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    凝縮手段を使用した表面検査装置及びその方法
    51.
    发明专利
    凝縮手段を使用した表面検査装置及びその方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020085903A

    公开(公告)日：2020-06-04

    申请号：JP2019205794

    申请日：2019-11-13

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 蔡政廷 ,  楊蘭昇

    IPC: G01N21/47 ,  G01B11/24 ,  G01N21/958

    Abstract: 【課題】表面検査装置を提供する。 【解決手段】測定対象物の表面を検査するための表面検査装置であって、測定対象物の上方に位置して、測定対象物の表面に向かって蒸気気流を噴射して測定対象物の表面に凝縮層を形成するように配置される気流発生器と、測定対象物の上方に位置して且つ凝縮層に向かい、凝縮層に対して光を投射するように配置される発光素子と、測定対象物の上方に位置して、凝縮層により散乱される光を受けるように配置される感光素子と、を備える表面検査装置。 【選択図】図2A

    インダクタンス測定装置およびインダクタンス測定方法
    53.
    发明专利
    インダクタンス測定装置およびインダクタンス測定方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2019120695A

    公开(公告)日：2019-07-22

    申请号：JP2018242740

    申请日：2018-12-26

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 鄒 明穎 ,  陳 文鍾 ,  洪 子騫

    IPC: H01F41/00 ,  G01R27/26

    Abstract: 【課題】直流電流が上昇しても、インダクタンス値を精確に測定することが可能なインダクタンス測定装置およびインダクタンス測定方法を提供する。 【解決手段】第1の端と、第2の端と、参考インダクタンス値と、を有する参考インダクタンスユニットと、一端が参考インダクタンスユニットの第1の端と電気的に接続し、他端が第1のテスト節点と電気的に接続する直流電源と、一端が参考インダクタンスユニットの第1の端と電気的に接続し、他端が第1のテスト節点と電気的に接続する第1のコンデンサーと、一端が第2のテスト節点と電気的に接続する第2のコンデンサーと、第1のテスト節点と電気的に接続する第1の端と、第2のコンデンサーの他端と電気的に接続する第2の端と、を有するインダクタンス計器と、を備え、第1のテスト節と第2のテスト節点との間に電気的に接続されている測定待ちインダクタを測定する。 【選択図】図2

    吸着試験装置
    55.
    发明专利
    吸着試験装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018109627A

    公开(公告)日：2018-07-12

    申请号：JP2017251438

    申请日：2017-12-27

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 鄭柏凱

    IPC: G01R1/06 ,  G01R31/26

    CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01R1/06716 ,  G01R31/2863

    Abstract: 【課題】キャリアボードの支持に適応する吸着試験装置を提供する。 【解決手段】支持台と導電性部品とシーリングリングと電気プローブとを含む。支持台は上面と底面と経路とを有する。導電性部品はプレート及び複数の弾性アームを含む。プレートは経路に配置され、経路を吸着領域及び収容領域に分割するために支持台に組み込まれるものであり、吸着領域及び収容領域はプレートにより隔離される。弾性アームはプレートを貫通している。シーリングリングは上面に配置され吸着領域を囲む。シーリングリングはキャリアボードの支持に適応する。弾性アームはキャリアボードと電気的に接続するために吸着領域に位置する第1の端部を有する。電気プローブは経路に位置する。電気プローブは本体及び複数のプローブヘッドを有する。本体は支持台に固定される。弾性アームのそれぞれは複数のプローブヘッドと電気的に接続するために収容領域に位置する第2の端部を有する。 【選択図】なし

    巻線部品を検査する装置および方法
    57.
    发明专利
    巻線部品を検査する装置および方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2017167144A

    公开(公告)日：2017-09-21

    申请号：JP2017049111

    申请日：2017-03-14

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 范 富 強 ,  鄒 明 穎 ,  柯 廷 翰 ,  呉 南 世

    IPC: G01R31/12 ,  H01F41/00 ,  H01F27/00 ,  G01R31/06

    Abstract: 【課題】比較的低い品質係数Qを有している巻線部品を見出し得る検査装置および検査方法を提供する。 【解決手段】巻線部品を検査する装置および方法が開示される。蓄電ユニット21と、共振コンデンサ23と、スイッチユニット25と、測定ユニット27と、制御ユニット29とを含む。蓄電ユニット21は、予め設定された電気を蓄える。スイッチユニット25は、蓄電ユニット21と巻線部品30との間の電力供給経路上に配置される。検査期間が始まると、蓄電ユニット21が巻線部品30および共振コンデンサ23に蓄えられた予め設定された電気を放出するように、スイッチユニット25がオンにされる。巻線部品の2つの端部に接続された測定ユニット27は、検査期間中の巻線部品30の2つの端部間の電圧値に応じて測定波形を生成する。 【選択図】図2

    クロック生成装置
    58.
    发明专利
    クロック生成装置 审中-公开
    时钟生成装置

    公开(公告)号：JP2016127602A

    公开(公告)日：2016-07-11

    申请号：JP2015257605

    申请日：2015-12-29

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 張 正 賢 ,  朱 慶 華 ,  林 士 聞

    IPC: H03L7/00 ,  H03K5/00 ,  H03K5/06

    CPC classification number: H03K5/135 ,  G06F1/04 ,  H03K2005/00078

    Abstract: 【課題】本発明は、高い線形性を有するクロック信号を提供できるクロック生成装置を提供する。 【解決手段】クロック生成装置は、第1のタイミング遅延モジュール、マルチプレクサ、及び第2のタイミング遅延モジュールを含む。マルチプレクサは、第1のタイミング遅延モジュールに電気的に接続される。第2のタイミング遅延モジュールは、マルチプレクサに電気的に接続される。第1のタイミング遅延モジュールは、基準クロック信号に基づいて複数の遅延クロック信号を生成する。マルチプレクサは、クロック生成信号に基づいて、複数の遅延クロック信号のうち第1の遅延クロック信号及び第2の遅延クロック信号を出力する。第2のタイミング遅延モジュールは、クロック生成信号、第1の遅延クロック信号、及び第2の遅延クロック信号に基づいて出力クロック信号を生成する。 【選択図】図2

    Abstract translation: 要解决的问题：提供能够提供具有高线性度的时钟信号的时钟产生装置。解决方案：时钟产生装置包括第一定时延迟模块，多路复用器和第二定时延迟模块。 多路复用器电连接到第一定时延迟模块。 第二定时延迟模块电连接到多路复用器。 第一定时延迟模块基于参考时钟信号产生多个延迟时钟信号。 多路复用器基于时钟产生信号在多个延迟时钟信号中输出第一延迟时钟信号和第二延迟时钟信号。 第二定时延迟模块基于时钟产生信号，第一延迟时钟信号和第二延迟时钟信号产生输出时钟信号。图2：

    較正ボード及びタイミング較正方法
    59.
    发明专利
    較正ボード及びタイミング較正方法 有权
    校准板和时序校准方法

    公开(公告)号：JP2016090572A

    公开(公告)日：2016-05-23

    申请号：JP2015206281

    申请日：2015-10-20

    Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 ,  Chroma Ate Inc.

    Inventor： 陳厚君 ,  林士聞 ,  朱慶華 ,  鄭柏凱

    IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28

    CPC classification number: G01R35/005 ,  G01R31/2834 ,  G01R31/2882

    Abstract: 【課題】試験されるべき半導体構成要素を試験する前に、機能ボードと試験されるべき半導体構成要素のピンとの間の信号遅延を較正する較正ボードとそのタイミング較正方法を提供すること。 【解決手段】自動試験装置における試験チャネルの信号遅延を較正する較正ボードは、自動試験装置にプラグ着脱可能に配置され、較正グループ、第1の共通ノード、及び切替モジュール310を含む。各較正グループは、第2の共通ノード及び第2の共通ノードに電気的に接続される導電性パッドを含む。各導電性パッドは、選択的に一つの試験チャネルと電気的に接続される。切替モジュールは、第1の共通ノード及び各第2の共通ノードに電気的に接続される。第1の遅延較正手順が実行されると、第1の共通ノードと各第2の共通ノードとの間の接続が切断される。第2の較正手順が実行されると、第1の共通ノードと各第2の共通ノードの間で接続が構築される。 【選択図】図2

    Abstract translation: 要解决的问题：提供校准板和定时校准方法，其在半导体构成要测试的元件之前校准功能板和半导体的引脚之间的信号延迟构成要测试的元件。解决方案：校准 校准自动测试装置中的测试通道的信号延迟的板以能够附接/拆卸插头的方式布置在自动测试装置中，并且包括：校准组; 第一个公共节点; 和切换模块310.每个校准组包括：第二公共节点; 以及电连接到第二公共节点的导电焊盘。 每个导电焊盘选择性地和电连接到一个测试通道。 转换模块电连接到第一共模和第二共模。 当执行第一延迟校准过程时，第一公共节点和每个第二公共节点之间的连接被切断。 当执行第二校准过程时，建立第一公共节点和每个第二公共节点之间的连接。选择图：图2

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