电子设备及电子设备的控制方法

    公开(公告)号:CN104811675A

    公开(公告)日:2015-07-29

    申请号:CN201510046394.9

    申请日:2015-01-29

    CPC classification number: G01J3/2823 G01J3/26 G01J3/28 G01J3/32 G01J3/51

    Abstract: 本发明涉及电子设备及电子设备的控制方法。分光测量装置(1)具备了:波长可变干涉滤波器(5);滤波器驱动部(31),设定从波长可变干涉滤波器(5)出射的光的波长,使红色波长范围内的规定的红色光、绿色波长范围内的规定的绿色光以及蓝色波长范围内的规定的蓝色光三个色光中的至少红色光以及绿色光按规定的顺序出射;摄像元件(11),接收从波长可变干涉滤波器(5)出射的至少红色光以及绿色光,进而获取三个颜色图像中的至少红色图像以及绿色图像;以及合成图像生成部(34),使用包括已获取的至少红色图像以及绿色图像的最新的颜色图像而生成合成图像。

    照相机及图像处理方法
    53.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104754210A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201410822986.0

    申请日:2014-12-25

    Inventor: 舟本达昭

    Abstract: 本发明提供即使来自光源的光被摄像对象的表面镜面反射时,也能够取得高精度的分光图像的照相机及图像处理方法。分光分析装置(10),具备:光源部(122),向摄像对象照射光;摄像部(123),拍摄摄像对象反射的光而取得图像;像素检测单元(173),检测图像中的各像素中的反射率比在1以上的异常像素和小于1的正常像素;以及,光量校正单元(174),在包含图像的异常像素的像素区域,根据正常像素的光量算出光量校正值,将异常像素的光量替换为光量校正值,光量校正单元(174)根据位于规定距离范围内的正常像素的光量,通过多项式近似算出光量校正值。

    分光器
    54.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104541138A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201380042087.2

    申请日:2013-07-29

    Abstract: 分光器(1A)具备具有底座(4)和盖体(5)的封装体(2)、配置在底座(4)上的光学单元(10A)、以及贯通底座(4)的引线接脚(3)。光学单元(10A)具有对从盖体(5)的光入射部(6)入射的光进行分光并且反射的分光部(21)、检测由分光部(21)分光并且反射的光的光检测元件(30)、以在与分光部(21)之间形成有空间的方式支撑光检测元件(30)的支撑体(40)、从支撑体(40)突出的突出部(11)、以及与光检测元件(30)电连接的配线。突出部(11)配置在接触于底座(4)的位置。引线接脚(3)电连接于配置在突出部(11)的配线的第2端子部。

    一种高分辨率光谱仪的设计方法以及光谱仪

    公开(公告)号:CN104316182A

    公开(公告)日:2015-01-28

    申请号:CN201410626161.1

    申请日:2014-11-07

    CPC classification number: G01J3/28

    Abstract: 本发明公开了一种高分辨率光谱仪的设计方法以及光谱仪,使用凹面光栅、两个入射狭缝和一个光探测器搭建光谱仪,包括以下步骤:1)确定波长λ2和λ3的值,将整个光谱检测范围划分为两个波段范围;2)根据两个波段范围复用一个光探测器的原则,由两个入射狭缝的入射角满足的光栅方程确定两个入射角之间的关系式;3)确定得到记录结构参数和使用结构参数;4)根据所述记录结构参数确定所述凹面光栅的制作参数,得到满足应用的凹面光栅;5)根据所述使用结构参数初值确定两个入射狭缝和一个光探测器相对于所述凹面光栅的位置,从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪,能提高大部分光谱区域内的分辨率。

    一种双入射狭缝光谱仪的设计方法以及双入射狭缝光谱仪

    公开(公告)号:CN104296871A

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201410568432.2

    申请日:2014-10-22

    CPC classification number: G01J3/28

    Abstract: 本发明公开了一种双入射狭缝光谱仪的设计方法以及双入射狭缝光谱仪,使用凹面光栅、两个入射狭缝和两个光探测器搭建光谱仪,包括以下步骤:1)确定第一入射狭缝的入射角以及凹面光栅的槽型周期;2)估算凹面光栅的闪耀角,确定凹面光栅的表面材料和槽型结构;3)估算入射角范围;获取入射角度为θA1时和分布在入射角范围内的多个角度下凹面光栅的波长-衍射效率曲线;4)确定入射角θA2的值以及波长λ2和λ3的值;5)得到记录结构参数以及使用结构参数;6)确定凹面光栅的制作参数;7)确定两个入射狭缝和两个光探测器相对于凹面光栅的位置,从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪,能提高大部分光谱区域内的衍射效率。

    分光传感器的制造方法
    60.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103229029B

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201180056110.4

    申请日:2011-09-21

    Abstract: 分光传感器(1)的制造方法具备:在处理基板上通过纳米印刷法形成腔体层(21)的第1工序;在第1工序后,在腔体层(21)上形成第1镜面层(22)的第2工序;在第2工序后,在第1镜面层(22)上接合光透过基板(3)的第3工序;在第3工序后,从腔体层(21)除去处理基板的第4工序;在第4工序后,在除去了处理基板的腔体层(21)上形成第2镜面层(23)的第5工序;以及在第5工序后,在第2镜面层(23)上接合光检测基板(4)的第6工序。

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