公开(公告)号：KR1020160143633A

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：KR1020167007594

申请日：2014-10-03

Applicant: 매시 유니버시티 마너와투 (투리티아)

Inventor： 사라스왓,맥 ,  해리슨,존앤드류 ,  그랜드,랄프스테판 ,  노블,프레이저킹스레이 ,  겔렌,루츠로버트 ,  우즈,매튜앨런 ,  바쏘,샘

IPC: G01N21/59 ,  G01N21/51

CPC classification number: G01N21/51 ,  G01N21/49 ,  G01N21/5907 ,  G01N2201/0212 ,  G01N2201/0227

Abstract: 본발명은광학측정디바이스와시스템, 및이 시스템과디바이스를사용하는방법에관한것으로, 보다상세하게는비배타적으로본 발명은광학특성을제자리에서측정하도록구성된시스템및 장치에관한것이다.

Abstract translation: 本发明涉及光学测量装置和系统以及使用这些系统和装置的方法，更具体地但并非排他地涉及适于原位测量光学特性的系统和装置。