公开(公告)号：CN107063454A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201610950713.3

申请日：2011-06-30

Applicant: 新港公司

Inventor： 杰米·纳普

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/36 ,  G02B27/10 ,  G02B27/14

CPC classification number: G02B6/2938 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  G01J2001/061 ,  G02B6/12007 ,  G02B6/29394 ,  G02B27/1006 ,  G02B27/141 ,  G02B27/145 ,  G02B2006/12109 ,  G02B2006/12164 ,  H04J14/02 ,  H04J14/0209 ,  H04Q2011/0016

Abstract: 本发明论述多路分解系统和方法，其可以是小型化的并且精确的，无需移动部件。在一些情况中，多路分解实施例可以包括滤光片腔体，所述滤光片腔体包括滤光片挡板和支撑挡板，可以配置这些挡板以最小化杂散光信号检测和串扰。多路分解组合件实施例中的一些还可以被配置用于有效地检测U.V.光信号并且至少部分地补偿随光信号波长而变的检测器响应度的变化。

公开(公告)号：CN107003244A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201580066632.0

申请日：2015-11-11

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 庄司智广 ,  盐川淳司 ,  西泽明仁 ,  加藤宏一 ,  石塚隼司

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J3/36 ,  G01J3/4406 ,  G01J2003/106 ,  G01N21/0332 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6441 ,  G01N2021/6471

Abstract: 本发明的目的是提供可迅速并可靠地识别从具有不同的荧光波长的多种荧光色素所发出的荧光的多色荧光分析装置。本发明的多色荧光分析装置(11)是检测通过激发光的照射而从试样(s)所包含的多种荧光色素所发出的荧光的多色荧光分析装置，其特征在于，具备：照射光学部(520)，其将从光源(510)所发出的光作为激发光来照射到试样(s)；荧光聚光部(530)，其具有透射从试样(s)所发出的荧光并透射与激发波长带不同的透射波长带的光的荧光滤光片(531)；以及二维检测器(554)，其具有透射预定波长的光的多种透射滤光片(556)，并对每一个透射滤光片(556)检测预定波长的光的强度，该多色荧光分析装置同时检测由多种荧光色素中的至少2种荧光色素所发出的光，并根据检测出的光的强度来识别荧光色素的种类。

公开(公告)号：CN106768339A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201611253369.9

申请日：2016-12-30

Applicant: 上海镭昊光电股份有限公司

Inventor： 郑裴中 ,  朱沛林 ,  庄向阳 ,  傅进生

IPC: G01J3/36

CPC classification number: G01J3/36

Abstract: 本发明属于光学检测设备技术领域，具体涉及一种多光谱光学性能检测仪及方法，包括升降机构、旋转机构以及多光谱平行管，所述旋转机构水平设置在所述升降机构上，所述旋转机构上设有所述多光谱平行管；所述多光谱平行管的一端部设有可变光阑，与所述可变光阑相对位置的多光谱平行管的另一端部设有共轭半透半反射镜，在所述可变光阑的侧部设有次镜，在所述共轭半透半反射镜的共轭位置分别设有目标源和探测器，在所述目标源的侧部设有主镜；本发明采用反射式的平行光管结构，采用不同光源照射，形成不同波长的平行光；同时在半透半反镜的共轭位置分别安装目标源和不同波长的探测器，通过改变不同光谱的发射能量来测试设备的灵敏度。

公开(公告)号：CN106595854A

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201611139570.4

申请日：2012-06-12

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 厄尔·詹森 ,  梅·孙 ,  凯文·奥布赖恩

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/36 ,  G01J3/12 ,  G01J1/58

CPC classification number: G01J3/0259 ,  G01J1/58 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1213 ,  G01J3/12

Abstract: 本申请涉及晶片级光谱仪。本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备，所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调，提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解：其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。

公开(公告)号：CN103493212B

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201180069801.8

申请日：2011-03-29

Applicant: 欧司朗光电半导体有限公司

Inventor： 克里斯蒂安·穆勒

IPC: H01L31/02 ,  G01J1/16 ,  G01J1/42 ,  G01J3/36 ,  G01J3/427 ,  G01J3/50

CPC classification number: G01J1/4228 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/36 ,  G01J3/427

Abstract: 本发明涉及一种单元（1），所述单元用于在入射到所述单元（1）上的由多个不同类型的光源产生的电磁辐射（2）中确定主导光源的类型。所述单元具有至少一个第一光电二极管（10），所述第一光电二极管构成为用于探测在可见光的光谱范围中的电磁辐射并且产生第一输出信号（11）。所述单元具有至少一个第二光电二极管（20），所述第二光电二极管构成为用于探测在红外光谱范围中的电磁辐射并且产生第二输出信号（21）。所述单元具有至少一个计算单元（30），所述计算单元构成为用于从所述第一输出信号（11）和所述第二输出信号（21）中导出比例的结果（23）和频率结果（13）。所述频率结果（13）说明关于存在或者不存在包含在所述电磁辐射中的在预设的频率范围中的信号分量的信息。所述单元具有至少一个评估单元（40），所述评估单元构成为用于从所述比例的结果（23）和所述频率结果（13）中导出所述主导光源的所述类型。

公开(公告)号：CN105980820A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201580007241.1

申请日：2015-02-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

Abstract: 分光器(1A)包括：光检测元件(20)，其设置有光通过部(21)、第1光检测部(22)及第2光检测部(26)；支撑体(30)，其以形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20)；第1反射部(11)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)内将通过光通过部(21)的光(L1)反射；第2反射部(12A)，其设置于光检测元件(20)，且在空间(S)内将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射；及分光部(40A)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)内将由第2反射部(12A)反射的光(L1)相对于第1光检测部(22)分光并且反射。第2光检测部(26)在包围第2反射部(12A)的区域配置有多个。

公开(公告)号：CN105814417A

公开(公告)日：2016-07-27

申请号：CN201480068015.X

申请日：2014-09-17

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 寺冈良隆 ,  鹤谷克敏 ,  山口亘

IPC: G01J3/36 ,  G01J3/26 ,  G02B5/28

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/0221 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/12 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/30 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1234 ,  G01J2003/1243 ,  G02B5/28 ,  G02B26/001

Abstract: 本发明涉及分光单元以及使用该分光单元的分光装置。本发明的分光单元以及分光装置具备从被测定光的入射侧向出射侧按顺序配置的多个滤光片元件，具有与沿着第一方向的入射位置对应而具有不同透射波长的滤光片，通过使上述多个滤光片元件中的一个第一滤光片元件将分别与上述第一方向以及从上述入射侧朝向射出侧的第二方向分别正交的第三方向作为旋转轴旋转规定的角度，或者将上述第一方向作为旋转轴旋转规定的角度，从而使上述第一滤光片元件相对于与该第一滤光片元件邻接配置的第二滤光片元件被倾斜地配置。

公开(公告)号：CN105651383A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201510973717.9

申请日：2015-11-05

Applicant: 马克西姆综合产品公司

Inventor： C·F·爱德华兹 ,  D·G·阿伦 ,  C-W·裴 ,  T·K·麦圭尔 ,  J·T·琼斯 ,  N·D·凯尔尼斯

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/12

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/429 ,  G01J3/36 ,  G01J2001/4266 ,  G01J2003/2806 ,  G01J3/28 ,  G01J3/12 ,  G01J2003/1213

Abstract: 本公开内容描述了一种被配置为检测目标UV光谱(例如，UVB光谱)的紫外线(UV)传感器。所述UV传感器包括具有第一UV光谱响应的第一光电二极管和具有第二UV光谱响应的第二光电二极管。具有分级光谱响应的滤波器层形成于所述第二光电二极管之上，并且所述第二UV光谱响应受到所述滤波器层的受控参数(例如，厚度)的影响。所述UV传感器还包括与所述第一光电二极管和所述第二光电二极管耦合的减法电路。所述减法电路被配置为基于所述第一UV光谱响应与所述第二UV光谱响应之间的差来提供差分响应。所述滤波器层的受控参数可以被选择为使得所述差分响应提供所述目标光谱的所检测的光谱响应。

公开(公告)号：CN104272070B

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201380023137.2

申请日：2013-05-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 笠原隆 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/36 ,  G01J3/45

Abstract: 分光传感器(1A)包括：具有腔层(21)以及第1和第2镜层(22、23)的干涉滤光部(20A)；以及具有透过了干涉滤光部(20A)的光进行入射的受光面(32a)的光检测基板(30)。干涉滤光部(20A)包括与受光面(32a)对应的第1滤光区域(24)和包围第1滤光区域(24)的环状的第2滤光区域(25)。第1滤光区域(24)中，第1镜层(22)和第2镜层(23)之间的距离变化，第2滤光区域(25)中，第1镜层(22)和第2镜层(23)之间的距离固定。

公开(公告)号：CN105122038A

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201480005289.4

申请日：2014-01-10

Applicant: 探测器电子公司

Inventor： L.卢 ,  J.金

IPC: G01N21/3504 ,  G01J3/36 ,  G01J3/42 ,  G01N33/00 ,  G01N21/359 ,  G01N21/39

CPC classification number: G01J3/36 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/423 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/359 ,  G01N21/39 ,  G01N33/0031 ,  G01N2021/3513

Abstract: 在实施方式中，公开了一种开路式气体检测器，其可包括成像或非成像光学组件。所述检测器可包括组件，其允许大约1的由所述检测器接收的辐射的对准误差而不引起假警报。在实施方式中，所述检测器可包括分束器或波分多路复用滤波器，其允许由所述检测器接收的所述辐射的更多由传感器来检测。