42），以通过光谱范围调谐光学系统（10）。

    레이저 특성화 처리 시스템 및 방법
    38.
    发明公开
    레이저 특성화 처리 시스템 및 방법 无效
    激光特性系统与工艺

    公开(公告)号：KR1020130121896A

    公开(公告)日：2013-11-06

    申请号：KR1020137016836

    申请日：2011-12-01

    Applicant: 코닝 인코포레이티드

    Inventor： 왕,인 ,  위소키,제라드,피. ,  시에,펭 ,  자,청-은

    IPC: H01S3/1055 ,  H01S3/101

    CPC classification number: H01S5/0042 ,  B82Y20/00 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J3/021 ,  G01J3/1804 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635 ,  H01S5/141 ,  H01S5/3401

    Abstract: 본 발명은 반도체 웨이퍼로부터 분리되는 반도체 바 상의 복수의 외부 캐비티 반도체 레이저 칩들을 자동으로 특성화 처리하는 시스템 및 방법에 관한 것이다. 상기 시스템은 회절 각도 범위를 통해 회절 격자를 회전시키는 회전 스테이지 상에 장착된 회절 격자; 회절 격자의 표면과 수직으로 배향되고 회전 스테이지 상에 장착된 조정 미러; 레이저 분석기; 및 레이저 바 위치 선정 스테이지를 포함한다. 위치 선정 스테이지는 상기 스테이지 상의 레이저 바의 레이저 칩 각각을 한번에 한 칩씩 회절 격자와 정렬시키기 위해 자동으로 이동하고, 그 결과, 레이저 바의 레이저 칩으로부터 발광된 레이저 빔의 일부는 레이저 방출을 잠그기 위해 격자의 제 1 차 회절에 의해 동일한 레이저 칩으로 다시 반사되고, 조정 미러에 의해 반사된 나머지 레이저 빔은 레이저 분석기에 의해 수신되고 특성화 처리된다. 각각의 레이저 운송에 있어서, 회전 스테이지는 레이저 칩에 의해 방출된 레이저 빔에 대해 회절 각도 범위를 통하여 회절 격자를 회전시키기 위해 자동으로 회전되고, 레이저 분석기는 스펙트럼, 파워 또는 공간 모드 등의 레이저 광학 속성을 각각의 회절 각도에서 자동으로 특성화 처리한다.

    분광 장치, 검출 장치 및 분광 장치의 제조 방법
    39.
    发明公开
    분광 장치, 검출 장치 및 분광 장치의 제조 방법 无效
    光谱装置，检测装置和制造光谱装置的方法

    公开(公告)号：KR1020110125603A

    公开(公告)日：2011-11-21

    申请号：KR1020110044518

    申请日：2011-05-12

    Applicant: 세이코 엡슨 가부시키가이샤

    Inventor： 아마코쥰 ,  야마다고헤이

    IPC: G01J3/18 ,  G01J3/44

    CPC classification number: G01J3/1804 ,  G01J3/44 ,  G02B5/1857 ,  G02B5/1866 ,  G02B27/4261

    Abstract: PURPOSE: A spectral device, a detecting device and a manufacturing method of the spectral device are provided to improve wavelength resolution and diffraction efficiency. CONSTITUTION: A spectral device comprises a transmission diffraction grating. The incident light is transmitted in the transmission diffraction grating. The transmission diffraction grating has inclines(140,150). The incline is formed with a first dielectric body. The incline is tilted based on a reference line(130). When the incident angle of the incident light to the transmission diffraction grating is angle-a about a reference line, and the diffraction angle of the diffracted light is an angle-β about the reference line, the incident angle-α is smaller than an bragg angle-θ about an incline, and the incident angle-β is bigger than the angle-θ about an incline.

    Abstract translation: 目的：提供光谱装置，检测装置和光谱装置的制造方法，以提高波长分辨率和衍射效率。 构成：光谱装置包括透射衍射光栅。 入射光在透射衍射光栅中传播。 透射衍射光栅具有倾斜（140,150）。 斜面形成有第一绝缘体。 倾斜基于参考线（130）倾斜。 当入射到透射衍射光栅的入射角的入射角是围绕参考线的角度α，衍射光的衍射角是角度β时， 关于参考线，入射角α小于布拉格角 - 关于斜坡，以及事件角度＆beta; 大于角度＆thgr; 关于倾斜。

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