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公开(公告)号：JP2016148685A
公开(公告)日：2016-08-18
申请号：JP2016103576
申请日：2016-05-24
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】小型化を図ることができる真円度測定装置を提供する。 【解決手段】 本発明に係る真円度測定装置1は、ワークWを載置する載物台12であって、回転軸の周りに回転可能な載物台12と、回転軸と平行な方向に沿って移動可能なキャリッジ16と、キャリッジ16に支持され、回転軸の径方向に延びる旋回アーム(第1アーム)18と、旋回アーム18の先端部に径方向に移動可能に支持され、径方向に延びる径方向移動アーム(第2アーム)20と、径方向移動アーム20の先端に固定され、検出器24を固持する検出器ホルダ22と、を備える。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种允许小型化的圆度测量装置。解决方案：本发明的圆度测量装置1包括：安装台12，工件W放置在其上并可围绕旋转轴线旋转; 可沿平行于旋转轴线的方向移动的托架16; 旋转臂（第一臂）18，其由滑架16支撑并沿旋转轴线的径向方向延伸; 径向移动的臂（第二臂）20，其被支撑在旋转臂18的尖端处，在径向上可移动地并且径向延伸; 以及检测器保持器22，其固定到径向移动的臂20的尖端并保持检测器24.选择的图示：图1
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：JP5775982B1
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：JP2015093577
申请日：2015-04-30
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/00
Abstract: 【課題】構造を簡単にして製造費用を抑えることができ、測定位置の使用可能範囲を大きく確保して変位検出性能を向上できること。 【解決手段】互いに相対移動可能な第1検出要素及び第2検出要素を含む変位検出手段3と、第1検出要素が設けられるベース4と、ベース4に対して、アーム回転軸A回りに回転自在に連結され、第2検出要素が設けられたアーム5と、ベース4に対して、アーム回転軸Aに垂直な仮想面内に沿うように延びる測定子回転軸M回りに回転自在に連結され、測定子回転軸Mから離間した位置に接触子7が設けられた測定子6と、を備える。 【選択図】図1
Abstract translation: 的结构，能够抑制制造成本，并简化位移检测性能可通过固定的测量位置的一个大的可使用范围得以改善。 和位移检测装置3，其包括第一探测元件和第二感应元件可相对于彼此，在其上设置有第一检测元件的旋转基座4，基座4，臂旋转轴A 可旋转地连接，其中设置第二检测元件的臂5，基体4，可转动地连接到测量元件旋转轴线M围绕沿垂直虚拟平面延伸到旋转的臂轴 包括触点7在从测量元件旋转轴线M分离的位置，所提供的一个测量元件6。 点域1
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公开(公告)号：JP2015083986A
公开(公告)日：2015-04-30
申请号：JP2014258684
申请日：2014-12-22
Applicant: 株式会社東京精密
Inventor： 高梨 陵
IPC: G01B5/20
Abstract: 【課題】設置に必要な空間が小さく、温度変化による誤差が小さい真円度測定装置の実現。 【解決手段】ベース21と、ベースに固定され、載置されたワークを回転する回転台22と、ベースの裏面側に垂直に立つコラム24と、回転台の回転軸とワークの測定点を含む測定平面に平行に、ベースに対して、コラムをスライド移動する移動機構71-75と、コラムに沿って移動可能な検出器ホルダ29と、測定子31が測定平面で変位可能なように、検出器ホルダに取り付けられた検出器30と、を有する真円度測定装置。 【選択図】図4
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种圆形度测量装置，其仅需要较小的安装空间，并且通过温度变化具有小的误差。解决方案：圆度测量装置包括：基座21; 旋转底座22，固定在基座上并旋转安装的工件; 在基座的后侧垂直竖立的柱24; 移动机构71-75，用于相对于基座与包括旋转底座的旋转轴线的测量平面和工件的测量点平行地滑动地移动柱体; 检测器保持器29可沿柱移动; 以及安装在检测器支架上的检测器30，使得探头31能够在测量平面上移动。
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