公开(公告)号：CN100505067C

公开(公告)日：2009-06-24

申请号：CN200580009062.8

申请日：2005-03-22

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻

IPC: G11B20/12

Abstract: 公开了一种记录介质以及用于将数据记录到该记录介质/从该记录介质再现数据的方法和装置。该具有用于管理记录介质的数据区域的数据结构的记录介质包括至少一个物理访问控制(PAC)簇，该至少一个PAC簇包括用于管理对记录介质的逻辑盖写的信息，其中每一PAC簇包括PAC首部，该PAC首部对于每一PAC簇是共同适用的；以及PAC专用信息区域，该区域包括对每一PAC簇专用的信息，其中该PAC首部包括标识记录介质的用户数据区域中的至少一个段区域的段信息。

公开(公告)号：CN100399428C

公开(公告)日：2008-07-02

申请号：CN200480026216.X

申请日：2004-08-04

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻

IPC: G11B7/00 ,  G11B20/10

CPC classification number: G11B20/1217 ,  G11B20/1883 ,  G11B2020/1873 ,  G11B2220/20

Abstract: 提供了一种一次写入光盘，以及用于在该光盘上记录管理信息的装置和方法。该盘包括至少一个记录层，该至少一个记录层上的多个临时缺陷管理区TDMA，以及该至少一个记录层上的多个缺陷管理区DMA。所述至少一个TDMA包括第一和第二指示器。第一指示器指示哪个TDMA是使用中的TDMA，且第二指示器指示记录介质是否被关闭。

公开(公告)号：CN100385512C

公开(公告)日：2008-04-30

申请号：CN200380109904.8

申请日：2003-10-01

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻 ,  金成大

IPC: G11B7/00 ,  G11B11/00

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2020/1873 ,  G11B2220/20

Abstract: 本发明提供了一次性写入光学记录介质，用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法，以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤：分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上；以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。

公开(公告)号：CN100383860C

公开(公告)日：2008-04-23

申请号：CN200380109805.X

申请日：2003-10-01

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻 ,  金成大

IPC: G11B7/00 ,  G11B11/00

CPC classification number: G11B20/1883 ,  G11B2020/1873 ,  G11B2220/20

Abstract: 一种一次写入型光盘和在一次写入型光盘分配备用区的设备和方法。所述方法包括在一次写入型记录介质上分配数据区和在记录介质上在该数据区内分配用户数据区和至少一个备用区。所述至少一个备用区具有可变大小，其中记录介质上的所述至少一个备用区的最大记录容量比在可重写型光盘上的至少一个可变备用区的最大记录容量小。

公开(公告)号：CN101114471A

公开(公告)日：2008-01-30

申请号：CN200710111994.4

申请日：2005-03-03

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻

IPC: G11B7/007 ,  G11B20/10

Abstract: 一种诸如高密度和/或光学记录介质等记录介质，以及用于对该记录介质记录和从该记录介质再现的装置和方法，以初始化、重新初始化、格式化、和/或重新格式化所述高密度和/或光学记录介质。

公开(公告)号：CN1934644A

公开(公告)日：2007-03-21

申请号：CN200580008681.5

申请日：2005-03-03

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻

IPC: G11B20/10 ,  G11B20/12 ,  G06F12/00

Abstract: 一种诸如高密度和/或光学记录介质等包括记录在上面的段信息的记录介质，以及用于向该记录介质记录或从该记录介质再现的设备和方法，用于增强数据保护、数据管理和/或再现兼容性。

公开(公告)号：CN1926624A

公开(公告)日：2007-03-07

申请号：CN200480042502.5

申请日：2004-12-30

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻

IPC: G11B20/12 ,  G11B20/10

Abstract: 一种诸如高密度和/或光学记录介质等其上包括物理访问控制(PAC)信息的记录介质，以及用于向该记录介质记录和从该记录介质再现的设备和方法，目的在于增强数据保护、数据管理和/或再现兼容性。

公开(公告)号：CN1823374A

公开(公告)日：2006-08-23

申请号：CN200480020471.3

申请日：2004-07-09

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻

IPC: G11B7/0045 ,  G11B20/12

CPC classification number: G11B20/1217 ,  G11B20/1883 ,  G11B2020/1235 ,  G11B2020/1265 ,  G11B2020/1285 ,  G11B2020/1873 ,  G11B2220/20 ,  G11B2220/218 ,  G11B2220/235 ,  G11B2220/2541

Abstract: 提供了一次写入光记录介质和用于将管理信息记录在该记录介质上的方法和装置。该记录装置至少包括一个记录层和该记录层上的SRR信息。所述SRR信息关于至少一个SRR且包括一报头、一SRR条目和一终结器。SRR条目列表包括多个SRR条目，该SRR条目的每一个关于一SRR并包括至少一个状态区域，用于将会话开始信息存储于其中。

公开(公告)号：CN1768378A

公开(公告)日：2006-05-03

申请号：CN200480008748.0

申请日：2004-02-25

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻 ,  金成大

IPC: G11B7/004 ,  G11B20/10

Abstract: 一种用于光学记录媒体的缺陷管理的方法，使用多个临时缺陷管理区域(TDMA)使缺陷管理信息可记录在诸如只写一次Blu－ray盘的光学记录媒体的指定区域，以包括在各临时缺陷管理区域中指定最后缺陷管理区域的位置的信息，以表示最近记录区域并因此包含最新的信息。缺陷管理信息记录(更新)在两个临时缺陷管理区域之一中，其中使用中盘的缺陷管理信息记录在一个TDMA中，而退出盘的缺陷管理信息记录在另一TDMA中，从而在退出该盘时记录使用中盘最后的缺陷管理信息。

公开(公告)号：CN1757071A

公开(公告)日：2006-04-05

申请号：CN200380110102.9

申请日：2003-11-27

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 朴容彻 ,  金成大

IPC: G11B20/12 ,  G06F12/10 ,  G11B7/004

Abstract: 一种在光学记录介质上记录的方法和装置，其中包括管理信息的记录，它作为一次写入蓝色激光盘的标准被描述。管理信息记录在光盘的管理区，诸如临时缺陷管理区(TDMA)中，同时包括记录状态信息和更新信息。记录状态信息是指示记录操作是否为了光盘的某一预定区域已经被执行的空间位图(SBM)，同时更新信息是指示该记录状态信息是否将被持续管理的SBM更新信息。所述SBM更新信息记录在TDMA内并且存储在光学记录/重写器件的存储器中用于在记录和重写操作中使用。在记录时，SBM－开状态使在需要时可执行逻辑重写操作。