利用混合滤光片的波长相关成像和探测方法及系统

    公开(公告)号:CN1914492B

    公开(公告)日:2012-04-25

    申请号:CN200480037229.7

    申请日:2004-12-14

    Abstract: 将要被成像或被探测的物体(206)由发射不同波长的光的单个宽带光源或多个光源照明。光由探测器(200)来探测,所述探测器(200)包括被混合滤光片覆盖的光探测传感器(400)。混合滤光片包括安装在图案化的滤光片层(508)上方的多波段窄带滤光片(516)。光照射到窄带滤光片(516),该滤光片(516)通过所关注的多个波长或附近的光同时阻挡所有其他波长的光。图案化的滤光片层(508)交替地通过一个特定波长的光同时阻挡所关注的其他波长的光。这使得传感器(400)同时或交替地确定所关注波长的光强。滤光片(902)还可被安装在光源上方以此使光源的光谱变窄。

    적외선 분광법을 이용하여 적외선-활성 가스의 온도를 측정하는 방법
    45.
    发明公开
    적외선 분광법을 이용하여 적외선-활성 가스의 온도를 측정하는 방법 审中-实审
    - 通过红外光谱法测定红外线活性气体温度的方法

    公开(公告)号:KR1020160147717A

    公开(公告)日:2016-12-23

    申请号:KR1020167025350

    申请日:2015-04-28

    Abstract: 본발명은적외선분광법을이용하여적외선-활성가스의온도를결정하는방법에관한것이고, 이러한방법은, 적외선광원으로부터유래하는 700 cm내지 5000 cm의스펙트럼범위의적외선광을가스에방사하는단계; 상기가스의제 1 적외선흡수대의측정으로부터제 1 흡수-관련파라미터를획득하는단계로서, 상기제 1 적외선흡수대는상기가스의적어도하나의진동모드의열적파퓰레이션(population)에의하여야기되는고온대(hot band)인, 단계; 상기가스의제 2 적외선흡수대의측정으로부터제 2 흡수-관련파라미터를획득하는단계; 및상기제 1 흡수-관련파라미터와상기제 2 흡수-관련파라미터사이의비값을계산하는단계를포함한다. 이러한방법은, 이러한비값이상기가스의온도를결정하는데사용되며이러한비값이가스의켈빈온도차당 적어도 0.5 %의상대적변화를가진다는것을특징으로한다.

    Abstract translation: 提供了通过红外光谱测定红外线活性气体的温度的方法。 该方法包括:将来自红外光源的700cm -1至5000cm -1的光谱范围的红外光辐射到气体上; 获得源自测量所述气体的第一红外吸收带的第一吸收相关参数,其中所述第一红外吸收带是由所述气体的至少一个振动模式的热群引起的热带; 获得源自测量气体的第二红外吸收带的第二吸收相关参数,以及计算第一吸收相关参数和第二吸收相关参数之间的比率。 该方法的特征在于,该比率用于确定气体的温度,其中该比率具有至少0.5%的每个开尔文温度差的气体的相对变化。

    발광성 인광체 화합물로 물품을 인증하기 위한 방법과 장치
    46.
    发明公开
    발광성 인광체 화합물로 물품을 인증하기 위한 방법과 장치 审中-实审
    用紫外光敏化合物处理文章的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020140056273A

    公开(公告)日:2014-05-09

    申请号:KR1020147003910

    申请日:2012-07-12

    CPC classification number: G01J3/427 G01N21/64 G01N2021/6421 G07D7/1205

    Abstract: 물품 인증을 위한 방법과 장치는, 여기 방사선에 물품의 영역을 노출시키는 여기 방사선 발생기, 및 제 1 대역에서 및 상기 제 1 대역에 중첩하지 않는 제 2 대역에서 상기 영역으로부터 방출된 방사선을 검출하는 2개 이상의 방사선 검출기를 포함한다. 제 1 대역은 방출 이온의 제 1 방출 하위대역과 부합하고, 제 2 대역은 동일한 방출 이온의 제 2 방출 하위대역과 부합한다. 처리 시스템은 제 1 대역에서의 방출된 방사선의 제 1 강도와 제 2 대역에서의 방출된 방사선의 제 2 강도 사이의 산술적 관계(예컨대, 비율)를 나타내는 비교 값을 계산하고, 상기 비교 값이 인증 파라미터와 호의적으로 비교되는 지를 결정한다. 비교 값이 인증 파라미터와 호의적으로 비교되는 경우, 물품은 진짜인 것으로서 확인된다.

    스펙트럼 분석용 장치
    48.
    发明公开
    스펙트럼 분석용 장치 无效
    适用于光谱分析的装置

    公开(公告)号:KR1020110043549A

    公开(公告)日:2011-04-27

    申请号:KR1020107029807

    申请日:2009-06-10

    Abstract: 하나의 광 전송 수단(10, 2a), 하나의 측정 셀의 역할을 하고 광학 측정 거리 "L"를 정의하는 하나의 캐비티(cavity) 형태의 하나의 한정된 스페이스(11), 상기 광 전송 수단(10)으로부터 상기 광학 측정 거리 "L"를 통과하는 방사선(4)을 검출하기 위한 하나의 광 감지 수단(12), 및 적어도 상기 광 감지 수단(12)에 연결되고 스펙트럼 분석을 실행하는 하나의 유닛(13)을 가지는, 스펙트럼 분석용 장치 "A1". 광 전송 수단으로부터의 방사선의 빔들은 상이한 입사 각도들로 광학 밴드-패스 필터(3f)를 통과하도록 만들어진다. 필터는 파장을 입사 각도에 따라 통과시키도록 구성된다. 제1 선택 파장 성분은 제2 파장 성분으로부터 분리되어 각기 그것의 광전기 수단(3b, 3b')에서 수신된다. 상기 유닛은 각각의 그러한 파장 성분에 대해 발생하는 복사 강도를 검출하고 계산하도록 구성된다.

    이미징 시스템 및 파장 의존 검출 방법
    49.
    发明公开
    이미징 시스템 및 파장 의존 검출 방법 有权
    使用混合滤波器进行波长依赖成像和检测的方法和系统

    公开(公告)号:KR1020060123353A

    公开(公告)日:2006-12-01

    申请号:KR1020067012167

    申请日:2004-12-14

    Abstract: An object (206) to be imaged or detected is illuminated by a single broadband light source or multiple light sources emitting light at different wavelengths. The light is detected by a detector (200), which includes a light-detecting sensor (400) covered by a hybrid filter. The hybrid filter includes a multi-band narrowband filter (516) mounted over a patterned filter layer (508). The light strikes the narrowband filter (516), which passes light at or near the multiple wavelengths of interest while blocking light at all other wavelengths. The patterned filter layer (508) alternately passes the light at one particular wavelength while blocking light at the other wavelengths of interest. This allows the sensor (400) to determine either simultaneously or alternately the intensity of the ligth at the wavelengths of interest. Filters (902) may also be mounted over the light at the light sources to narrow the spectra of the light sources.

    Abstract translation: 要成像或检测的物体(206)被单个宽带光源或发射不同波长的光的多个光源照射。 光被检测器(200)检测,检测器(200)包括由混合滤波器覆盖的光检测传感器(400)。 混合滤波器包括安装在图案化滤波层(508)上的多频带窄带滤波器(516)。 光照射窄带滤光片(516),该滤光片(516)在所有其他波长处阻挡光线时,使其处于感兴趣的多个波长处或其附近的光。 图案化的滤光层(508)交替地使一些特定波长的光通过,同时阻挡感兴趣的其它波长处的光。 这允许传感器(400)同时或交替地确定感兴趣波长处的韧带的强度。 过滤器(902)也可以安装在光源处的光上,以缩小光源的光谱。

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