功率计校准方法、装置、设备、存储介质和程序产品

    公开(公告)号:CN118149963A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410296972.3

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本申请涉及一种功率计校准方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:针对同一功率设备,在功率设备的功率参数不变的情况下,获取标准功率计采集得到的标准功率值、以及目标功率计采集得到的测量功率值;基于多个功率参数各自对应的标准功率值和测量功率值,对标准功率和测量功率进行差异分析,确定标准功率和测量功率的关联关系;根据关联关系对目标功率计进行功率值校准。采用本方法能够提高功率计校准的准确性。

    一种产品照度检测工装
    52.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118130453A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410127949.1

    申请日:2024-01-30

    Abstract: 本发明属于照度检测技术领域,具体涉及一种产品照度检测工装。该工装包括主框架和照度测量组件;主框架包括导轨及两个支撑臂,导轨横向延伸且设于饮料柜前方,两个支撑臂的一端分别连接于饮料柜左右侧壁上,另一端分别经一调节装置与导轨连接;照度测量组件包括滑座及其上的照度测量仪、第一激光器及第二激光器;滑座与导轨滑动连接;第一激光器中心与照度测量仪中心位于同一竖直面内;第二激光器中心与照度测量仪中心等高。本发明利用调节装置调整导轨位置以精确控制照度测量仪距柜门玻璃面的距离,借助第一激光器和第二激光器使照度测量仪准确且快速对中待测产品中心,进而显著提高饮料柜内产品照度检测的准确度。

    一种光照度传感器
    53.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118111555A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410203203.4

    申请日:2024-02-23

    Inventor: 冯军 曾红 刘必成

    Abstract: 本发明公开了一种光照度传感器,采用若干个光敏器件组成组成多圈层传感器阵列结构结合不同圈层桶状结构的遮光结构,且反射率不一样,通过对不同位置的光敏器件测量得到的参数值,可对被测量区域光线中的直射光线、漫反射光线特征值做出区分和测量,展示光照度变化曲线以及对未来变化趋势做预估,且能够通过电力线传输到远端服务器或数据采集器;通过自带的自标定光源,实现对光照度传感器的标定和自校准,补偿各种外部因素导致的测量结果不准确。

    一种基于温度补偿的光功率计及其测量方法

    公开(公告)号:CN118050075A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202310402055.4

    申请日:2023-04-17

    Applicant: 蚌埠学院

    Abstract: 本发明提供一种基于温度补偿的光功率计及其测量方法,包括光电探测单元、I/V转换单元、逻辑控制单元和微控制器单元,通过增加一组光电二极管,让其中一个光电二极管只产生暗电流,然后使用各级放大电路,分别将两个光电二极管产生的电流值转化成电压值并进行放大后分别送入微控制器单元,经过处理后,利用计算差值的方法,能够有效消除光功率计在进行测量时产生的暗电流和放大电路的温漂噪声问题,从而得到接收光功率的准确功率值,克服了传统光功率计中的工作温度限制,提高了功率计的稳定性和准确性,与目前光功率计温度补偿方法相比,本发明简化了硬件电路设计,克服了繁琐的温度标定,且实现方式简单,据此实现的光功率计稳定可靠。

    一种自动化测量光通量和光的均匀性的方法

    公开(公告)号:CN118032301A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410422780.2

    申请日:2024-02-22

    Abstract: 本发明创造涉及一种自动化测量光通量和光的均匀性的方法,包括有控制处理中心和光照测试平台,光照测试平台上相对地设置有Y轴导轨,两Y导轨之间设置有X轴导轨,光照测试平台上设置有Y轴伺服电机和X轴伺服电机,控制处理中心通过Y轴伺服电机用于驱动X轴导轨沿着Y导轨长度方向移动,X轴导轨上活动设置有光学测量探测仪,控制处理中心通过X轴伺服电机驱动光学测量探测仪沿X轴导轨的长度方向移动,控制处理中心用于接收并处理光学测量探测仪反馈的光学参数数据,相比于现有技术,本发明的测量方法效率更高,其具有能精准选点测量、处理数据方便快捷、结果反应直观以及自动存储的优点,这为灯具的生产实验以及品控测量都带来很大的方便性。

    一种太阳直接辐射测量装置

    公开(公告)号:CN117848490B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410258974.3

    申请日:2024-03-07

    Abstract: 本发明公开了一种太阳直接辐射测量装置,包括立柱和辐射测量器,所述辐射测量器上设置有光筒,所述立柱的顶部和悬臂的一端转动连接,所述悬臂的顶部固定连接有靠近中部的支板,该支板的顶部和托杆的一端上下转动连接,所述托杆和悬臂在同一平面内,所述托杆的一侧和光筒的外周壁固定连接,所述光筒和托杆平行,所述光筒的外周壁设置有两个相对光筒口部对称的卷筒,该卷筒内转动连接有卷绕辊,两个所述卷筒内的卷绕辊共同卷绕有一个透光膜。本发明中,通过在光筒的口部安装透光膜,透光膜能有效阻挡异物进入光筒内,太阳直接辐射穿透透光膜后进入光筒内,辐射测量器能对太阳直射光进行直接测量,具有提高测量精准度的优点。

    一种环境光消除电路及消除方法
    57.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117990209A

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202410404569.8

    申请日:2024-04-07

    Inventor: 卢泽垚 陈建球

    Abstract: 本发明揭示了一种环境光消除电路及消除方法,所述环境光消除电路包括光源采集模块、电流处理模块、积分模块和采样保持电路;光源采集模块用于对目标光和环境光进行采集,并转化成电流信号;电流处理模块用于对电流信号进行处理;积分模块用于对处理后的电流信号进行积分,得到表征光源采集模块采集的相关光的积分电压,并输出由积分电压获得的差分电压;采样保持电路对差分电压保持并输出。本发明能够减弱环境光的影响,使检测到的数据更加真实,还能够提升检测精度。

    一种可旋转激光功率计
    58.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117664323B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202410131834.X

    申请日:2024-01-31

    Inventor: 周其 梁志康 邹洋

    Abstract: 本发明公开了一种可旋转激光功率计,包括机体、衰减片、第一磁性件、磁敏传感器和安装架,安装架连接设置有旋转卡柱,连接件周向设置有旋转卡槽,旋转卡槽与旋转卡柱卡接,当旋转安装架时,旋转卡柱跟随安装架旋转,旋转至连接件上的旋转卡槽,与之卡接,旋转卡槽和旋转卡柱的设置使得安装架相对于机体可转动连接;衰减片能于第一位置和第二位置之间移动,获取衰减片的位置信息,激光功率计可以根据所测得的位置信息进行相应的调整和计算,从而实现对不同角度下的激光功率的测量和控制,使得激光功率计能够工作并提供准确的光率测量结果。

    空间低温绝对辐射计间接比对方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN117906753A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202311848467.7

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明涉及光学工程技术领域,具体提供一种空间低温绝对辐射计间接比对方法、计算机设备以及计算机可读存储介质;空间低温绝对辐射计间接比对方法包括步骤:S1:建立比对光源;S2:在低功率下,使用陷阱探测器分时测量同一入射激光的反射光与入射光,建立反射光与入射光的相对关系ρ;不断改变入射激光的功率,实时监视反射光信号,得到宽动态范围的辐射功率基准;S3:使用空间低温绝对辐射计测量同一入射激光的辐射功率,将测量得到的辐射功率与辐射功率比较,实现空间低温绝对辐射计的间接比对;本发明解决了现有技术仅能在1mW的功率下进行间接比对,无法满足不同应用场景下空间遥感仪器的辐射定标的技术问题。

    一种太阳直接辐射测量装置

    公开(公告)号:CN117848490A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202410258974.3

    申请日:2024-03-07

    Abstract: 本发明公开了一种太阳直接辐射测量装置,包括立柱和辐射测量器,所述辐射测量器上设置有光筒,所述立柱的顶部和悬臂的一端转动连接,所述悬臂的顶部固定连接有靠近中部的支板,该支板的顶部和托杆的一端上下转动连接,所述托杆和悬臂在同一平面内,所述托杆的一侧和光筒的外周壁固定连接,所述光筒和托杆平行,所述光筒的外周壁设置有两个相对光筒口部对称的卷筒,该卷筒内转动连接有卷绕辊,两个所述卷筒内的卷绕辊共同卷绕有一个透光膜。本发明中,通过在光筒的口部安装透光膜,透光膜能有效阻挡异物进入光筒内,太阳直接辐射穿透透光膜后进入光筒内,辐射测量器能对太阳直射光进行直接测量,具有提高测量精准度的优点。

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