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公开(公告)号：CN1423113A
公开(公告)日：2003-06-11
申请号：CN01140215.6
申请日：2001-12-05
Applicant: 财团法人工业技术研究院
Abstract: 一种量测光谱装置,适用于量测红外光谱、拉曼光谱及荧光光谱；该装置包括:一红外光源、一激光光源、一红外光上转可见光物镜、一显微物镜、一双色镜、一目镜、一窄频滤光器、一可见光影像撷取器以及一样品座；当此量测光谱装置量测红外光谱时,使用红外光上转可见光物镜；当此量测光谱装置量测拉曼光谱或荧光光谱时,使用显微物镜。
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公开(公告)号：CN1354361A
公开(公告)日：2002-06-19
申请号：CN01139161.8
申请日：2001-12-24
Applicant: 上海枫岭生物技术有限公司
Abstract: 本发明公开了一种实时荧光定量基因扩增仪的光信号检测方法及光路系统,该方法使检测光源经过聚焦、滤光后通一入射多芯光纤束入射至被测样品,入射至被测样品的光激发被测样品发出荧光;被测样品发出的荧光再进入另一出射多芯光纤束,经过出射多芯光纤束后的光信号再进行滤光、聚焦于光检测器上的光信号检测方法;依据本发明的方法设计了相应的光路系统,与传统的基因扩增仪的光路系统相比,本发明具有如下优点,光路系统设计简单,降低了光路系统及整机的成本价格;减少了光路系统中光信号的衰减,也减少了被测样品的入射和返回光线之间的相互干扰;检测灵敏度有所提高。
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公开(公告)号：CN111323408B
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202010245645.7
申请日：2020-03-31
Applicant: 上海复享光学股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法，该检测系统包括：接收光路，包括第一显微物镜及用于测定光强的第一检测装置，第一检测装置对准于第一显微物镜的后端；用于获取接收光路的响应函数的标定设备，包括光源、用于将光线汇聚于第一显微物镜的焦平面上的聚光件、用于将不同频率光线导入第一显微物镜的前端的传导件和用于测定焦平面上的不同频率光线的光谱强度分布的第二检测装置，聚光件的第一端对准于光源，聚光件的第二端对准于焦平面，传导件设置于所述焦平面；以及用于测定待测发光件的电流的第三检测装置。本发明解决了传统的外量子效率检测装置检测单像素或亚毫米级别的微小尺寸的发光器件时准确性差的问题。
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公开(公告)号：CN119124028A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411586792.5
申请日：2024-11-08
Applicant: 上海车仪田科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种抗干扰集成式刻蚀终点检测设备，包括：用于收集刻蚀腔体内光学信号的信号收集模块；分别用于在不同工艺场景下接收并处理光学信号的干涉终点检测功能模块和光学发射光谱终点检测功能模块，其中干涉终点检测功能模块包括用于在第一工艺场景下为检测提供光源的氙灯光源，用于为氙灯光源供电的升压供电模块。本发明通过集成OES与IEP功能并进行抗干扰设计形成一个整机，同时进行干涉终点检测与光学发射光谱终点检测，实现了一台设备通过集成双检测功能进行刻蚀终点的精准检测。本发明还缩小了单一功能设备所占用的较大分散空间，最小化集成体积提高了空间利用率。
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公开(公告)号：CN118980429A
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202411070384.4
申请日：2024-08-06
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 本发明提供了一种外延片光致发光特性的测试方法，可应用于半导体技术领域。该方法包括以下步骤：加热外延片至预设温度；利用目标激光光束激励外延片产生光信号；用探测器探测并记录光信号；以及基于光信号，判断外延片的光致发光特性。通过直接测试光致发光光谱来判断外延片在不同温度下的光致发光质量，避免了复杂的工艺验证。本发明还提供了一种外延片光致发光特性的测试装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118111560A
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202410251392.2
申请日：2024-03-05
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种太赫兹相干成像方法以及一种太赫兹相干成像装置。太赫兹相干成像方法包括步骤：通过合光元件，将入射激光和太赫兹波合成为合成光线，入射激光包括两个不同波段的激光脉冲；将合成光线入射至碱金属蒸汽气室，通过多波混频，碱金属蒸汽气室将太赫兹波转化为可见光波段的相干信号光；经由滤光元件过滤合成光线，相干信号光透过滤光元件入射至可见光相机；以及通过可见光相机对相干信号光进行成像，以实现太赫兹波的成像。
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公开(公告)号：CN112798556B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202011457954.7
申请日：2020-12-10
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于红外和频光谱测量的表面吸附特性的探测方法，激光器出射光经过分束器后分为泵浦和探测脉冲，探测光经过另外一分束器再分成两束激光，其中一束探测光，经过光参量放大器调制输出中红外连续频率而后经过楔形玻璃对相位进行微调；另一束探测光，经过延迟后通过二相色镜与第一束探测光汇聚。泵浦脉冲经过BBO晶体倍频再通过延时调节经二相色镜与探测光合成一束，再经过聚焦入射样品表面，经样品反射的探测脉冲进入光谱仪。本发明利用飞秒激光，采用和频光谱测量技术，将中红外光谱转化为可以探测的近红外光谱范围，应用光栅光谱仪实现光谱的快速测量；基于多光束和频以及相位调控，实现待探测体系光谱响应的相位提取。
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公开(公告)号：CN117633609A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311330107.8
申请日：2023-10-13
Applicant: 云南电网有限责任公司德宏供电局
IPC: G06F18/241 , G06F18/214 , G01J3/443 , G06N3/044
Abstract: 本申请实施例提供一种针对配网线路的紫外脉冲相基特征缺陷识别方法，包括基于以二维平面阵列排布，维度为2*2，响应区间位于200nm‑280nm的APD传感器阵列，采集配网线路不同类型放电缺陷的紫外脉冲信号；根据所述信号的相基统计图谱提取的样本特征和样本标签，构建数据集，将数据集以8∶2分为训练集和验证集，以训练和验证搭建的尺度为3*2的全连接神经网络模型，得到训练好的所述模型；以均方误差为所述模型的损失函数，以Adadelta算法优化所述模型的参数，循环迭代所述模型，获取最优的所述模型识别配网线路的放电缺陷。通过本申请实施例的设置，提供了一种灵敏度较高的全天识别配电线路的局部放电缺陷的方法。
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公开(公告)号：CN117616268A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202280043794.2
申请日：2022-03-07
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 玉木隆宏
Abstract: 本发明提供一种光反应评价装置及光子数算出方法，不仅在使用产生具有特定波长的光的照射光源的情况下，而且在使用产生具有宽波长范围的光的照射光源的情况下，也能够准确地算出依存于波长的照射光子数的分布。测定光源(21)配置于利用照射光源(1)照射光的试样位置的面的背面侧，检测部(22)配置于利用照射光源(1)照射光的试样位置的面的正面侧。放射强度算出部基于第一检测强度分布、第二检测强度分布及标准光源的放射特性，算出照射光源(1)的照射光的各波长下的放射强度。照射光子数算出部基于各波长下的放射强度算出照射光源(1)的照射光的各波长下的照射光子数。
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公开(公告)号：CN112088302B
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN201980030373.4
申请日：2019-05-02
Applicant: 德国元素分析系统公司
Abstract: 本发明涉及一种具有火花室(10)的光发射光谱仪，火花室(10)包括火花架口(14)和布置在其内部的细长电极(11)，用于产生火花和从其放射出的光束。此外，提供一种联接单元(20)，其包括至少一个窗口和通道，该窗口布置在窗口保持器上。火花室(10)和联接单元(20)相对于彼此布置，使得光束通过窗口(30)落入通道(21)中。火花室(10)和联接单元(20)包括用于通过清洗惰性气体清洗的装置。火花室(10)直接与窗口保持器(31)连接，并通过窗口保持器(31)与联接单元(20)连接，在火花室(10)和窗口保持器(31)之间设置有密封元件(33)。联接单元(20)包括至少一个弹性装置，其被布置成使得它将窗口保持器(31)压靠火花室(10)。
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