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公开(公告)号：CN105588642B
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201510768096.0
申请日：2015-11-11
Applicant: 仪器系统光学测量科技有限公司
CPC classification number: G01J3/0297 , G01J3/501 , G01J3/513 , G01J3/524
Abstract: 本发明涉及色度计的校准。本发明提供一种具有光的多个感测值的色度计，以提供基于人标准观察者的色空间的原色的更高精度测量。该色空间(目标色空间)必须具有两个色度坐标和类似CIELAB、CIELUV或CIE 1931中xyY的消色差原色的特征。设备校准包括利用校准光源的组进行训练。确定校准因子的两个组。校准因子的第一组得出关于色度而被优化的原色的强度，校准因子的第二组得出消色差原色的优化强度。校准因子的这些组的组合能够使色度计针对关于色度和消色差原色优化的基于人标准观察者的色空间的三个原色提供该光的值。
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公开(公告)号：CN107037520A
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201611245976.0
申请日：2016-12-29
Applicant: 唯亚威解决方案股份有限公司
Inventor： G.J.奥肯富斯
CPC classification number: H01L27/14621 , G01J3/0208 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J2003/2806 , G01J2003/2826 , G02B5/286 , G02B5/288 , H01L27/1462 , H01L27/14627 , H01L27/14629 , H01L27/1464 , H01L27/14643 , H01L27/14685 , H01L31/02162 , G02B5/201 , G01J3/0229 , G01J2003/282 , G02B5/204
Abstract: 装置可包括设置在基底上的多光谱滤波器阵列。多光谱滤波器阵列可包括设置在基底上的第一金属镜。多光谱滤波器可包括设置在第一金属镜上的间隔件。间隔件可包括层组。间隔件可包括设置在间隔件上的第二金属镜。第二金属镜可与传感器元件组中的两个或更多个传感器元件对齐。
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公开(公告)号：CN104937386B
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201480004750.4
申请日：2014-03-12
Applicant: 松下电器(美国)知识产权公司
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/027 , G01J3/108 , G01J3/46 , G01J3/501 , G01J3/513 , G01J2003/466 , G01N21/25 , G01N21/27 , G01N21/3563 , G01N2021/1765
Abstract: 一种推断装置，使用红外光被物体反射后的反射光，包括：单一的输入部(201)，包括在红外光的波段具有第一分光灵敏度特性的第一像素、和在红外光的波段具有与第一分光灵敏度特性不同的第二分光灵敏度特性的第二像素；以及推断部(203)，基于反射光的第一像素的输出值即第一输出值、反射光的第二像素的输出值即第二输出值，对物体的颜色或者材料的至少一方进行推断。
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公开(公告)号：CN103718007B
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201280038297.X
申请日：2012-06-07
Applicant: 株式会社隆创
CPC classification number: G06T7/408 , G01J3/0208 , G01J3/0248 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0278 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/2823 , G01J3/50 , G01J3/513 , G06T7/90
Abstract: 本发明的目的在于准确地对齐将要测量的多个物体的对应测量点，并且根据两个测量点处的测量的结果评估将要测量的物体。测量系统（100）设置有测量装置（10）和PC（20），并且测量装置（10）设置有测量将要测量的物体的测量点的分光部（12）和用于实时地对测量点的周边进行拍摄的摄像头（16）。PC（20）在显示部（22）的显示画面上显示由测量装置（10）的摄像头（16）拍摄并且显示的评估介质的连续图像信息的评估图像以重合在已经由摄像头（16）拍摄并且存储在存储器（24）中的基准介质的静止图像信息的基准图像上。通过在通过在两个图像彼此几乎完全重叠时测量评估图像中的测量点获得的测量数据与存储器（24）中存储的基准图像中的测量点的测量数据之间执行比较，能够容易地执行对齐并且执行测量数据的比较。
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公开(公告)号：CN105723193A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201480061363.4
申请日：2014-10-16
Applicant: ams有限公司
IPC: G01J1/04 , G01J1/02 , G01J1/42 , G01J1/06 , G01J3/51 , G01J3/02 , G01J3/26 , G01J3/36 , G02B5/20 , G02B27/46
CPC classification number: G01J3/51 , G01J1/0204 , G01J1/0437 , G01J1/0474 , G01J1/0488 , G01J1/0492 , G01J1/06 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/36 , G01J3/513 , G01J2003/1226 , G02B5/201 , G02B27/46
Abstract: 光传感器装置包括具有光传感器(1)、光学滤波器(3)以及光传感器(1)与光学滤波器(3)之间的掩模(2)的堆叠。特别地，光传感器(1)包括光敏表面(11)。掩模(2)包括上部不透明基片(M3)，其背离光敏表面(11)并且具有第一孔(AM3)，每个第一孔(AM3)分别限定掩模(2)中的光路。掩模(2)进一步包括下部不透明基片(M1)，其面向光敏表面(11)并且具有第二孔(AM1)，每个第二孔(AM1)分别限定掩模(2)中的光路。上部基片(M3)和下部基片(M1)由金属制成。光路被设计成用于允许入射光在具有来自角度的容许区间(INT)的入射角时到达光敏表面(11)，角度的容许区间(INT)分别由第一孔(AM3)的大小和第二孔(AM1)的大小确定并且相对于光路的光轴(OA)而被限定。示出了至少包括上述类型的光传感器装置的光谱仪。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105628190A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410596998.6
申请日：2014-10-30
Applicant: 杭州远方光电信息股份有限公司
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/0488 , G01J1/029 , G01J1/10 , G01J1/4228 , G01J3/465 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J3/524
Abstract: 本发明公开了一种基于滤光单元的光辐射测量方法及其装置，通过引入少量校正滤光单元，无需大量窄波段滤色片即可获得整个探测波段内的光谱功率分布，还可利用该光谱功率分布校正由特征滤色单元的实际光谱响应函数和理论光谱响应函数的差异，对光色度量值引入的测量误差，还原待测目标真实的颜色、亮度等方面的信息，可适用于几乎所有类型的探测器，且具有操作简便、成本低、响应速度快、测量准确度高等特点。
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公开(公告)号：CN102893138B
公开(公告)日：2015-03-04
申请号：CN201180023902.1
申请日：2011-03-15
Applicant: 柯尼卡美能达精密光学仪器株式会社
Inventor： 鹤谷克敏
CPC classification number: G01J3/51 , G01J1/0242 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/506 , G01J3/513 , G09G3/006
Abstract: 在本发明所涉及的测量探头（40）中，测量光在经由干涉膜滤光器（13A、14A、15A）由受光传感器（13B、14B、15B）接收之前，被入射到单线光纤（13C、14C、15C）。而且，干涉膜滤光器（13A、14A、15A）被形成为，根据相对于向该干涉膜滤光器（13A、14A、15A）入射的入射光的入射角度的强度分布的条件，得到与测量参数对应的透过率特性。由此，本发明的测量探头（40）使用干涉膜滤光器（13A、14A、15A），并且能够降低因其入射角度带来的透过率特性的偏差的影响。
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公开(公告)号：CN102575959B
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201080046506.6
申请日：2010-10-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01J3/12 , F21K9/233 , F21V23/0442 , F21Y2101/00 , F21Y2113/13 , F21Y2115/10 , G01J1/0266 , G01J1/0488 , G01J1/06 , G01J1/32 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0289 , G01J3/28 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G01J2003/1282 , G02B1/005 , G02B5/20 , G02B19/0028 , G02B19/0066 , G02B19/0085
Abstract: 本发明涉及用于检测接收光的光谱成分的光谱检测设备(100)，其中该光谱检测设备(100)包括布置为过滤接收光并输出具有在预定波长范围内的波长的光的滤光结构(110)；和布置为检测由滤光结构(110)输出的光的光传感器(120)，其中滤光结构(110)是可变的以允许所述预定波长范围随着时间而变化。该布置使得可以以低成本提供紧凑的光谱检测设备。
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公开(公告)号：CN103842783A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201280049208.1
申请日：2012-09-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0259 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J3/513 , G01J2003/1234 , G01J2003/2806 , G01J2003/2816
Abstract: 分光传感器（1）具备：具有空腔层（21）以及经由空腔层（21）而相对的第1以及第2镜层（22,23）并且对应于入射位置选择性地使规定的波长范围的光透过的干涉滤光部（20）、被配置于第1镜层（22）侧并且使入射到干涉滤光部（20）的光透过的光透过基板（3）、被配置于第2镜层（23）侧并且检测透过了干涉滤光部（20）的光的光检测基板（4）、被配置于干涉滤光部（20）与光透过基板（3）之间的第1耦合层（11）。空腔层（21）以及第1耦合层（11）是硅氧化膜。
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公开(公告)号：CN103221792A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201180056291.0
申请日：2011-09-21
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 分光传感器（1）具备：多个干涉滤波部（20A,20B,20C），具有腔体层（21）以及经由腔体层（21）而相对的第1和第2镜面层（22,23），并使规定的波长范围的光根据入射位置选择性地透过；光透过基板（3），配置在第1镜面层（22）侧，使入射至干涉滤波部（20A,20B,20C）的光透过；以及光检测基板（4），配置在第2镜面层（23）侧，检测透过了干涉滤波部（20A,20B,20C）的光。第2镜面层（23），在每个干涉滤波部（20A,20B,20C）被分离。腔体层（21）遍及干涉滤波部（20A,20B,20C）的各个而一体地形成，腔体层（21）的一部分进入相邻的第2镜面层（23,23）间的区域。
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