光学测量装置及光学测量方法

    公开(公告)号:CN103792190B

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201210427897.7

    申请日:2012-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种光学测量装置,包括至少一发光单元、一载台、至少一透镜以及至少一光检测器。发光单元适于发出一光束。载台配置于光束的传递路径上,且包括多个容置空间,这些容置空间轮流切入光束的传递路径。透镜配置于光束的传递路径上,且位于发光单元与载台之间。透镜在载台上的正投影呈一多边形,其中当这些容置空间之一切入光束的传递路径时,多边形的每一个边的中垂射线与这些容置空间中的另一相邻的容置空间不重叠。光检测器配置于来自载台的光束的传递路径上,以检测光束。一种光学测量方法也被提出。

    图像取得装置以及图像取得方法

    公开(公告)号:CN105247582A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201380076210.2

    申请日:2013-04-30

    Abstract: 通过第1光源(11)对在搬运路径上被搬运的纸张(100)的一个面照射光,通过第2光源(21)、第4光源(22)对纸张(100)的另一个面照射光。第1光接收传感器(14)接收从第1光源(11)照射的光通过纸张(100)的一个面进行反射后的第1反射光,第2光接收传感器(24)接收从第2光源(21)、第4光源(22)照射的光通过纸张(100)的另一个面进行反射后的第2反射光,并且接收从第1光源(11)照射的光透射了纸张(100)的透射光。由此,一边实现装置的小型化,一边取得纸张的良好的反射图像以及透射图像。

    MEMS光学传感器
    38.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104603592B

    公开(公告)日:2018-01-26

    申请号:CN201380030307.X

    申请日:2013-06-06

    Abstract: 本发明涉及一种利用波导的有效折射率调制和对反射光的波长移位的检测的全光学传感器,以及一种容纳所述光学传感器的力感测系统。本发明的一个实施方案涉及一种传感器系统,所述传感器系统包括:至少一个多模光源;一个或多个光学传感器,其包括容纳分布式布拉格反射器的多模传感器光学波导;至少一个发射光学波导,其用于将来自所述至少一个光源的光引导到所述一个或多个多模传感器光学波导;检测器,其用于测量在所述一个或多个多模传感器光学波导中从所述布拉格反射器反射的光;以及数据处理器,其适于分析所述反射光的至少一个高阶模的布拉格波长的变化。

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