이중 경로 도파관, 분광 분석 장치 및 이를 이용한 파라미터 검출 방법
    46.
    发明授权
    이중 경로 도파관, 분광 분석 장치 및 이를 이용한 파라미터 검출 방법 有权
    具有双路径,光谱和使用其的检测参数的方法的波形

    公开(公告)号:KR101576499B1

    公开(公告)日:2015-12-10

    申请号:KR1020140066707

    申请日:2014-06-02

    Inventor: 손주혁 박재연

    CPC classification number: G01J3/16 G02B5/204 G02B6/13

    Abstract: 본발명은이중경로를이용하여샘플파와기준파를측정할수 있는이중경로도파관, 분광분석장치및 이를이용한파라미터검출방법에관한것이다.본발명에따르면, 대향하여이격배치되는제1판및 제2 판; 및상기제1 판및 상기제2 판사이에배치되고, 기준파가통과하는제1 경로및 샘플이배치될수 있으며샘플파가통과하는제2 경로를구비하는박막;을포함하되, 상기박막의재질은금속또는상기기준파및 상기샘플파를투과하지않는비투과성수지인것인이중경로도파관이제공된다.

    Abstract translation: 本发明涉及能够通过双路径测量样本波和参考波的双路径波导,光谱学和使用其的参数检测方法。 根据本发明,双路波导包括彼此面对并分离的第一板和第二板; 以及布置在第一板和第二板之间的薄膜,并且可以包括参考波通过的第一路径和其中布置样本并且样本波通过的第二路径。 薄膜的材料是不透过参考波和样品波的金属或不可渗透的树脂。

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