电子元件
    51.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1134800C

    公开(公告)日:2004-01-14

    申请号:CN98803431.X

    申请日:1998-03-12

    CPC classification number: H01G4/30

    Abstract: 在具有电介质薄膜(4)、在其上层叠的正规电极(1a、1b)、在电介质薄膜(4)上经由绝缘性区域(20)层叠的虚设电极(2a、2b)以及在两侧面上设置的辅助电极(3)的电子元件中,为了改善等效串联电阻等的特性,将绝缘性区域(20)的宽度定为电介质薄膜(4)的厚度的500倍以上。利用上述结构,可得到改善了因虚设电极引起的频率特性变坏的电子元件,可使用于电容器等。

    薄膜的制造方法
    54.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102482762B

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201180003592.7

    申请日:2011-06-01

    Abstract: 本发明提供一种薄膜的制造方法,其可以避免成膜结束后不必要的成膜材料的飞散和沉积,并且可以实现使用喷嘴方式的蒸发源的稳定高效的成膜。不利用传导可变结构(34)将蒸发室(16)和成膜室(17)之间遮断,将蒸发室(16)和成膜室(17)真空排气,并且在使保持加热过的成膜材料的蒸发源(19)的开放面(14)接近基板(21),以该状态进行成膜,接着,向蒸发室(16)和成膜室(17)中导入非反应气体,将两室内的压力调节至规定压力以上,抑制成膜材料的蒸发,之后,利用移动机构(35)使蒸发源(19)移动,使开放面(14)远离基板(21),使传导可变结构运行而将两室间遮断,边向蒸发室(16)继续导入非反应气体,边冷却成膜材料。

    铸模、铸造装置及铸造棒的制造方法

    公开(公告)号:CN102933333B

    公开(公告)日:2014-12-10

    申请号:CN201280001565.0

    申请日:2012-05-09

    CPC classification number: B22D11/045 C01B33/02 C03B19/02

    Abstract: 铸模(13)具有用于接受熔融金属(2)的凹部(21)。凹部(21)由用于与熔融金属(2)接触而使熔融金属(2)向凝固物变化的内壁面(29)构成,并且朝向凝固物的拉拔方向(D1)开口。第1轮廓线(23p)和第2轮廓线(25p)的曲线在开始点(43)及(45)的位置具有尖点。宽度方向(D2)上的从第1轮廓线(23p)到第2轮廓线(25p)的距离,随着从拉拔方向(D1)的上游侧向下游侧前进而连续地增加。确定凹部(21)处的内壁面(29)的形状,以使铸造棒(3)能够以通过第1结束点(33)或第2结束点(35)并与铸模(13)的截面垂直的轴为中心,沿顺时针方向或逆时针方向旋转移位。

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